Test sidesとは 意味・読み方・使い方

A plurality of ultrasonic transmitting parts 21 and a plurality of ultrasonic receiving parts 22 are provided to two opposed sides of the sacrifice test piece 11.例文帳に追加

犠牲試験片１１の対向する２つの辺には超音波の発信部２１と受信部２２が互いに対向させて複数個装着されている。 - 特許庁

Thus, during the fatigue test, the cell arrays CA, CA of both sides of the sense amplifier 11 are simultaneously operated.例文帳に追加

これにより、ファティーグ試験時には、センスアンプ１１の両側のセルアレイＣＡ，ＣＡが同時に動作される構成とされている。 - 特許庁

The test device includes storage sections 21, 22 at both the sides of the microchannel 11, and an oscillator 28 is stuck to the storage section 21.例文帳に追加

微細流路１１の両側に貯留部２１，２２を有し、貯留部２１には振動子２８が貼着されている。 - 特許庁

Two neighboring liquid crystal driver chips 14, 14 mounted on a TCP11 are arranged, and input lead 15 sides or output lead 16 sides are made to face each other, and input test terminals 17 or output test terminals 18 are made in common.例文帳に追加

ＴＣＰ１１に搭載された隣接する２つの液晶ドライバチップ１４,１４は、入力リード１５側または出力リード１６側を対向させて配置し、入力テスト端子１７または出力テスト端子１８を共通にしている。 - 特許庁

A test execution part 100 compares the state transition information based on the design information provided by a test scenario and the state transition information analyzed by the state analysis part 40, and outputs difference between two sides.例文帳に追加

試験実行部１００は、試験シナリオによって提供される設計情報に基づく状態遷移情報と、状態解析部４０が解析した状態遷移情報を比較し、両者の異同を出力する。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

When a test object to be vibrated Tp on a plane is tested, for instance, vibration units 1A and 1B are tightened on right and left sides of the test object to be vibrated Tp to be controlled under the vibration control part 4 to generate composition vibration such as reciprocation, rotation, compression, tension and torsion on the test object Tp so as to be tested.例文帳に追加

平面上の被振動試験物Ｔｐを検査する場合は、例えば、被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結して振動制御部４の下に制御し、その被振動試験物Ｔｐに往復、回転、圧縮、引っ張り、捩り等の合成振動を発生させて試験する。 - 特許庁

Only connecting pads 3 are collectively arranged on each of the adjacent sides of semiconductor chips 1 and 2; and the input/output interface circuits 5, test pads 6, and external connecting pads 7 are arranged along the other three sides of the chips 1 and 2.例文帳に追加

各半導体チップ１，２の互いに隣接する１辺には、接続用パッド３のみが集まって配置されており、残りの他の３辺に沿って入出力インターフェース回路５や、テスト用パッド６、外部接続用パッド７が配置されている。 - 特許庁