「Test sides」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

The test device includes storage sections 21, 22 at both the sides of the microchannel 11, and an oscillator 28 is stuck to the storage section 21.例文帳に追加

微細流路１１の両側に貯留部２１，２２を有し、貯留部２１には振動子２８が貼着されている。 - 特許庁

Thus, during the fatigue test, the cell arrays CA, CA of both sides of the sense amplifier 11 are simultaneously operated.例文帳に追加

これにより、ファティーグ試験時には、センスアンプ１１の両側のセルアレイＣＡ，ＣＡが同時に動作される構成とされている。 - 特許庁

Two neighboring liquid crystal driver chips 14, 14 mounted on a TCP11 are arranged, and input lead 15 sides or output lead 16 sides are made to face each other, and input test terminals 17 or output test terminals 18 are made in common.例文帳に追加

ＴＣＰ１１に搭載された隣接する２つの液晶ドライバチップ１４,１４は、入力リード１５側または出力リード１６側を対向させて配置し、入力テスト端子１７または出力テスト端子１８を共通にしている。 - 特許庁

An automatic grip chuck device 4 with a ruptured sample removal function of this invention comprises upper, lower automatic grip chuck parts 4A, 4B for gripping automatically and respectively both end sides of the test sample 12 performed tensile test and for performing the tensile test of the test sample 12.例文帳に追加

本発明の破断サンプル除去機能付き自動把持チャック装置４は、引張り試験を行う試験サンプル１２の両端側をそれぞれ自動的に把持するとともに、該試験サンプル１２の引張り試験を行うための上部，下部自動把持チャック部４Ａ，４Ｂを備えている。 - 特許庁

The test device 1 has a feedback loop where a signal of a node N13 on the output side of the multiplexer MUX1 is inputted into a test signal generating section 6 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX1 via a test signal generating section 6.例文帳に追加

マルチプレクサＭＵＸ１の出力側のノードＮ１３の信号が試験回路５のテスト信号発生部６に入力され、その信号がテスト信号発生部６を介してマルチプレクサＭＵＸ１の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

The difference in tension ΔT_+, ΔT_- of the web 11 between the upstream and downstream sides of the test roller 17 is measured by tension pickups 15a, 15b.例文帳に追加

そして、このときのテストローラ１７上下流におけるウエブ１１のテンション差ΔＴ_＋、ΔＴ_−をテンションピックアップ１５ａ、１５ｂで測定する。 - 特許庁

A test execution part 100 compares the state transition information based on the design information provided by a test scenario and the state transition information analyzed by the state analysis part 40, and outputs difference between two sides.例文帳に追加

試験実行部１００は、試験シナリオによって提供される設計情報に基づく状態遷移情報と、状態解析部４０が解析した状態遷移情報を比較し、両者の異同を出力する。 - 特許庁

A concrete test piece 12 is immersed in a water tank 14 containing pure water, and an anode plate 22 and a cathode plate 24 are positioned on both sides thereof.例文帳に追加

純水を収容する水槽１４にコンクリート試験片１２を浸漬し、その両側に陽極側電極板２２および陰極側電極板２４を配設する。 - 特許庁

The coil is provided on inner and outer sides across a cylindrical part 13a of the driving body 13, and inner and outer coils 14 and 15 increase the excitation torque on the test specimen 20.例文帳に追加

コイルは、駆動体１３の円筒部１３ａを挟んで内、外側に設け、その内、外側コイル１４，１５は供試体２０への加振トルクを高める。 - 特許庁

A plurality of ultrasonic transmitting parts 21 and a plurality of ultrasonic receiving parts 22 are provided to two opposed sides of the sacrifice test piece 11.例文帳に追加

犠牲試験片１１の対向する２つの辺には超音波の発信部２１と受信部２２が互いに対向させて複数個装着されている。 - 特許庁

To provide an analysis method of optical path characteristics, a test system of an optical path, and a monitoring system of an optical path test, capable of highly precisely evaluating losses at optical path connections even by optical pulse testing from one-end sides.例文帳に追加

片側端からの光パルス試験でも光線路の接続点の損失を高精度で評価することができる光線路特性の解析方法及び光線路試験システム及び光線路試験監視システムを提供する。 - 特許庁

