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test headの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 565件
CONNECTION MECHANISM OF TEST HEAD例文帳に追加
テストヘッドの接続機構 - 特許庁
TEST HEAD FOR TESTING DEVICE例文帳に追加
試験装置用テストヘッド - 特許庁
MAGNETIC STORAGE APPARATUS, HEAD TEST METHOD, HEAD TEST APPARATUS例文帳に追加
磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置 - 特許庁
POSITIONING APPARATUS FOR TEST HEAD例文帳に追加
テストヘッドの位置決め装置 - 特許庁
TEST HEAD FOR SEMICONDUCTOR TESTER例文帳に追加
半導体テスタ用テストヘッド - 特許庁
TEST BOARD AND STRUCTURE FOR ATTACHING TEST BOARD TO TEST HEAD例文帳に追加
テストボード、およびテストボードのテストヘッドへの取付構造 - 特許庁
TEST HEAD OF TEST SOCKET AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加
テストソケットのテストヘッドとその製造方法 - 特許庁
TEST HEAD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置のテストヘッド - 特許庁
PROBE TEST HEAD STRUCTURE OF PROBE CARD例文帳に追加
プローブカードのプローブテストヘッド構造 - 特許庁
ENDURANCE TEST APPARATUS FOR GOLF CLUB HEAD, ENDURANCE TEST METHOD FOR GOLF CLUB HEAD, AND ENDURANCE TEST PROGRAM FOR GOLF CLUB HEAD例文帳に追加
ゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラム - 特許庁
TRANSMISSION SYSTEM, RECEIVER, TEST APPARATUS, AND TEST HEAD例文帳に追加
伝送システム、受信装置、試験装置、及びテストヘッド - 特許庁
TEST HEAD AND POSITIONING TEMPLATE例文帳に追加
テストヘッド及び位置決め用テンプレート - 特許庁
TEST HEAD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置用テストヘッド - 特許庁
TEST HEAD FOR CIRCUIT BOARD INSPECTION APPARATUS例文帳に追加
回路基板検査装置のテストヘッド - 特許庁
TERMINATING CIRCUIT, TEST INSTRUMENT, TEST HEAD AND COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加
終端回路、試験装置、テストヘッド、及び通信デバイス - 特許庁
TEST SECTION UNIT, TEST HEAD, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加
テスト部ユニット、テストヘッドおよび電子部品試験装置 - 特許庁
DISK STORAGE, HEAD AMPLIFIER, AND HEAD TEST METHOD例文帳に追加
ディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法 - 特許庁
HEAD PART IMPACTOR FOR PEDESTRIAN PROTECTION TEST例文帳に追加
歩行者保護試験用頭部インパクタ - 特許庁
IMPACTOR HEAD SKIN FOR PEDESTRIAN PROTECTION TEST例文帳に追加
歩行者保護試験用インパクタヘッドスキン - 特許庁
CONNECTION MECHANISM BETWEEN LOW TEMPERATURE HANDLER AND TEST HEAD例文帳に追加
低温ハンドラとテストヘッドの接続機構 - 特許庁
TEST HEAD FOR OPTICALLY INSPECTING WORKPIECE例文帳に追加
ワークピースを光学的に検査するテストヘッド - 特許庁
HANDLING ROBOT OF MAGNETIC HEAD ASSEMBLY, MAGNETIC HEAD TEST METHOD AND MAGNETIC HEAD TESTER例文帳に追加
磁気ヘッドアッセンブリのハンドリングロボット,磁気ヘッド検査方法および検査装置 - 特許庁
The connector 1 for a test head is so arranged to carry a test head 3 of an IC tester for connecting the test head to a testing part of an automatic handler.例文帳に追加
ICテスタのテストヘッド3を搭載し、該テストヘッドをオートハンドラのテスト部に接続するテストヘッドの接続装置1である。 - 特許庁
To provide a test head where a base unit is slidably mounted to a test head body from the directions of both the sides of the test head body.例文帳に追加
ベースユニットを、テストヘッド本体の両側方向からスライド可能にして、テストヘッド本体に搭載することができるテストヘッドを実現する。 - 特許庁
Test engraving is performed and the image of a test cell is picked up using an image pickup head 5.例文帳に追加
テスト彫刻を行い、テストセルを撮像ヘッド5で撮像する。 - 特許庁
HEATING TEST DEVICE OF THIN FILM MAGNETIC HEAD AND HEATING TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
薄膜磁気ヘッドの加熱試験装置及びその加熱試験方法 - 特許庁
To test the performance of a light emitting element array head.例文帳に追加
発光素子アレーヘッドの性能を試験する。 - 特許庁
To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.例文帳に追加
テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁
Thereby, the head test time can be shortened by performing the head selection test.例文帳に追加
これによって、ヘッド・セレクション・テストを実行することで、ヘッド・テスト時間を短縮することができる。 - 特許庁
To control a docking position of a test head by a plurality of position limit switches provided on the test head.例文帳に追加
テストヘッドのドッキング位置をテストヘッドに設けられた複数のポジションリミットスイッチで制御する。 - 特許庁
To prevent failure of a test sample by accurately scanning a test head on the surface of the test sample.例文帳に追加
検査ヘッドを検査試料の表面に正確に走査させて、検査試料の破損を防止する。 - 特許庁
To provide a test board to be mounted on a test head while facilitating preservation and a structure for attaching the test board to the test head.例文帳に追加
本発明の課題は、テストヘッドに搭載されるテストボードの保管を行い易いデテストボード、およびテストボードのテストヘッドへの取付構造を提供すること。 - 特許庁
RECORDING SYSTEM AND ENDURANCE TEST SYSTEM FOR RECORDING HEAD例文帳に追加
記録システム及び記録ヘッドの耐久試験システム - 特許庁
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