お相子の英語

チャネルド分光偏光計測法において、移相子のリタデーションが試料の状態により様々に変動することによって生ずる試料の分光偏光特性を表すパラメータの計測誤差を効果的に除去する。例文帳に追加

To remove effectively a measurement error of a parameter, showing spectropolarization characteristics of a sample which are generated through variously varying, depending on the state of the sample in retardation of a retarder, in a channeled spectroscopic polarimetry. - 特許庁

測定部は、移相子の光学特性の測定情報および偏光子の光学特性の測定情報のうちの少なくとも一方の測定情報に基づいて光の偏光状態の測定結果を補正する。例文帳に追加

The measurement part corrects the measurement result of the polarization state of light, based on at least one measurement information of measurement information of optical characteristics of the phase shifter and measurement information of optical characteristics of the polarizer. - 特許庁

受信者は、１／４波長遅相子と、２つの光経路のうち片方に等方的な非線形光学材料を配置したマッハ−ツェンダー干渉計を準備する。例文帳に追加

The recipient prepares an 1/4 wavelength retarder and a Mach-zehnder interferometer where isotropic nonlinear optical material is arranged for one of two optical routes. - 特許庁

入射光Ｌ1は入射位置から出射位置まで、反射位置で偏光子及び全反射ミラーによって主面の法線方向に関して一定の角度θをもって多重反射しながら位相子内を透過し、出射する。例文帳に追加

An incident light L1 is transmitted through an inside of the phaser, while reflected multiply at a fixed angle θ as to a normal direction of the main faces by the phaser and the total-reflection mirrors, in the reflection positions, from the incident position to the outgoing position, and outgoes. - 特許庁

移相子や偏光子の光学特性に関する誤差の影響を抑えて、光の偏光状態を高精度で測定することのできる偏光測定装置。例文帳に追加

To provide polarization measuring equipment which can accurately measure the polarized state of light by suppressing the influence by errors of optical characteristics of a phase shifter and a polarizer. - 特許庁

透明基板１１と１４との間に、同じリタデーション値を有する複屈折性の有機物薄膜１３Ａおよび１３Ｂが、それぞれの光軸が交差するように重ねられて接着剤１２Ａおよび１２Ｂにより固定され、位相子１０１が構成され、光ヘッド装置に搭載する。例文帳に追加

The phase element 101 mounted on the optical head device comprises birefringent organic thin films 13A and 13B which have identical retardation values to each other, are superposed on each other so as to make respective optic axes intersect each other and are fixed by adhesives 12A and 12B between transparent substrates 11 and 14. - 特許庁

受信者は時刻１よりも後の時刻２に第２の光子を、上記１／４波長遅相子を通過させた後で上記マッハ−ツェンダー干渉計に入力し、上記マッハ−ツェンダー干渉計の２つの出力それぞれにおいて光子の測定を行う。例文帳に追加

The recipient inputs the second photon into the Mach-zehnder interferometer after the second photon passes the 1/4 wavelength retarder at a time 2 after the time 1, and photon measurement is performed for each of two outputs of the Mach-zehnder interferometer. - 特許庁

または、主軸方向が異なる複数の波長板を配列した波長板アレイ１枚と、主軸方向が一定の偏光子１枚を重なるように配置し、受光素子アレイと組み合わせることによって「回転位相子型」お偏光解析装置を構成する。例文帳に追加

Alternatively, the "rotary phaser type" ellipsometer is constituted by arranging one sheet of wave plate arrayed with a plurality of wave plates different in principal axis directions, and one sheet of polarizer having a fixed principal axis direction to be layered overlappedly, and by combining those with the photoreception element array. - 特許庁