電子分光計の英語

汎用のＦＴ−ＩＲ分光計の試料室内に装着できる赤外スペクトル分析用光電子装置および光電子工学的像拡大システムを提供する。例文帳に追加

To provide an optoelectronic device for infrared spectrum analysis mountable in a sample chamber of a widely-used FT-IR (fourier transform infrared) spectrometer, and to provide an optoelectronic image magnifying system. - 特許庁

エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。例文帳に追加

When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample. - 特許庁

工程途中の半導体装置に対して、電子エネルギ損失分光法を用いた誘電率計測法を適用することで、局所領域での誘電率を評価する。例文帳に追加

By applying a dielectric constant measuring method using electron energy loss spectroscopy to a semiconductor device in the middle of a process, the dielectric constant in a localized region is evaluated. - 特許庁

指示薬分子は各使用者、により視覚的に観察されるかまたは検出のための反射分光光度計のような、電子解釈コンポーネントにより観察される。例文帳に追加

The indicator molecule may be visually observed by the individual user or observed by an electronic interpretation component, such as a reflectance spectrophotometer for detection. - 特許庁

改良型の微量熱量計型エネルギー分散型Ｘ線分光計は、低電子ビーム・エネルギーで試料の高空間分解能Ｘ線マッピングを実用的に実行するのに十分なエネルギー分解能およびスループットを提供する。例文帳に追加

The improved microcalorimeter-type energy dispersive x-ray spectrometer provides a sufficient energy resolution and throughput for practical high spatial resolution x-ray mapping of a sample at low electron beam energies. - 特許庁

試料部から出力される出力光を光電子増倍管２で電気信号に変換し、演算部１２等で試料部中の試料の偏光性を測定できる分光光度計において、測定を行う前に予め測定条件設定メモリ１３に複数のレスポンスを設定しておく。例文帳に追加

Plural responses are set preliminarily in a measuring condition setting memory 13 before actual measurement, in a spectrophotometer for converting an output light output from a sample part into an electric signal by a photomuliplier 2 to measure poralization of a sample in the sample part by an operation part 12 or the like. - 特許庁

透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。例文帳に追加

This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method. - 特許庁

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。例文帳に追加

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A. - 特許庁