意味 | 例文 (20件) |
電子分光計の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 20件
小角度で散乱される円錐状の電子は、ポストコラムEELS分光計に入射する。例文帳に追加
The cone-shaped small-angle scattered electrons enter a post-column EELS spectrometer. - 科学技術論文動詞集
半導体ラインセンサ又は光電子倍増器を備えた二重格子—同時分光計例文帳に追加
SEMICONDUCTOR LINE SENSOR OR DOUBLE GRATING COINCIDENCE SPECTROMETER INCLUDING PHOTOMULTIPLIER - 特許庁
また、これら表面の成分組成はX線光電子分光分析法で計測する。例文帳に追加
The composition in the surface is measured by the X-ray photoelectron spectral analysis method. - 特許庁
EELSにおける高エネルギー分解能の電子分光計は、ΔE = 0〜20eVのエネルギー損失を分解するために必要である。例文帳に追加
Electron spectrometers of high energy resolution for EELS are needed to resolve the losses between ΔE = 0 and 20 eV. - 科学技術論文動詞集
CCD検出器は、一つ以上の光電子増倍管および分光計に典型的に使われる狭帯域通過フィルタに置き換わる。例文帳に追加
The CCD detector is replaced by a plurality of photomultipliers and narrow bandpass filters typically used in spectrometers. - 特許庁
写像する電子顕微鏡の光学コラム内、または電子分光計のビーム出射口後部において、スピン偏極を分析するための方法と、その方法を実施するための適切なシステムを提供する。例文帳に追加
To provide a method of analyzing a spin polarization in an optical column of a mapping electron microscope or in a beam outgoing port back part of an electron spectrometer, and to provide a suitable system in which the above method is performed. - 特許庁
汎用のFT−IR分光計の試料室内に装着できる赤外スペクトル分析用光電子装置および光電子工学的像拡大システムを提供する。例文帳に追加
To provide an optoelectronic device for infrared spectrum analysis mountable in a sample chamber of a widely-used FT-IR (fourier transform infrared) spectrometer, and to provide an optoelectronic image magnifying system. - 特許庁
エネルギーフィルタ方式の透過型電子顕微鏡を用いて、試料の元素分布或いはスペクトルを撮影する場合に、分光計を通して撮影される元素分布或いはスペクトルに関する分光データの撮影時間を試料のドリフトに対応し得るように時分割する。例文帳に追加
When pictures are taken of element distribution of a sample and spectrum using the transmission type electron microscope of a energy filtering type, photography time of spectrum data concerning the element distribution or the spectrum pictured through a spectrometer, is time-shared so that it can respond to a drift of the sample. - 特許庁
工程途中の半導体装置に対して、電子エネルギ損失分光法を用いた誘電率計測法を適用することで、局所領域での誘電率を評価する。例文帳に追加
By applying a dielectric constant measuring method using electron energy loss spectroscopy to a semiconductor device in the middle of a process, the dielectric constant in a localized region is evaluated. - 特許庁
指示薬分子は各使用者、により視覚的に観察されるかまたは検出のための反射分光光度計のような、電子解釈コンポーネントにより観察される。例文帳に追加
The indicator molecule may be visually observed by the individual user or observed by an electronic interpretation component, such as a reflectance spectrophotometer for detection. - 特許庁
改良型の微量熱量計型エネルギー分散型X線分光計は、低電子ビーム・エネルギーで試料の高空間分解能X線マッピングを実用的に実行するのに十分なエネルギー分解能およびスループットを提供する。例文帳に追加
The improved microcalorimeter-type energy dispersive x-ray spectrometer provides a sufficient energy resolution and throughput for practical high spatial resolution x-ray mapping of a sample at low electron beam energies. - 特許庁
試料部から出力される出力光を光電子増倍管2で電気信号に変換し、演算部12等で試料部中の試料の偏光性を測定できる分光光度計において、測定を行う前に予め測定条件設定メモリ13に複数のレスポンスを設定しておく。例文帳に追加
Plural responses are set preliminarily in a measuring condition setting memory 13 before actual measurement, in a spectrophotometer for converting an output light output from a sample part into an electric signal by a photomuliplier 2 to measure poralization of a sample in the sample part by an operation part 12 or the like. - 特許庁
透過型電子顕微鏡に付随している複数個の多重極子レンズを有する電子分光器の多重極子レンズを調整する方法であって、多重極子レンズの励磁電流をパラメータとしたパラメータ設計手法を用いたシミュレーションにより最適条件を求めるレンズ調整方法を提供する。例文帳に追加
