「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(137ページ目) - Weblio英語例文検索

Each testing measuring apparatus triggers taking in response to a hub event received from the hub.例文帳に追加

各試験測定機器は、ハブから受けたハブ・イベントに応答して取り込みをトリガする。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT FOR PERFORMING BURN-IN TEST OF AC STRESS AND TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

交流ストレスのバーンインテスト可能な集積回路及びこれを用いたテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING SELF-TEST FUNCTION AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法 - 特許庁

To prevent damage of a semiconductor device and a testing apparatus therefor during burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験時の半導体装置及びその試験装置の損傷を回避する。 - 特許庁

An environmental testing device 100 includes a dew condensation detector 8 and a regulator 4.例文帳に追加

環境試験装置１００は、結露検出器８と調節器４を有している。 - 特許庁

To provide a testing device which is capable of efficiently programming a configuration of a programmable circuit.例文帳に追加

プログラマブル回路の構成を効率よくプログラムできる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transformation automation client control service testing device, and a method of the same.例文帳に追加

変電自動化クライアント制御サービス試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A microbiological testing chip 10 comprises a main body 15 and a bacteria detection part 17.例文帳に追加

微生物検査チップ１０は、本体１５と菌体検出部１７とを有する。 - 特許庁

The body 5 of which corrosion is tested is inserted into the thermohygrostat bath 1 for testing corrosion.例文帳に追加

被腐食試験体５を恒温恒湿槽１に挿入して腐食試験をする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, AND TYPE-SWITCHING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE FOR THE DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置及び該装置における半導体デバイスの品種切替方法 - 特許庁

MOVABLE STAGE FOR PLACING TEST PIECE, CIRCUIT PATTERN MANUFACTURING APPARATUS, AND CIRCUIT PATTERN TESTING DEVICE例文帳に追加

試料載置用可動ステージ、回路パターンの製造装置、及び回路パターンの検査装置 - 特許庁

To provide an IC tester capable of testing in a short time.例文帳に追加

短時間に試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND METHOD FOR TESTING STABILITY OF MEMORY CELL IN MEMORY DEVICE例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルの安定性をテストするためのデータ処理装置および方法 - 特許庁

After that, the primality of the remaining prime candidates is tested using the primality testing unit.例文帳に追加

その後、残りの素数候補は素数性判定テストユニットを使用してテストされる。 - 特許庁

The performance information 2a is outputted as the result of execution of the automatic unit testing.例文帳に追加

自動単体試験実施の結果として、性能情報２ａが出力される。 - 特許庁

To provide a transformer testing device of high operational speed and simple circuit configuration.例文帳に追加

動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。 - 特許庁

CMIP PROTOCOL TEST AUTOMATING DEVICE AND CMIP PROTOCOL TESTING METHOD例文帳に追加

ＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置及びそれに用いるＣＭＩＰプロトコル試験方法 - 特許庁

ON-CHIP MODULE, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTERCONNECTION BETWEEN ON-CHIP MODULES例文帳に追加

オンチップモジュ—ルおよびオンチップモジュ—ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 - 特許庁

METHOD FOR FITTING SPRING ELEMENT ONTO SEMICONDUCTOR DEVICE AND FOR TESTING WAFER LEVEL例文帳に追加

半導体デバイス上へのばね要素の取り付け、及びウエハレベルのテストを行う方法 - 特許庁

To obtain a function for self-calibrating and testing QPSK transmitter/receiver integrated circuit.例文帳に追加

ＱＰＳＫ送信器／受信器集積回路を自己校正、試験する機能を得る。 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT HANDLER AND ITS OPERATION METHOD, AND TESTING TRAY AND PUSHER例文帳に追加

電子部品ハンドリング装置およびその運用方法、ならびに試験用トレイおよびプッシャ - 特許庁

MICROFLUID DEVICE, BIOLOGICAL MATTER TESTING APPARATUS, AND MICROCHEMICAL REACTOR例文帳に追加

マイクロ流体デバイスおよびこれを用いた生体物質検査装置とマイクロ化学リアクター - 特許庁

To provide a technique for effectively testing and transporting IC chips with a carrier tape.例文帳に追加

搬送テープでＩＣチップの試験及び輸送を効果的に行う手法の提供。 - 特許庁

To provide a test assembly (2000) for testing product circuitry (202, 302, 304) of a product die (2011, 300).例文帳に追加

