設定で実験を行うの英語

差圧と目詰まりとの関係は、実験的に予め測定しておくことにより、設定値の設定を的確に行うことが出来る。例文帳に追加

The relation between the set value and the clogging is experimentally previously measured, so that the set value can be properly set. - 特許庁

この設定は予め実験により求めた目標色度を確保できる原水色度と排オゾン濃度制御の設定値の関係に基づいて行う。例文帳に追加

This setting is performed on the basis of the relation between the chromaticity of raw water capable of ensuring preliminarily experimentally calculated objective chromaticity and the set value of the concn. control of waste ozone. - 特許庁

一方、ユーザは、堆積物の量を過去の経験則や実験データ等から予め推測し、制御装置上でターボ分子ポンプ１００のメンテナンスを行う時間であるメンテナンス時刻や、ターボ分子ポンプ１００の使用を抑制する使用抑制時刻を設定する。例文帳に追加

Meanwhile, a user previously estimates an amount of a deposit from a past experiential rule, an experimental data, etc., and sets a maintenance time of a time for conducting a maintenance of a turbo molecular pump 100 or a use suppressing time for suppressing a use of a turbo molecular pump 100 in the controller. - 特許庁

吸着材９の破過時間を実験等から予め決定した設定値と、脱臭ファン１０の運転時間を積算するタイマー回路１３を制御部１２に設け、積算時間が設定値に達したら運転を停止し吸着材９の交換を行うトイレ脱臭装置としているものである。例文帳に追加

A timer circuit 13 estimating set points, in which a break- through hour is decided in advance by experiments, and operating hours of a deodorant fan 10, is provided at a control part 12 and is stopped to operate when an estimating hour reaches a set point for carrying out an exchange of an adsorvent 9. - 特許庁

半導体デバイスの露光条件出し実験において、チップ内１点のフォトレジスト寸法と測定結果およびレチクル回路パターンおよび半導体デバイス仕様および予め取得したフォトレジスト寸法特性情報からチップ内複数パターンの誤差が最小となるように露光条件を設定し、その露光条件を用いて露光処理を行う。例文帳に追加

Thereafter, the exposure is performed by using the exposure condition. - 特許庁

予め実験によって、薄膜の堆積速度とイオンビーム電流値との相関関係等をデータテーブル化しておき、そのデータと前記ターゲット種類、膜厚とから積算イオンビーム電流値を算出し、その算出結果を設定して、イオンビーム電流値をモニタして、積算イオンビーム電流値から減算しながらイオンビームの照射を行う。例文帳に追加

In advance, the correlation between the deposition rate of the thin film and ion beam current value or the like are data-tabled by an experiment, an integrated ion beam current value is calculated from the data, the type of the target and the film thickness, the calculated result is set, the ion beam current value is monitored, and, while performing subtracting from the integrated ion beam current value, the emission of an ion beam is performed. - 特許庁