準光学システムの英語

光ビームのエネルギをパルス間で平準化するシステムは、３次の非線形特性を有する光学デバイスを含む一群の光学デバイスを備える。例文帳に追加

A system for equalizing pulse to pulse energy of a light beam includes a group of optical devices including an optical device having third order nonlinear properties. - 特許庁

前記モジュールは、照準光源と、前記照準光源からの光を絞るための開口と、対象領域に照準パターンを投影するための光学素子とを有する照準システムをさらに具備することができる。例文帳に追加

The module may further include an aiming system having an aiming light source, an aperture for stopping light from the aiming light source, and an optical element for projecting an aiming pattern into target area. - 特許庁

基準パターン及び比較パターンを具備する光学マスクを準備して、所定の露光ビームを使用する露光システム内に光学マスクをローディングした後、露光ビームを使用して光学マスクを所定の結像面に投映する段階を含む。例文帳に追加

The method comprises a step of preparing an optical mask having a reference pattern and a comparison pattern, and projecting the optical mask on a prescribed image forming plane by using an exposure beam after loading the optical mask in an exposure system wherein a prescribed exposure beam is used. - 特許庁

本発明は、光学被測定物（ＤＵＴ）（１０４）の光学特性を測定するためのシステムであって、前記光学ＤＵＴ（１０４）に加えられる光信号を発生するための光源（１１２）と、基準干渉計（１０６）、及び、光源（１１２）に光学的に結合されたテスト干渉計（１０８）と、干渉計に結合され、振幅及び位相計算コンポーネントを利用して、光学ＤＵＴの光学特性の判定を助ける計算装置（１１０）が含まれる、システムを提供する。例文帳に追加

This system for measuring optical characteristic of an object to be optically measured (DUT) 104 comprises a light source 112 for generating a light signal applied to the optical DUT 104, a reference interferometer 106, a test interferometer 108 connected with the light source 112 optically, and a computing device 110 connected with the interferometers to assist the determination of optical characteristic of the optical DUT by utilizing amplitude and phase computing component. - 特許庁

光学式サブシステムは、物体に取り付けられた光源１６ａ、１６ｂ、１６ｃおよび光源からのエネルギーを検出するセンサ２０を含みセンサは、光源の検出されたエネルギーに応答してセンサに対して固定された光学式サブシステム座標系を基準として位置方向の信号を生成する。例文帳に追加

The optical sub-system includes optical sources 16a, 16b, 16c fitted to an object and a sensor 20 for detecting energy from the light sources, and the sensor generates a signal of the position and/or direction on the basis of an optical sub-system coordinate system fixed to the sensor in response to the detected energy of the light source. - 特許庁

比較的収差の影響を受けない基準ビームを供給するとともに、アライメントを監視可能とする、干渉計システム用光学フィルタの提供。例文帳に追加

To provide an optical filter for an interferometer system for supplying a reference beam not relatively receiving the effect of aberration and capable of monitoring alignment. - 特許庁

傾斜ミラー５６２は、放射スポットを、マーク自体のスキャン運動と同期して測定光学システムの基準フレームに対して移動させて、正確な位置測定値を取得するより多くの時間を提供する。例文帳に追加

A tilting mirror 562 moves the spot of radiation relative to the reference frame of the measurement optical system synchronously with a scanning motion of the mark itself, to allow more time for accurate position measurements to be acquired. - 特許庁

画像処理装置に用いられる光学系のシステムを構成する機器および機器の配置条件に関する設計情報が、画像処理用途毎に準備されるワークの撮像事例に付帯する情報として予めストアされる。例文帳に追加

Design information about an apparatus which constitutes the optical system used for an image processor and arrangement conditions of the apparatus is stored in advance as information accompanying an imaging case of a work prepared for every image processing use. - 特許庁