光学系及び感光体を配置する際に生じる誤差や、ポリゴンミラーの回転速度及びポリゴンミラー鏡面の精度の誤差を補正することができる画像形成装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image formation device which can correct an error generated at arranging an optical system and a photosensitive object and the error of the rotating speed of polygon mirror and accuracy of the polygon mirror surface. - 特許庁

可動鏡面の各面の走査に寄与する有効範囲を広げつつ、可動鏡面の歪みや、面間誤差によって走査開始位置がずれるのを防止する。例文帳に追加

To prevent the distortion of a movable mirror surface and the deviation of a scanning starting position caused by an error between surfaces while expanding an effective range which contributes to the scanning of each surface of the movable mirror surface. - 特許庁

これにより、光源Ａ６２から出力される走査光ビームは、前記ポリゴンミラー２の反射鏡面の走査範囲を拡大しつつ、可動鏡面形状に面間誤差がある場合においても、走査開始位置ずれを防止できる。例文帳に追加

Therefore, the deviation of the scanning starting position can be prevented even when the error between the surfaces exists on a movable mirror surface shape while expanding the scanning range of the reflecting mirror plane of the polygon mirror 2 with the scanning light beam outputted from the light source A62. - 特許庁

一種類の周波数のみで波面誤差の分離検出が可能で、コスト低減が図れ、可変形状鏡の応答周波数に対する要求を緩和でき、また、可変形状鏡面上の連成振動も発生しない波面誤差検出装置及び方法を得る。例文帳に追加

To provide a wave front error detector and its method by which a wave front error can separately be detected with none kind of frequency only, the requirement of a response frequency of a variable shaped mirror can be relaxed and no coupled vibration on the variable shaped mirror is caused. - 特許庁

次にその第一の光学素子について、温度６０℃の高温槽で温度ならしを行って（Ｓ０２）から、面形状誤差の測定を行い（Ｓ０３）、得られた面形状誤差を相殺する方向に仮鏡面駒４を修正加工する（Ｓ０４）。例文帳に追加

Next, the temperature of the first optical element is leveled in a high temperature tank with a temperature of 60°C (S02) and the surface shape error of the first optical element is subsequently measured (S03) to perform the correction processing of the temporary mirror surface piece 4 in the setting-off direction of the obtained surface shape error (S04). - 特許庁

衛星の姿勢変動、反射鏡および給電部の取り付け誤差、反射鏡面の変形によるアンテナパタン変形を、より少ない回路規模で電気的に補償することが可能なアレー給電反射鏡アンテナを提供する。例文帳に追加

To provide an array power feed reflector antenna capable of electrically compensating an attitude variation of a satellite, fitting errors of a reflector and a power feed part, and antenna pattern deformation caused the deformation of a reflector surface with a smaller circuit scale. - 特許庁

ウェハの主面が鏡面，その裏面が粗面であっても，干渉計基準面の平坦度の誤差に影響されずに精度よくウェハの形状（厚み分布）を測定すること。例文帳に追加

To measure a shape of a wafer (thickness distribution) with high accuracy without being affected by errors of flatness of a reference surface of an interferometer even when a main side of the wafer is mirror-finished and a back side of the wafer is coarse. - 特許庁

本発明に係る半導体装置よると、裏面電極が鏡面状の薄膜となったことにより、隣接する受光素子へのクロストークを容易に抑圧することが出来、光半導体装置の光強度検出時における誤差を少なくすることが出来る。例文帳に追加

In a semiconductor device, crosstalk onto an adjacent light receiving element can be easily suppressed, and error occurred when detecting light intensity of an optical semiconductor device can be reduced because a back electrode is a mirror surface shaped thin film. - 特許庁

解析装置１１は、第２の干渉計Ｉ_2により取得された第２の干渉縞画像を解析して、折り返し平面鏡Ｆ_1の鏡面Ｓ_1の変形量を測定し、折り返し平面鏡Ｆ_1の変形によって生じた誤差を打ち消すように透過波面の補正を行う。例文帳に追加

An analyzer 11 analyses the second interference fringe image obtained by the second interferometer I_2, measures a deformation amount of the mirror surface S_1 formed on the surface of the reflecting plane mirror F_1, and corrects the transmission wave front to cancel an error caused by a deformation of the reflecting plane mirror F_1. - 特許庁

対象物に向けて発光し、対象物からの反射光を受光して前記被測定物体との距離を測定するための距離測定装置において、上述の鏡面反射物からの反射光によって生ずる測距誤差による誤作動を防止する。例文帳に追加

To prevent malfunction due to ranging error caused by reflected light from a specular reflective object with respect to a distance measuring instrument for measuring a distance to an object to be measured by emitting light toward the object and receiving reflected light from the object. - 特許庁

修正部１０６は現物の糸の反射特性と、反射関数から得られる反射光のエネルギーとの誤差が最小となるように、パラメータフィッティングを用いて、鏡面反射係数Ｋ_ｓ、光沢係数ｐ、並びに第１及び第２の拡散反射係数Ｋ_ｄ１，Ｋ_ｄ２を算出する。例文帳に追加

A correcting part 106 uses parameter fitting to calculate a specular reflection factor K_s, a glossiness factor _p, and first and second diffuse reflection coefficients K_d1 and K_d2 so as to minimize an error between the reflection characteristic of the thread of the actual thing and the energy of reflected light obtained from a reflection function. - 特許庁