When a test object to be vibrated Tp on a plane is tested, for instance, vibration units 1A and 1B are tightened on right and left sides of the test object to be vibrated Tp to be controlled under the vibration control part 4 to generate composition vibration such as reciprocation, rotation, compression, tension and torsion on the test object Tp so as to be tested.例文帳に追加

平面上の被振動試験物Ｔｐを検査する場合は、例えば、被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結して振動制御部４の下に制御し、その被振動試験物Ｔｐに往復、回転、圧縮、引っ張り、捩り等の合成振動を発生させて試験する。 - 特許庁

An adjuster 25 as a support tool 13 for vibration test for supporting the electric wire 12 or the like in an environment chamber 11 from both sides is installed at, for example, the upper and lower ends of a frame part 23.例文帳に追加

環境槽１１内で電線１２等を両持ち支持する振動試験用支持治具１３として、フレーム部２３の例えば上下端にアジャスタ２５を設置する。 - 特許庁

A plurality of test terminals Ta to Tf are formed in a substantially rectangular shape, such that respective widths thereof increase toward respective one sides from respective ends of the plurality of wiring patterns 12a to 12f.例文帳に追加

複数のテスト端子Ｔａ〜Ｔｆは、複数の配線パターン１２ａ〜１２ｆの端部から一方の側方に幅広となるように略矩形状に形成される。 - 特許庁

Test addition circuits 2, 3, 4, 5 are connected opposite to subscriber circuits 6, 7, 8, 9 by using two analog wires 10 to analog input sides of the subscriber circuits.例文帳に追加

加入者回路６，７，８，９のアナログ入力側には、アナログ線路である２線１０によりそれぞれ試験用付加回路２，３，４，５が対向されて接続されている。 - 特許庁

Only connecting pads 3 are collectively arranged on each of the adjacent sides of semiconductor chips 1 and 2; and the input/output interface circuits 5, test pads 6, and external connecting pads 7 are arranged along the other three sides of the chips 1 and 2.例文帳に追加

各半導体チップ１，２の互いに隣接する１辺には、接続用パッド３のみが集まって配置されており、残りの他の３辺に沿って入出力インターフェース回路５や、テスト用パッド６、外部接続用パッド７が配置されている。 - 特許庁

The test device 1 also has a feedback loop where a signal of a node N21 on the output side of the multiplexer MUX2 is inputted into a determination circuit section 7 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX2 via the determination circuit section 7.例文帳に追加

また、マルチプレクサＭＵＸ２の出力側のノードＮ２１の信号が試験回路５の判定回路部７に入力され、その信号が判定回路部７を介してマルチプレクサＭＵＸ２の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

In this part tester, tray storing areas Sa1, Sa2 (tray placing part) are provided on the both sides of a test head 4 for carrying out a test, and the respective storing areas Sa1, Sa2 are provided with first to fourth tray storing parts 11 to 14 for placing parts storing trays Tr.例文帳に追加

試験を実施するテストヘッド４の両側にトレイ収納領域Ｓａ１，Ｓａ２（トレイ載置部）が設けられ、各収納領域Ｓａ１，Ｓａ２に部品収納用のトレイＴｒを載置する第１〜第４のトレイ収納部１１〜１４が夫々設けられている。 - 特許庁

Contact levers TL1 configurating measurement levers for measuring the elongation of the test piece TP are oscillatably held on a spindle S1 for clamping the test piece TP from its both sides and elastically abutting thereon, and a tension spring SP is hung between both contact levers.例文帳に追加

試験片ＴＰの伸びを計測する計測レバーを構成する接触レバーＴＬ１は、試験片ＴＰを両側から挟持して弾接するよう支軸Ｓ１に対して揺動自在に保持するとともに、両接触レバー間には引張バネＳＰを張架する。 - 特許庁

To provide a double-sided copper-clad laminate in which a continuity test which impresses voltage to double sides is performed easily and exactly even if the laminate is thin, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

薄型化に際しても両面に電圧を印加しての導通試験を容易、かつ的確に行うことのできる両面銅張り積層板とその製造方法を提供する。 - 特許庁

This convenient instrument is equipped with a test liquid container for the liquid requiring chromaticity determination in center and a reference liquid container for reference liquid to be supplied for chromaticity determination on both sides.例文帳に追加

