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エッチング機構の英語

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英訳・英語 etching mechanism


JST科学技術用語日英対訳辞書での「エッチング機構」の英訳

エッチング機構


「エッチング機構」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 65



例文

追加処理におけるエッチング時間は、膜厚測定機構により測定された実際のエッチング深さおよびエッチング深さの設定値、被エッチング膜におけるエッチング速度から算出される。例文帳に追加

An etching time in the additional process is calculated by the real etched depth which is measured by the film thickness measurement mechanism, the set value of the etched depth, and the etching rate in the film to be etched. - 特許庁

エッチング装置の電極部劣化防止機構及びエッチング装置の電極部劣化防止方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR PREVENTING ELECTRODE DEGRADATION IN ETCHING DEVICE - 特許庁

ウエハのエッチング機構付属研削装置例文帳に追加

WAFER ETCHING MECHANISM ANNEXED POLISHER - 特許庁

ウェットエッチングに用いる水晶ウェハの保持機構例文帳に追加

MECHANISM FOR HOLDING A CRYSTAL WAFER TO BE USED FOR WET ETCHING - 特許庁

メンブレンをドライエッチングする際に用いるドライエッチング装置は、電極12上にステンシルマスク基板13を載置し、このステンシルマスク基板にエッチングガスを供給してエッチングを行う際、メンブレンと電極との間に入り込んだエッチングガスを排気する機構を備えている。例文帳に追加

A dry etcher for dry-etching the membrane comprises a mechanism for exhausting an etching gas flowing in between the membrane and an electrode 12 for etching with the etching gas fed to a stencil mask blank 13. - 特許庁

Si機構層から活動部品をエッチングする工程を含む。例文帳に追加

A process of etching an active component from the Si mechanism layer is included. - 特許庁

例文

熱交換機構の流路部分の電界腐食を抑え、エッチングやプラズマCVDにおいてエッチングレートやデポレートが低下するのを防ぐ。例文帳に追加

To prevent the etching rate or the deposition rate from decreasing in etching or plasma CVD by suppressing electric field erosion at the channel portion of a heat exchanging mechanism. - 特許庁

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「エッチング機構」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 65



例文

半導体ウエハをほぼ垂直に保持して周方向に回転駆動する保持駆動機構1と、エッチング液が収容されるとともに保持駆動機構によって回転駆動される上記半導体ウエハの周縁部が上記エッチング液に浸漬してエッチングされるエッチング槽21とを具備する。例文帳に追加

The etching apparatus comprises a holding and driving mechanism 1 to drive a semiconductor wafer to rotate in the circumferential direction by vertically holding the wafer, and an etching vessel 21 to contain etchant and etch the circumferential edge of the semiconductor wafer to be driven to rotate with the holding and driving mechanism by soaking the wafer into the etchant. - 特許庁

例えばエッチング室1にて所定のエッチングプロセスを施されたウェハは、一旦オリエンタ室AまたはB、あるいは搬送バッファ室5に搬送され、膜厚測定機構によりエッチング深さが測定される。例文帳に追加

For example, a wafer, which is subjected to a prescribed etching process in an etching chamber 1, is temporarily transferred to the orienter chamber A or B, or to the transportation buffer chamber 5 and the etched depth is measured by the film thickness measurement mechanism. - 特許庁

次に、Si機構層のエッチングされた活動部品の近くの絶縁層の一部が取り除かれ、エッチングされた活動部品の近くのSiハンドル層が、エッチングされる。例文帳に追加

Next, a part of an insulating layer near the active component in which the Si mechanism layer is etched is removed and the Si handle layer near the active component is etched. - 特許庁

上記管理方法に基づいたエッチング液の管理機構10を具備するガラス基板再生装置。例文帳に追加

The glass substrate-regenerating device includes a management mechanism 10 of the etching liquid based on the management method. - 特許庁

その後、図示しない駆動機構から駆動力によって処理室3を回転させると、エッチング液が処理室3と一体になった状態で回転し、この回転するエッチング液によって、処理室3内の半導体ウエハWの表面がエッチング処理されていく。例文帳に追加

After that, when the treatment chamber 3 is rotated by drive force from a drive mechanism that is not shown here, the etching liquid is rotated integrally with the treatment chamber 3, and the surface of the semiconductor wafer W in the treatment chamber 3 is etched. - 特許庁

ガスの圧力パルスの消滅又は最小化は、交互エッチング/デポジション室でシリコン基板にエッチングした高アスペクト比機構を有する壁の平滑性を高めることに役立つ。例文帳に追加

The elimination or minimization of a pressure pulse of the gas increases the smoothness of the walls with high aspect ratio features etched in a silicon substrate in the alternating etching/deposition chamber. - 特許庁

制御機構14は、支持台12上の半導体基板11の取り替えを伴う各エッチング処理毎に、薬液タンク14内の新たなエッチング液を該薬液タンクから半導体基板11に供給すべく動作する。例文帳に追加

The control mechanism 14 works to supply the fresh etchant 13 contained in the tank 14 to the substrate 11 at every etching treatment which accompanies the renewal of the substrate 11 held on the base 12. - 特許庁

例文

ダイアフラムを形成するエッチング工程において、エッチング溶液の攪拌機構(スターラ)8と循環機構(ポンプ)7を有するエッチング装置を用い、また、温水による洗浄を実施することにより、ダイヤフラム部の厚みのばらつきを小さくし、センサ感度特性のばらつきの小さい静電容量型圧力センサを得る。例文帳に追加

In an etching process for forming a diaphragm, an etching device having an etching solution stirring mechanism (stirrer) 8 and a circulating mechanism (pump) 7 is used, and cleaning of the diaphragm using warm water is executed, whereby dispersion in the thicknesses of the diaphragm is lessened and an electrostatic capacity type pressure sensor, which has little dispersion in its sensor sensitivity characteristics, is obtained. - 特許庁

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「エッチング機構」の英訳に関連した単語・英語表現

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