ビーム運動量の英語

ワークピース支持体８とビームカートリッジ１２とが、作動装置５３の作動駆動装置１８によってレーザビーム１５のビーム軸線１４に沿って互いに相対的に、可変に規定可能である量を備えた作動運動で送り可能であることにより、ワークピースとビームカートリッジ１２との間の間隔が可変であるようにした。例文帳に追加

A workpiece supporter 8 and a beam cartridge 12 can be transferred by an operational motion with the relatively and variably regulating amount to each other along a beam axis 14 of laser beam 15 by an operation driving device 18 of a working device 53, and a spacing between a workpiece and the beam cartridge 12 is variable. - 特許庁

分析電磁石６ｂは、イオンビーム４ｂをその主面に交差する方向に、かつ分析電磁石６ａとは逆方向に曲げて運動量分析を行って通過させる。例文帳に追加

The analysis electromagnet 6b bends the ion beams 4b in a direction crossing its main face and yet in a direction contrary to the analysis electromagnet 6a to carry out momentum analysis and let them pass. - 特許庁

高速マルチビットＡ／Ｄ変換器を用いなくても高速運動するレーザビーム走査（アナログ量）のデジタル制御が可能な画像形成装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image forming device capable of performing digital control of fast moving laser beam scanning (analog value) without using a fast multi-bit A/D converter. - 特許庁

パターンが、主に、名目運動エネルギーを有する名目質量の種の高エネルギー荷電粒子のビームを用いて、投射システムを介して対象に投射される。例文帳に追加

A pattern is projected onto a target through a projection system by a beam of highly energetic charged particles of largely a species of a nominal mass having a nominal kinetic energy. - 特許庁

出射ビームの運動量分散を小さくし、入射器として後段の円形加速器に荷電粒子を入射するための入射効率を改善した線形イオン加速器及びその設計方法の提供。例文帳に追加

To provide a linear ion accelerator in which injection efficiency is improved in order to make charged particles inject into a circular accelerator of the rear stage as an injection device by reducing the momental dispersion of emitting beams, and its design method. - 特許庁

（一）　ビームのパルスの持続時間が一マイクロ秒以下であって、一、七〇〇にメガ電子ボルトで表した電子の運動エネルギーのせん頭値の二・六五乗を乗じたものに、クーロンで表した加速された電子の全電荷量を乗じた値が〇・二五以上のもの例文帳に追加

1. Electron accelerators or flash X-ray generators with a beam pulse duration of 1 microsecond or less, and with a value of 0.25 or more when 1,700 is multiplied by the result of multiplying the peak value of electron kinetic energy expressed in megaelectron volts raised to the 2.65 power by the total charge quantity of accelerated electrons, expressed in coulombs発音を聞く  - 日本法令外国語訳データベースシステム

二次イオンおよび後からイオン化された中性の二次粒子を分析するための質量分析器において、試料を照射することで二次粒子を発生させるための一次イオンビームを作り出すイオン源と、二次粒子の質量分析のための分析ユニットとを設け、一次イオンを構成する原子１個あたりの運動エネルギーを20eV以下の領域で制御できる機能を装備させる。例文帳に追加

The mass spectroscope for analyzing secondary ions and neutral secondary particles ionized afterward to be analyzed is provided with an ion source for making primary ion beams for generating secondary particles by irradiating the sample, and an analyzing unit for mass spectrometry of the secondary particles, and is also provided with a function capable of controlling kinetic energy per atom structuring a primary ion in a range of 20 eV or less. - 特許庁

（二）　ビームのパルスの持続時間が一マイクロ秒を超えるものであって、一、七〇〇にメガ電子ボルトで表した電子の運動エネルギーのせん頭値の二・六五乗を乗じたものに、クーロンで表した一マイクロ秒の間に加速することができる電荷量の最大値を乗じた値が〇・二五以上のもの例文帳に追加

2. Electron accelerators or flash X-ray generators with a beam pulse duration exceeding 1 microsecond, and having a value of 0.25 or more when 1,700 is multiplied by the result of multiplying the peak value of electron kinetic energy expressed in megaelectron volts raised to the 2.65 power is multiplied by the maximum charge quantity of electrons accelerated for 1 microsecond, expressed in coulombs発音を聞く  - 日本法令外国語訳データベースシステム