Product Testerとは 意味・読み方・使い方

To enable the product inspection of ASICs including LVDS receivers by generating only digital signals from an LSI tester.例文帳に追加

この発明は，ＬＳＩテスタからデジタル信号のみを発生させることでＬＶＤＳレシーバを含むＡＳＩＣの製品検査を可能にする。 - 特許庁

To provide a sheet connector as an anisotropic conductive sheet for easily thinning a sheet, semiconductor tester and packaged semiconductor product using the above sheet connector.例文帳に追加

シートの薄肉化を容易化できる異方性導電シートであるシート状コネクタ、それを用いた半導体検査装置および実装半導体製品を提供する。 - 特許庁

In a test by tester handler, the defective mode stored in the nonvolatile memory circuit for a defective product is read out during defect analysis, a defective product having a defective mode required for analysis is selected.例文帳に追加

テスタ・ハンドラによる試験において、上記不良解析時に不良製品について不揮発性記憶回路に記憶された不良モードを読み出して、解析に必要な不良モードを持つ不良製品を選別する。 - 特許庁

This connecting sheet 6 for the tester head is arranged between the solder ball 5 of the semiconductor product and the tester head 1 of the inspection device, used for electric connection of them, and has a sheet base material 61 in which a plurality of conductive particles 5 coming into contact with the solder ball 2 are contained.例文帳に追加

半導体製品の半田ボール５と検査装置のテスターヘッド１との間に設置して両者を電気的に接続するために使用され、シート基材６１に半田ボール２と接触する複数個の導電粒子５が配置されたテスターヘッド用接続シート６。 - 特許庁

To provide a leakage-measuring method, in which the existence of an external leak in a product is determined with high accuracy and efficiently by preventing an wrong determination due to the influence of an internal leak, when the leakage in the product is inspected by using a leak tester in the production line of forgings and other moldings.例文帳に追加

鋳造品、その他の成形物の生産ラインにて、リークテスタを用いて製品の漏れ検査を行う際に、内部漏れの影響による誤判定を防いで、製品の外部漏れの有無判定を高い精度で効率的に行う。 - 特許庁

A cured product of the composition has a water drain off time of ≤30 min when it is measured by a mirror plane structured draining tester with a 700 mm long, a 700 mm wide, and a slant degree of 3°.例文帳に追加

熱硬化性樹脂組成物の硬化物は、縦７００ｍｍ、横７００ｍｍ、斜度３°の鏡面構造の排水性試験器で測定したときの、排水時間が３０分以下である。 - 特許庁

If the screening tester sets a product class code of the diode to be tested, a select bit code corresponding to it is stored in registers 5, 6, switches SW1-SW6, SW8-SW13 are switched, and a current amplification factor, corresponding to the product class, is set.例文帳に追加

選別機テスタから、テストを行うダイオードの品種コードを設定すると、それに対応するセレクトビットコードがレジスタ５，６に格納されてスイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３が切り替えられ、各品種に応じた電流増幅率が設定される。 - 特許庁

Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加

異常検出システム３０の入力部３２が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ１５をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ２５をＬＳＩテスタ２０から入力する。 - 特許庁