面積欠陥の英語

コンピュータ５では、欠陥領域画像中の各欠陥の面積および重心位置が求められることにより、各欠陥が属する検査領域が特定され、欠陥の面積に関して検査領域毎に設定される欠陥判定条件に基づいて欠陥が限定される。例文帳に追加

The areas and center-of gravity positions of the respective flaws in the flaw region images are calculated in a computer 5 to specify the inspection region to which respective flaws belong and the flaws are restricted on the basis of the flaw judging conditions set at every inspection region in relation to the areas of the flaws. - 特許庁

オペレータがサンプル画像内の局所的な欠陥領域を指定した後、面積しきい値を最小値として欠陥候補検出を行って（Ｓ２）、見逃し欠陥、ノイズ欠陥、指定欠陥候補に分類する（Ｓ３）。例文帳に追加

An operator designates local defective areas within a sample image, subsequently performs defect candidate detection with the area threshold as a minimum value (S2), and classifies the defect candidates into overlooked defects, noise defects and designated defect candidates (S3). - 特許庁

検査画像取得工程にて取得された画像データ中でムラ欠陥よりも面積が小さい点欠陥、シミ欠陥の各画素の輝度データを周囲の画素の輝度データに基づく補間値で置き換えてこの非評価対象欠陥種を修補する（点・シミ欠陥修補工程ＳＴ２００）。例文帳に追加

Brightness data of each pixel of a point defect or a strain defect having a smaller area than an irregular defect in the image data acquired in the inspection image acquisition process is replaced with an interpolation value based on brightness data of a peripheral pixel, to thereby repair the non-evaluation object defect species (point/strain defect repair process ST200). - 特許庁

本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction. - 特許庁

２値化手段で修復した画像データを第２のしきい値で２値化、欠陥面積算出手段で欠陥面積Ｓ_２を算出、面積比較手段で欠陥面積Ｓ_２が規格面積Ｓ_ｎより小さなものはノイズと検知し、良品と判定。例文帳に追加

The binarizing means binarizes the restored image data with a second threshold, a defective area calculating means calculates a defective area S_2, an area comparing means detects a candidate blot having the defective area S_2 smaller than a specification area S_n as a noise and an element thereof is determined as a non-defective product. - 特許庁

検査領域に応じて異なる面積に関する欠陥判定条件を用いることにより、欠陥を効率よく検出することができる。例文帳に追加

The flaws can be efficiently detected using the flaw judging condition related to the areas different corresponding to the inspection regions. - 特許庁

過程１４は、過程１３で得られたデータから絶縁膜の欠陥分布（単位面積当たりの欠陥）を求める。例文帳に追加

In a process 14, the defect distribution (number of defects per unit area) of insulating films is found from data provided in the process 13. - 特許庁

ムラ欠陥検出工程（ＳＴ３００）にて検出されたムラ欠陥の欠陥面積、平均輝度に基づいて液晶パネルをランク判定する（ランク判定工程ＳＴ４００）。例文帳に追加

Rank determination of the liquid crystal panel is performed based on a defect area of the irregular defect and average brightness detected in the irregular defect detection process (ST300) (rank determination process ST400). - 特許庁