2次収束の英語

一次電子線の収束点２４には，試料２から発生する二次粒子の軌道に作用する場を供給する検出部用ExB１６を設け，特定のエネルギー範囲の二次粒子のみを検出部１３に導く。例文帳に追加

An ExB 16 for a detection part supplying a field acting on tracks of secondary particles generated from a sample 2, is arranged at the convergence point 24 of the primary electron beam, and only the secondary particles in a specific energy range is guided to a detection part 13. - 特許庁

電子線装置は、電子銃１，２，３からの一次電子線を収束させて試料１５上で走査し、試料１５から放出される二次電子線を検出して試料１５の評価を行う。例文帳に追加

This electron beam system converges a primary electron beam from electron guns 1, 2 and 3 to scan it on a sample 15, and detects secondary electron beams emitted from the sample 15 to evaluate the sample 15. - 特許庁

また、インピーダンス変換部５に放射部４から位相変換部６に向かって収束する一対の湾曲面５ａを形成し、これら湾曲面５ａの断面形状を近似的な二次曲線にすることにより、誘電体フィーダ２の厚みが放射部４から位相変換部６に向かって次第に薄くなるように収束させる。例文帳に追加

A pair of curved surfaces 5a converging towards the phase conversion section 6 from the radiating section 4 are formed to the impedance conversion section 5, and the thickness of the dielectric feeder 2 is converged so as to be gradually thinned towards the phase conversion section 6 from the radiating section 4 by forming the sectional shapes of these curved surfaces 5a in an approximate secondary curve. - 特許庁

Ａｒより高い収束性を持つ金属元素のイオンを一次イオン種として用いるとともに、試料１と反応性に富む元素の酸化物２を試料１の表面に付着させた状態で一次イオン３を照射して二次イオン４を発生させる。例文帳に追加

This method/instrument uses a metal ion having the convergency higher than Ar as a primary ion species, and an oxide 2 of an element reactive with a sample 1 is irradiated with a primary ion 3 under the condition where the oxide 2 is deposited on the surface of the sample 1, so as to generate a secondary ion 4. - 特許庁

次に、作業（２）は、浮きノード群の検出作業によって検出された浮きノード群にダミーの電圧源（仮電圧源）を付加することにより、シミュレーションにおける収束性を確保する。例文帳に追加

In the work (2), the convergency of simulation is secured by adding a dummy voltage source (temporary voltage source) to the floating node group detected in the work (1). - 特許庁

対物レンズで収束された１次電子Ｙによって試料５を走査することにより発生した２次電子Ｚに基づいて試料５の像観察を行なう電子線装置２０において、２次電子Ｚを電気的信号に変換するための２次電子検出器２の前方に２次電子Ｚのエネルギーに基づいて２次電子Ｚを選択的に２次電子検出器２に送るための選択装置２１を設けた。例文帳に追加

In an electron beam device 20 for monitoring the image of a sample 5, according to secondary electrons Z generated by scanning of the sample 5 with primary electrons Y converged by an objective lens, a selecting means 21 for selectively applying the secondary electrons Z, according to energy of the secondary electrons Z, to a secondary electron detector 2 is provided in front of the electron detector 2 for converting the secondary electrons Z into electrical signals. - 特許庁

Ｘ線発生器２、Ｘ線収束手段３およびＸ線検出器４を一体的に組み込んだユニット１と、前記ユニット１を二次元または三次元方向に移動させるための移動手段Ｍと、前記移動手段Ｍを制御するための制御部１’とを備えた。例文帳に追加

This fluorescent X-ray analyzer is provided with a unit 1 into which an X-ray generator 2, an X-ray converging means 3, and an X-ray detector 4 are integrally incorporated; a moving means M which moves the unit 1 in two- or three-dimensional directions; and a control section 1' which controls the moving means M. - 特許庁