色度判定を要する液体用の検体液容器を中央に色度判定に供する基準液用の基準液容器をその両側に備えている簡便な器具である。 - 特許庁

A print circuit board 7 and a test tray 5 on which a semiconductor device 1 is mounted, are sandwiched by a rubber 11 and a pressing tool 12, and a pressure is applied from both sides, whereby a lead terminal of the semiconductor device 1 contacts with a pad 6 of the test tray 5 and a pad 10 of the print circuit board 7 respectively.例文帳に追加

１１のゴムと１２のプレス用治具で１の半導体デバイスが搭載された５のテストトレーと７のプリント基板を挟み込み両側から圧力をかける事により１の半導体デバイスのリード端子が５のテストトレーの６のパッドと７のプリント基板の１０のパッドに夫々接触する。 - 特許庁

To reduce return difficulty of a crimping part shape after a thermal shock test, and effectively improve a contact pressure of both sides of a conductor crimping part by increase in rigidity of a root part of a conductor caulking piece.例文帳に追加

導体加締片の根元部分の剛性アップを図ることにより、サーマルショック試験後の圧着部形状の戻りの悪さを低減し、導体圧着部の両サイドの接圧を効果的に高める。 - 特許庁

To reduce return difficulty of a crimping part shape after a thermal shock test, and effectively improve a contact pressure of both sides of a conductor crimping part by increase in rigidity of a root part of a conductor caulking piece.例文帳に追加

導体加締片の根元部分の剛性増加を図ることにより、サーマルショック試験後の圧着部形状の戻りの悪さを低減し、導体圧着部の両サイドの接圧を効果的に高める。 - 特許庁

The terminal member 20 for the test to be mounted on the wiring board 5 is provided with a support plate 22 provided with terminal hole portions 22a having a predetermined inner diameter and a pair of test terminal pins 21 which are inserted into the terminal hole portions 22a of the support plate 22 and where positive and negative sides are connected respectively.例文帳に追加

このテスト用端子部材２０は、配線基板５に取り付けられるテスト用端子部材２０であって、所定の内径を有する端子用穴部２２ａが設けられた支持板２２と、支持板２２の端子用穴部２２ａに挿入され、正側および負側がそれぞれ接続される一対のテスト用端子ピン２１とを備えている。 - 特許庁

By sticking the fiber 102 as a glass reinforcing material to four peripheries, both sides and the back of the glass 101, the average strength obtained under a rigidity test can be increased by 50% or more.例文帳に追加

繊維１０２をガラスの強化材とし、繊維１０２をガラス１０１の四つの周辺、両辺、背面に貼り付けることにより、剛性試験の下で得た平均強度を５０%以上増加させることが可能である。 - 特許庁

The optical disk is provided with a track for test for finding out an optimal power for annealing both the sides of a recording and reproducing track with a light beam and a track for ID for recording and reproducing the identification number of an anneal device.例文帳に追加

光ディスクは、録再トラックの両側を光ビームでアニールするための最適パワーを見つけ出すためのテスト用トラックと、アニール装置の識別番号を記録再生するためのＩＤ用トラックを備えている。 - 特許庁

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which various semiconductor wafers are tested with an easy operation.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特にウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、簡易な操作により、種々の半導体ウエハを試験することができるようにする。 - 特許庁

A question arranging space 16 is provided on a front side sheet of a test sheet 11 having a long longitudinal side and made of a B4 size enlarged sheet, and split to right and left sides by one partition line 17 extended in a vertical direction of the space 16.例文帳に追加

Ｂ４拡大の紙からなる縦長のテスト用紙１１の表側紙面には設問配設用スペース１６が設けられており、同スペース１６が上下方向へ延びる一本の仕切線１７により左右に二分されている。 - 特許庁

To provide a crimp terminal for reducing return difficulty of a crimping part shape after a thermal shock test and effectively improve a contact pressure of both sides of a conductor crimping part by achieving increase in rigidity of a root part of a conductor caulking piece.例文帳に追加

導体加締片の根元部分の剛性アップを図ることにより、サーマルショック試験後の圧着部形状の戻りの悪さを低減し、導体圧着部の両サイドの接圧を効果的に高めることができる圧着端子を提供する。 - 特許庁