This method is to adjust the multi-pole lenses of the electron spectrometer having a plurality of the multi-pole lenses attached to a transmission electron microscope, and optimum conditions are found by simulation using a parameter design method using the exciting currents of the multi-pole lenses as parameters in this lens adjusting method. - 特許庁
仕事関数測定装置100Aは、光電子分光法により求められた標準試料3Aの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー1Aを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料3Aの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー1Aの深針2Aの仕事関数を算出する。例文帳に追加
The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A. - 特許庁
少なくとも、結着樹脂、着色剤よりなる静電荷像現像用トナーであって、ケイ光X線測定によるリン元素強度、XPS(X線光電子分光分析)によるリン元素強度、DSC(示差走査型熱量計)測定による最大吸熱量比を特定構造のリン含有化合物を含有させることで制御してなることを特徴とする。例文帳に追加
The toner for electrostatic image development consists essentially of a binder resin and a colorant, and elemental phosphorus intensity by fluorescent X-ray measurement, elemental phosphorus intensity by XPS (X-ray photoelectron spectrometry) and the ratio between maximum amounts of absorbed heat by DSC (differential scanning calorimetry) are controlled by incorporating a phosphorus-containing compound of a specific structure. - 特許庁
結着樹脂と着色剤とを含む静電荷像現像用トナーであって、XPS(X線光電子分光分析)による第IA族元素(水素除く)の存在割合が0.03〜1.0atom%の範囲であり、かつ、第IIA族元素、第IIIB族元素及び第IVB族元素(炭素除く)の存在割合の合計が0.05〜2.0atom%の範囲である静電荷像現像用トナーである。例文帳に追加
The toner for electrostatic image development contains a binder resin and a colorant, wherein group IA elements (excluding hydrogen) exist in a range of 0.03-1.0 atom% and group IIA elements, group IIIB elements and group IVB elements (excluding carbon) exist in a range of 0.05-2.0 atom% in total, as measured by XPS (X-ray photoelectron spectroscopic analysis). - 特許庁
蛍光体面101Aを白色発光させ、前記白色発光をプリズム103により赤色、緑色、青色に分光し、ウォブリング磁場に伴う赤色、緑色、青色の輝度変化を測定し、測定データからウォブリング磁場の無いときの、赤色蛍光体、緑色蛍光体、青色蛍光体各々に対する電子ビームのずれ量を制御系105、パーソナルコンピューター106にて解析計算し、ずれ量を最小にするように偏向系を調整する。例文帳に追加
These changes are compared with the mislanding of each electron beam on the red, green and blue phosphors without wobbling, to calculate their differences by means of a control 105 and personal computer 106, thus adjusting the deflection unit so as to minimize the deviation amount. - 特許庁
本発明に係るガスバリア薄膜92を備えるプラスチック成形体90は、プラスチック成形体91の表面に、金属酸化物を含有するガスバリア薄膜を備えるプラスチック成形体において、金属酸化物の金属元素が、少なくともアルミニウム元素(Al)及びチタン元素(Ti)であり、ガスバリア薄膜92をX線光電子分光分析によって測定したチタン元素及びアルミニウム元素の合計含有量に対するチタン元素の含有量の比({Ti/(Ti+Al)}×100)が、41〜78at%である。例文帳に追加
The metal elements of the metal oxides are at least aluminum (Al) and titanium (Ti), and the ratio of titanium content to the total content of titanium and aluminum, [Ti/(Ti+Al)×100] is 41-78 atom% as a result measured for the gas barrier thin film 92 by X-ray photoelectron spectrometry. - 特許庁
特定のMg、Znを含む組成からなるAl−Mg系アルミニウム合金板製造の際の、最終焼鈍後の調質処理を工夫して、この板の電子エネルギー損失分光法で計測されるMgのK損失端のEELSスペクトルを解析して得られた第一近接ピークの位置が特定範囲内にあるようにして、厳しい成形条件でのプレス成形時のストレッチャーストレインマークの発生を抑制する。例文帳に追加
Generation of the stretcher strain marks in press molding under severe forming conditions is suppressed by devising temper treatment after the final annealing when the Al-Mg based aluminum alloy sheet consisting of a specific composition containing Mg, Zn is manufactured and making a position of a first proximity peak obtained by analyzing EELS spectrums on a K loss end of Mg to be measured by electronic energy loss spectroscopy of the sheet be within a specific range. - 特許庁
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