分析線対の英語

対象とする部材の近傍又は下方に測定の邪魔となる物質（妨害物質）が存在していても、対象とする部材に含まれる元素を精度よく分析できる蛍光Ｘ線分析方法及びその蛍光Ｘ線分析方法を実現する蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analysis method which enables the precise analysis of the elements contained in a target member, even if a substance that obstructs measurement (interefering substance) is present in the vicinity of or under the target member, and to provide a fluorescent X-ray analyzer that realizes the fluorescent X-ray analysis method. - 特許庁

検査対象物に照射される赤外光の広がりを防止して高精度な分析を行うことができる赤外線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an infrared analyzer capable of performing highly precise analysis by preventing diffusion of an infrared ray radiated on an inspection target. - 特許庁

組成の異なる試料に幅広く対応して、リニアリティと分解能がともに高い分析を容易に行える蛍光Ｘ線分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a fluorescent X-ray analyzer that can easily make high- linearity and high-resolution analysis by broadly coping with samples having different compositions. - 特許庁

これにより、試料中の元素から発生した分析対象の蛍光Ｘ線を検出しやすくなり、分析結果に含まれる誤差が小さくなる。例文帳に追加

Thus, detection of the fluorescent X-ray as the object of analysis emitted from the element in the sample becomes easy, and the error included in the result of analysis becomes small. - 特許庁

信頼性が高い線形判別分析の判定結果を距離判別分析に反映させることにより、距離判別分析の閾値決定に対する収斂性を高め、距離判別分析の持つ簡便な判定性能を向上させるとともに、線形判別分析と距離判別分析とを共用することにより、優れた判定精度を実現できる良否判定装置、良否判定方法および良否判定プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a quality determination device, a quality determination method and a quality determination program capable of heightening convergence to threshold determination for distance discrimination analysis by reflecting a determination result of linear discrimination analysis having high reliability to the distance discrimination analysis, improving simple determination performance carried by the distance discrimination analysis, and obtaining excellent determination accuracy by using in common, linear discrimination analysis and the distance discrimination analysis. - 特許庁

蛍光Ｘ線分析において、分析対象が薄膜試料である場合に、適切な測定すべき２次Ｘ線の選択を容易にし、正確な分析ができる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device capable of facilitating the section of a secondary X-ray to be properly measured and performing a precise analysis when an object to be analyzed is a tin film sample in fluorescent X-ray analysis. - 特許庁

試料の材料分析と内部構造分析とを省力的に短時間で行うことができ、また大型試料にも対応可能で、しかも、持ち運んで屋外で使用することもできる大型試料用のＸ線複合分析装置、及び当該装置を利用したＸ線複合分析方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an X-ray compound analyzer analyzing the material and an internal structure of a sample in a short period of time in a laborsaving manner, adapting to a large sample, and being carried and used outdoors, and also to provide an X-ray compound analysis method using the analyzer. - 特許庁

波長分散型で走査型の蛍光Ｘ線分析装置において、登録したバックグラウンドの測定角度位置等の分析条件が、分析対象の試料に適切か否かの検証を容易にできる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device facilitating verification whether an analysis condition of a registered background measurement angle position and the like are suitable for a sample to be analyzed or not in a wavelength-dispersive scanning type fluorescent X-ray spectrometer. - 特許庁