To provide a probing test method of semiconductor chips of which two or more terminals are respectively formed at equal intervals along with two opposing sides, by using one probe card, without requiring two adjoined semiconductor chips to be measured as a set.例文帳に追加

対向する二辺に沿ってそれぞれ複数の端子が等間隔で形成されている半導体チップのプロービングテストを、一枚のプローブカードを用い、隣り合う二つの半導体チップを一組として測定することを前提としないで行う。 - 特許庁

A test piece 1 includes: a rectangular part 2 to be measured; thick-shaped tabs 3, 4, 5 which are formed at marginal parts of the respective sides of the part to be measured, and project to at least one of the plate thickness directions from the marginal part of the part to be measured.例文帳に追加

試験片１は、方形状の被測定部２と、被測定部の各辺の縁部に形成され、被測定部の縁部から板厚方向の少なくとも一方に突出する厚肉形状のタブ３３，４，５とを備えている。 - 特許庁

In the fuel cell (a test cell) 8 arranging the fuel electrode 3 and an oxidant electrode 4 on both sides of an electrolyte 1, all solid solution type alloy comprising at least nickel (Ni) and copper (Cu) is used as a fuel electrode material.例文帳に追加

電解質１の両面に燃料極３と酸化剤極４を配置した燃料電池（試験セル）８において、燃料極材料として少なくともニッケル（Ｎｉ）と銅（Ｃｕ）からなる全率固溶型合金を用いる。 - 特許庁

To effectively prevent a problem of friction part opening of a conductor caulking piece caused by spring back or thermal shock test or the like at a crimping time, and a problem of biting-in shortage against a conductor, and effectively elevate contact pressure of the conductor crimping part, especially of both sides.例文帳に追加

圧着時のスプリングバックやサーマルショック試験等による導体加締片の擦り合わせ部の開きの問題や導体に対する食い込み不足の問題を有効に防いで、導体圧着部の特に両サイドの接圧を効果的に高める。 - 特許庁

To obtain a test equipment for testing the characteristics of each chip by touching probes to the opposite sides of a semiconductor wafer in which the probe can be touched to various semiconductor wafer with an appropriate pressing force.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハの両面よりプローブを接触させて各チップの特性を試験する試験装置に適用して、種々の半導体ウエハに対して、適切な押圧力によりプローブを接触させることができるようにする。 - 特許庁

A signal of a prescribed pattern is recorded on the center track out of three adjacent tracks in a test area while changing the recording power, and a signal of a prescribed pattern is recorded on tracks in both sides while changing the recording power at the same timing.例文帳に追加

テスト領域内の隣接する３トラックのうち中心トラックに記録パワーを変化させながら所定パターンの信号を記録し、両側に隣接するトラックに所定パターンの信号を記録パワーを同一タイミングで変化させながら記録する。 - 特許庁

In input circuits 23-25 corresponding to the input pads 13-15 being not used at the time of the test mode, input of internal circuits 30 connected to output sides of each input circuit 23-25 is stabilized and malfunction of this internal circuits 30 is prevented by fixing output voltage to a fixed value in accordance with an input of a test mode signal TS.例文帳に追加

このように試験モード時に使用されない入力パッド１３〜１５に対応する入力回路２３〜２５については、試験モード信号ＴＳの入力に応じて出力電圧を一定値に固定することにより、各入力回路２３〜２５の出力側に接続された内部回路３０の入力が安定しこの内部回路３０の誤動作が防止される。 - 特許庁

Fixing means 8a, 8b and 8c for attaching the central part and both side edge parts of the rubbery elastic laminated test body W in a detachable manner are respectively provided to the almost central parts in the longitudinal direction of the fixing jigs 3a and 3c on both sides and the central fixing jig 3b.例文帳に追加

両側の固定治具３ａ，３ｃと中央の固定治具３ｂとの長手方向の略中央には、ゴム状弾性積層試験体Ｗの中央部及び両側縁部を着脱可能に取付ける固定手段８ａ，８ｂ，８ｂがそれぞれを設けてある。 - 特許庁

A plurality of external electrodes 11c, 11m are provided in parallel along the two sides opposing with each other of a region 300 corresponding to the circuit board to be manufactured, and test electrodes connected to the external electrodes are formed via the extending conductors 13a, 13b extended to the external side of the region 300 from the external electrode.例文帳に追加