製品ダイ(2011,300)の製品回路(202,302,304)をテストするためのテストアセンブリ(2000)を提供すること。 - 特許庁

CONTROLLING METHOD AND APPARATUS FOR PROBE-TIP SANDING OF SEMICONDUCTOR-ELEMENT TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体素子テスト装置のプローブチップサンディング制御方法及びサンディング制御装置 - 特許庁

INTERFACE CIRCUIT, AND TESTING METHOD AND DEBUGGING METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

インターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING SELF-TESTING CIRCUIT, AND METHOD FOR DIAGNOSING FAULT IN THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己テスト回路内蔵の半導体集積回路およびその故障診断方法 - 特許庁

MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTER ACCESS GENERATOR AND MOVING IMAGE DISTRIBUTION SERVER TESTING METHOD例文帳に追加

動画配信サーバ試験用アクセス発生装置及び動画配信サーバ試験方法 - 特許庁

To provide a new nucleic acid and a method, etc., for testing canceration using the nucleic acid.例文帳に追加

新規な核酸及び該核酸を用いた癌化検定方法等を提供する。 - 特許庁

Testing IPv6 Support After enabling the recommended options, recompile your kernel and reboot into your new IPv6-enabled kernel.例文帳に追加

(IPv6-IPv4変換用にptrd（後述）を使うのであれば、このオプションだけで十分です) - Gentoo Linux

Testing an asynchronous process requires a client that is capable of receiving an asynchronous callback. 例文帳に追加

非同期プロセスのテストには、非同期コールバックを受信できるクライアントが必要です。 - NetBeans

The project includes WSDL and XML schema files, and input files for testing. 例文帳に追加

このプロジェクトには、WSDL ファイル、XML スキーマファイル、およびテスト用の入力ファイルが含まれます。 - NetBeans

TAPE FOR AMMONIA LEAKAGE TEST USING THIN THICKNESS STACKING TAPE, AND LEAKAGE TESTING METHOD例文帳に追加

薄厚積重テープを用いたアンモニア漏れ試験用テープ及び漏れ試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING FOR PRESENCE OF MICROORGANISM IN GASEOUS ENVIRONMENT CONTAINING HYDROGEN PEROXIDE例文帳に追加

過酸化水素を含有する気体環境中の微生物の存在の試験方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, ITS TESTING METHOD, DATABASE FOR ITS DESIGN, AND ITS DESIGNING METHOD例文帳に追加

集積回路装置，そのテスト方法，その設計用データベース及びその設計方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, METHOD OF CONTROLLING WAVELENGTH-TUNABLE LASER, AND LASER DEVICE例文帳に追加

波長可変レーザの試験方法、波長可変レーザの制御方法およびレーザ装置 - 特許庁

HUMIDIFICATION SYSTEM AND PERFORMANCE TESTING DEVICE OF ELECTROLYTE MEMBRANE FOR FUEL CELL USING IT例文帳に追加

加湿システム及びそれを用いた燃料電池用電解質膜の性能試験装置 - 特許庁

To provide a pogo pin and a contactor for semiconductor element testing that is equipped with the pogo pin.例文帳に追加

ポゴピン及びそのポゴピンを備える半導体素子テスト用コンタクターを提供する。 - 特許庁

(ii) When the Accredited Testing Laboratory Operator received the Accreditation of Paragraph 1 of Article 57 by wrongful means. 例文帳に追加

二　不正の手段により第五十七条第一項の登録を受けたとき。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

MEASURING DEVICE, BIOLOGICAL TESTING DEVICE, FLOW VELOCITY MEASURING METHOD, AND PRESSURE MEASURING METHOD例文帳に追加

測定装置、生体検査装置、流速測定方法、および圧力測定方法 - 特許庁

The improved IC tester for testing an object under test is provided.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This IC tester for testing devices under test is an improved one.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing a tested object.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To highly accurately acquire dynamic characteristics of a bearing in a bearing testing apparatus.例文帳に追加

軸受試験装置において、軸受の動特性を高精度に取得可能とする。 - 特許庁

EX-VITO TEST KIT FOR TESTING EFFECTIVENESS OF REVERSER OF MULTIDRUG RESISTANCE例文帳に追加

多重薬剤耐性リバーサーの効果を検査するためのｅｘ−ｖｉｖｏ検査キット - 特許庁