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光電子放出顕微鏡の英語
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英訳・英語 photoemission microscope
「光電子放出顕微鏡」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 13件
結像型光電子放出顕微鏡例文帳に追加
電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機例文帳に追加
FIELD-EMISSION ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS - 特許庁
磁気円二色性測定方法、磁気円二色性光電子放出顕微鏡、及び磁気円二色性光電子放出顕微鏡システム例文帳に追加
MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD, MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE, AND MAGNETIC CIRCULAR DICHROISM PHOTOELECTRON EMISSION MICROSCOPE SYSTEM - 特許庁
電子放出特性の劣化を抑制可能であり、低コストな電界放出型電子銃、電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機を提供する。例文帳に追加
To provide a field-emission electron gun which can control the deterioration of electron emission characteristics and is low cost, and to provide an electron microscope and an electron beam exposure apparatus. - 特許庁
一実施の形態の電子顕微鏡、及び電子ビーム露光機は、この電界放出型電子銃を備えている。例文帳に追加
The electron microscope and the electron beam exposure apparatus are provided with this field-emission electron gun. - 特許庁
時間および空間分解能のいずれも良好で放電の発生しない光電子放出顕微鏡を提供すること。例文帳に追加
To provide a photoelectron emission microscope good in both of time and space resolving powers and generating no discharge. - 特許庁
電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される電子源であって、電子放出部分は表層部と基材部からなり、該表層部は遷移金属炭化物であり、該基材部はダイヤモンド単結晶であることを特徴とする電子源により解決される。例文帳に追加
Of the electron source used for an electron-optical equipment, such as, electron microscope and electron-beam lithographic apparatus, an electron-emitting section part consists of a surface-layer part and a base material part, of which the surface-layer part is of transition metal carbide, and the base material part is made of diamond single crystal. - 特許庁
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「光電子放出顕微鏡」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 13件
電子顕微鏡本体1内の電子光学系4の電磁場分布EMを算出し、当該電磁場分布EMにおける試料5からの第1放出電子50及び第1放出電子の衝突によって電子光学系から放出される第2放出電子52の検出値をモンテカルロ法によって算出する。例文帳に追加
In the discharge electron detection value estimation method, an electromagnetic field distribution EM of the electronic optical system 4 in an electron microscope body 1 is calculated, while detection values of first emitted electrons 50 from a sample 5 in the electromagnetic field distribution EM and second emitted electrons 52 emitted from the electronic optical system by collision with the first emitted electrons are calculated by a Monte Carlo method. - 特許庁
光源からの光を試料に照射することにより前記試料から放出される光電子を対物レンズを介して結像し、拡大像を得る光電子顕微鏡において、前記対物レンズに、2以上の電極を備えさせ、2以上の前記電極を、前記光が2つの電極間を通るように設置する。例文帳に追加
In a photoelectronic microscope which images photoelectrons emitted from a specimen via an objective lens by irradiating the specimen with light from a light source, and obtains a magnified image, the objective lens includes two or more electrodes, and the two or more electrodes are installed in such a manner that the light passes between two electrodes. - 特許庁
走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるSEM像を高精度にシミュレーションする方法と模擬SEM像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。例文帳に追加
To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained. - 特許庁
本発明の炭素繊維材料の単繊維断面を電界放出型電子顕微鏡を用いて、電子エネルギー損失分光法で測定して得られるπ*/σ*の最表面測定値A1と単繊維内部最高値A2との比A1/A2が0.83〜0.94である。例文帳に追加
The carbon fiber material has 0.83-0.94 ratio A1/A2 of the measured value A1 of π*/σ* on the outermost surface and the maximum value A2 in a single fiber obtained by measurement of the cross section of the single fiber according to an electron energy loss spectroscopy using a field emission type electron microscope. - 特許庁
エミッション顕微鏡には、試料1に紫外線光を照射して試料1から電子を放出させる紫外線照射装置11と、試料1から放出された電子によって形成される電子像を表示する蛍光板8と、その電子像を蛍光板8上に結像させる電子レンズ系(各レンズ4,5,6)とを有する。例文帳に追加
This emission microscope has an ultraviolet-ray irradiating device 11 for irradiating an ultraviolet ray on a sample 1 to emit electrons from the sample 1, a phosphor plate 8 for indicating an electron image formed by the electrons emitted from the sample 1 and an electron lens system (respective lenses 4, 5 and 6) for imaging the electron image on the phosphor plate 8. - 特許庁
試料を照射する1次電子ビームを放出する照射系と、試料から放出された2次電子ビームを検出系へ導く投影結像光学系24とを備える写像型電子顕微鏡の投影結像光学系24は、第1のズームレンズ6aと第2のズームレンズ6bとを有するトランスファー・レンズ系24bを備える。例文帳に追加
The mapping type electron microscope includes an illuminating system which irradiates a primary electron beam onto a sample, and the projection imaging optical system 24 which guides a secondary beam irradiated from the sample to a detection system, and the projection imaging optical system 24 is provided with the transfer lens system 24b, having a first zooming lens 6a and a second zooming lens 6b. - 特許庁
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photoemission microscope
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