製造すべき回路基板に対応する領域３００の対向する２辺に沿って複数の外部電極１１ｃ，１１ｍを並設し、その外部電極から領域３００の外へ延設した延設導体１３ａ，１３ｂを介して外部電極と接続したテスト電極を形成する。 - 特許庁

Before setting the test tube-like general preform 11 in left and right blow molding split molds 31, 32 in an opened state and mold clamping, hanger molding split molds 33, 34 are lowered to hold both sides of a bottom 14 of the preform 11 to pull up it, to stretch the preform 11.例文帳に追加

試験管状の一般的なプリフォーム１１を型開き状態にある左右のブロー成形用割型３１、３２にセットして型締めを行う前に、吊具成形用割型３３、３４を降下させてプリフォーム１１の底部１４を両側から挟持して引き上げて、プリフォーム１１を延伸させる。 - 特許庁

Blowers 22 are disposed on the opposite sides of a testing tire 18 of drum durability testing equipment 10 and a drum durability test is performed by exposing a bead part of the testing tire 18 to the air sent from the blowers 22 to be cooled therewith so that the temperature of the bead part of the tire 18 be within the range of 50-80°C.例文帳に追加

ドラム耐久試験装置１０の試験タイヤ１８の両側に、送風機２２を配置し、試験タイヤ１８のビード部の温度が５０〜８０°Ｃの範囲内となるように、送風機２２から吹き出す風をビード部に当ててビード部を空冷しながらドラム耐久試験を行う。 - 特許庁

The process of collecting the data from the pixels of the first group and the second group includes the execution of a mathematical operation, such as defining a matrix for multiplying pixels of the first group, comparing and subtracting pixel values at both sides of a coordinate axis which divides the test pixels to two parts to produce a difference, and comparing the difference and a threshold.例文帳に追加

第１グループおよび第２グループのピクセルからデータを収集することは、数学的演算を実行することを含み、例えば第１グループのピクセルの乗算をするためのマトリックスを定義し、テストピクセルを二等分する座標軸の両側のピクセル値を比較、減算し、この差とスレッショルドとを比較する。 - 特許庁

An optical boundary scan cell 18 has a capture and update register 13 for storing and updating test data, a photo detector 17a for detecting light signals, an optical switch 16 for switching a route of light signals between sides of the capture and update register 13 and an integrated circuit 1, and an optical waveguide 14 for transmitting light signals.例文帳に追加

光バウンダリ・スキャン・セル１８は、試験データを格納し、更新するためのキャプチャーアンドアップデートレジスタ１３と、光信号を検出する光検出器１７ａと、光信号の進路をキャプチャーアンドアップデートレジスタ１３側と集積回路１側で切り換える光スイッチ１６と、光信号を伝達するための光導波路１４とを有する。 - 特許庁

The printer 100 comprises a paper carrying means for carrying the printing paper, a pattern detecting sensor for detecting a test pattern printed on both sides of the printing paper carried by the paper carrying means in the direction perpendicular to the paper carrying direction, and a paper carriage correcting control means for correcting the carriage of the printing paper with the paper carrying means.例文帳に追加

プリンタ１００は、プリント用紙を搬送する用紙搬送手段と、その用紙搬送手段によって搬送されるプリント用紙の用紙搬送方向に垂直な方向の両側部にプリントされたテストパターンを検知するパターン検知センサと、用紙搬送手段によるプリント用紙の搬送を修正する用紙搬送修正制御手段と、を備える。 - 特許庁

The double-sided adhesive sheet comprises: a plastic film substrate; and an adhesive layer on both sides of the plastic film substrate, wherein a 180°C peeling adhesive force of a surface (surface A) of one of the adhesive layer to a stainless steel plate as measured at a tensile speed of 300 mm/min is 8 N/20 mm or more, and an adhesive residue is not generated in the releasability evaluation test.例文帳に追加

プラスチックフィルム基材の両面側に粘着剤層を有する両面粘着シートであって、一方の粘着剤層表面（Ａ面）の引張速度３００ｍｍ／分で測定されるステンレス板に対する１８０°引き剥がし粘着力が８Ｎ／２０ｍｍ以上であり、かつ再剥離性評価試験において糊残りを生じないことを特徴とする。 - 特許庁