test shotとは 意味・読み方・使い方

To inspect a projection coverage of a narrow part of an object by means of visual observation; to reduce operation cost of a projection coverage confirming test; and to improve measuring accuracy in surface processing treatment of shot peening and a shot blast.例文帳に追加

ショットピーニングやショットブラストの表面加工処理において、対象物の狭隘部の投射カバレージの目視による検査を可能とし、投射カバレージ確認試験の実施コストを低減し、かつ、測定精度を向上させる。 - 特許庁

For example, the switches SW1-SW4 are controlled not to input the input data into all the processing parts, when the input data is a droplet shot position error irregularity measuring test chart.例文帳に追加

例えば、入力画像データが打滴位置誤差ムラ測定用テストチャートである場合には、全ての処理部に入力しないようにＳＷ１〜ＳＷ４を制御する。 - 特許庁

The brothers Kageyoshi and Kagechika OBA stepped forward to challenge Tametomo, who shot a signal arrow at them to test their mettle; this arrow smashed Kageyoshi's left knee, tumbling him from his horse, and so Kagechika helped his older brother run back to their lines.発音を聞く 例文帳に追加

大庭景義、大庭景親の兄弟が挑みかかるが、為朝は試にと鏑矢を放ち、景義の左の膝を砕き、景親は落馬した兄を助け上げて逃げ帰った。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Moreover, the test circuit 1 outputs the generated one shot pulse signal and a plurality of the address signals in which at least one address signal out of a plurality of the address signals is reversed as the column address signals when the timing signal falls.例文帳に追加

また、テスト回路１は、タイミング信号が立ち下がるとき、生成したワンショットパルス信号と、複数のアドレス信号のうち少なくとも１つのアドレス信号を反転させた当該複数のアドレス信号をカラムアドレス信号として出力する。 - 特許庁

If the electrical characteristic defects of one semiconductor chip is detected when a semiconductor wafer 1 is subjected to a probe test, the characteristic defects of the defective semiconductor chip can be detected in accordance with the test result of the probe test in the TEG closest to the failure region or a dimensional variation in one shot, to realize quick feedback to a manufacturing process, so that the manufacturing yield of semiconductor devices can be improved.例文帳に追加

半導体ウエハ１のプローブテスト時に、ある半導体チップの電気的特性不良が検出されると、その不良領域に最も近いＴＥＧにおけるプローブテストの検査結果、あるいはショット内寸法ばらつきなどから、不良の半導体チップにおける特性不良を検出することによって早期に製造工程へのフェードバックが可能となり、半導体装置の製造歩留まりを向上することができる。 - 特許庁

The motion measurement result and a ball direction in test shot are confirmed, the weights of sub weights 45, 46 are changed, and the sensor unit 20 and the main weight 40 which have the same physical quantity are exchanged, to provide the golf club 10 with the good weight balance.例文帳に追加

モーション測定結果と試打のときの打球方向を確認して、サブウェート４５，４６の重量を変更し、物理量が同じセンサーユニット２０とメーンウェート４０を交換して、重量バランスがとれたゴルフクラブ１０でプレーすることができる。 - 特許庁

Using an exclusive mask wherein test patterns having a same shape and a same size are plurally and repeatedly arranged in the mask blanks corresponding to the chip region, a resist pattern is formed by the processing procedure after the exposure processing of the photoresist on a product wafer changing a focal position for every shot.例文帳に追加

同一形状で且つ同一寸法のテストパターンがチップ領域に対応するマスクブランクス内で複数繰り返し配置された専用マスクを用いて、ショット毎にフォーカス位置を変えながら製品ウエーハ上のフォトレジストを露光処理し、現像処理してレジストパターンを形成する。 - 特許庁