バイアス検査の英語

逆バイアス電圧の印加状態で発生する雑音出力のバイアス電圧依存性を検査することにより、ツェナーダイオードの選別が行われる。例文帳に追加

A Zener diode is selected by inspecting a bias voltage dependence of a noise output generated in the state that a reverse bias voltage is applied. - 特許庁

ストレス印加工程Ｓ５は、第１のリーク検査工程Ｓ４により印加された前記第１の逆バイアス電圧以上の第２の逆バイアス電圧を印加する。例文帳に追加

In a stress impression process S5, a second reverse bias voltage higher than the first reverse bias voltage impressed in the first leak inspection process S4 is impressed. - 特許庁

第２のリーク検査工程Ｓ６は、ストレス印加工程Ｓ５後に、前記第１の逆バイアス電圧と略同等な第３の逆バイアス電圧を印加し、第２の漏れ電流値を計測する。例文帳に追加

In a second leak inspection process S6, a third reverse bias voltage substantially equal to the first reverse bias voltage is impressed after the stress impression process S5 for measuring a second leak current value. - 特許庁

各検査位置において、チップ２７と半導体デバイス構造３０との間に印加されるバイアス電圧を変動させる。例文帳に追加

At each inspection position, a bias voltage applied between a chip 27 and a semiconductor device structure 30 is changed. - 特許庁

そして、回転現像ユニットを手作業で動かしながら検査用治具５００をセットし、現像器と転写ドラムとのバイアス電圧を測定していく。例文帳に追加

The inspecting jig 500 is set while moving manually the rotation development unit, to measure a bias voltage between a developer and a transfer unit. - 特許庁

検査と判定を自動化し、目視判定のバイアスを回避し、呈色反応検査をＣＣＤ画像で入力し、画像処理を経て、判定結果を表示・記録する。例文帳に追加

To automate inspection and determination, to avoid a bias in visual determination, to input color reaction inspection by a CCD image, and to display and record a determined result through image processing. - 特許庁

半導体デバイスＳに対し、パルスレーザ光の照射によって発生する電磁波を利用して無バイアス状態で検査を行うとともに、半導体デバイスＳのレイアウト情報を参照して検査範囲を設定し、その範囲内でパルスレーザ光の検査光Ｌ１による２次元走査を行う。例文帳に追加

The semiconductor device S is inspected in a bias-free state using electromagnetic waves generated by the irradiation of pulse laser beams, an inspection range is set by referring to layout information for the semiconductor device S, and two-dimensional scanning is performed by inspection light L1 of the pulse laser beams within the range. - 特許庁

鉄系構造物もバイアス磁界に対し磁気回路の一部となり、バイアス磁界の強さが鉄系構造物の傷・腐食・減肉の程度に応じて変化し、その出力変化から鉄系構造物の欠陥の程度を検査する。例文帳に追加

The iron-based structure serves as part of a magnetic circuit with respect to the bias magnetic field, the intensity of the bias magnetic field varies according to the degree of a flaw/corrosion/thickness reduction of the iron-based structure, and the degree of a defect of the iron-based structure is inspected according to the output variation. - 特許庁