「Product Tester」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To enable the product inspection of ASICs including LVDS receivers by generating only digital signals from an LSI tester.例文帳に追加

この発明は，ＬＳＩテスタからデジタル信号のみを発生させることでＬＶＤＳレシーバを含むＡＳＩＣの製品検査を可能にする。 - 特許庁

Finally, a tester check is performed only once to discriminate a defective/non-defective product so that no check (S40) is necessitated before the trimming.例文帳に追加

最後に一回だけ、良品／不良品を判別するテスタ検査を行い、これにより、トリミング前の検査を不要とする（Ｓ４０）。 - 特許庁

The curable composition can form a cured product satisfying the following index formulas (1) and (2) in a loading-unloading test with a micro hardness tester.例文帳に追加

微小硬度計による負荷−除荷試験において、下記指標式（１）及び（２）を満たす硬化物を形成しうる硬化性組成物。 - 特許庁

This connecting sheet 6 for the tester head is arranged between the solder ball 5 of the semiconductor product and the tester head 1 of the inspection device, used for electric connection of them, and has a sheet base material 61 in which a plurality of conductive particles 5 coming into contact with the solder ball 2 are contained.例文帳に追加

半導体製品の半田ボール５と検査装置のテスターヘッド１との間に設置して両者を電気的に接続するために使用され、シート基材６１に半田ボール２と接触する複数個の導電粒子５が配置されたテスターヘッド用接続シート６。 - 特許庁

In a test by tester handler, the defective mode stored in the nonvolatile memory circuit for a defective product is read out during defect analysis, a defective product having a defective mode required for analysis is selected.例文帳に追加

テスタ・ハンドラによる試験において、上記不良解析時に不良製品について不揮発性記憶回路に記憶された不良モードを読み出して、解析に必要な不良モードを持つ不良製品を選別する。 - 特許庁

To provide a sheet connector as an anisotropic conductive sheet for easily thinning a sheet, semiconductor tester and packaged semiconductor product using the above sheet connector.例文帳に追加

シートの薄肉化を容易化できる異方性導電シートであるシート状コネクタ、それを用いた半導体検査装置および実装半導体製品を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor inspection device which can realize inspection in an environment close to the actual use condition of a product, without requiring preparation of an expensive LSI tester, in inspecting a semiconductor device for radio communication.例文帳に追加

無線通信用の半導体装置を検査する際に、高価なＬＳＩテスタを用意する必要がなく、製品の実使用状態に近い環境で検査を実現することができる半導体検査装置を得る。 - 特許庁

When performing the product inspection of the A/T 2, the characteristic value stored in the recording medium 16 is read by a completion inspection tester 18 and transmitted to the ECU 3 integral with the A/T by the CAN communication, the characteristic value being written in the ECU 3.例文帳に追加

Ａ／Ｔ２の完成品検査時には、完検テスタ１８が記録媒体１６に記憶されている特性値を読み込んでＡ／Ｔ一体ＥＣＵ３にＣＡＮ通信で送信し、この特性値がＥＣＵ３に書き込まれる。 - 特許庁

A cured product of the composition has a water drain off time of ≤30 min when it is measured by a mirror plane structured draining tester with a 700 mm long, a 700 mm wide, and a slant degree of 3°.例文帳に追加

熱硬化性樹脂組成物の硬化物は、縦７００ｍｍ、横７００ｍｍ、斜度３°の鏡面構造の排水性試験器で測定したときの、排水時間が３０分以下である。 - 特許庁

Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加

異常検出システム３０の入力部３２が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ１５をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ２５をＬＳＩテスタ２０から入力する。 - 特許庁

To impress proper signals to different kinds of product groups using a common tester to inspect products by changing probes for inspection to be conformed with the inspected products, when inspecting the plural product groups for the inspection of which different probes have to be used.例文帳に追加

異なるプローブを用いなければならない複数の製品群の検査をする場合に、検査用のプローブを検査する製品に合せて変更すれば、そのまま共通のテスタを用いて異なる種類の製品群に適正な信号を印加してを検査することができる製品の検査方法を提供する。 - 特許庁

If the screening tester sets a product class code of the diode to be tested, a select bit code corresponding to it is stored in registers 5, 6, switches SW1-SW6, SW8-SW13 are switched, and a current amplification factor, corresponding to the product class, is set.例文帳に追加

選別機テスタから、テストを行うダイオードの品種コードを設定すると、それに対応するセレクトビットコードがレジスタ５，６に格納されてスイッチＳＷ１〜ＳＷ６，ＳＷ８〜ＳＷ１３が切り替えられ、各品種に応じた電流増幅率が設定される。 - 特許庁

To provide a leakage-measuring method, in which the existence of an external leak in a product is determined with high accuracy and efficiently by preventing an wrong determination due to the influence of an internal leak, when the leakage in the product is inspected by using a leak tester in the production line of forgings and other moldings.例文帳に追加

鋳造品、その他の成形物の生産ラインにて、リークテスタを用いて製品の漏れ検査を行う際に、内部漏れの影響による誤判定を防いで、製品の外部漏れの有無判定を高い精度で効率的に行う。 - 特許庁

To create basic data for product development, stock control and the like by recording and totaling kinds of cosmetics, number of times, time, dates etc., on which a customer tests at the cosmetics tester counter displaying various kinds of cosmetics used while the customer is testing the cosmetics.例文帳に追加

顧客が化粧品を試す際に用いられる種々の化粧品が配列されている化粧品テスターカウンタにおいて、顧客が試す化粧品の種類、回数、時間、日時等をホストコンピュータに記録し、それらを集計して、商品開発、在庫管理等の基礎データとする。 - 特許庁

When a tester 40 or a test board 12 itself of a test system is checked, or when a test program is debagged, a multiple switch 33 with contacts provided on the test board 12 is operated to be closed, so as to connect an IC socket 34 mounted with a finished product IC to an external connection terminal 32.例文帳に追加

テストシステムのテスタ４０、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行う際には、テストボード１２上に設けられた有接点多重スイッチ３３を閉操作して、完成品ＩＣを載置したＩＣソケット３４と外部接続端子３２との間を接続する。 - 特許庁

To eliminate a need of a socket substrate for checking a tester and a test board itself of a test system, and for debagging a test program, and to optionally conduct attachment and detachment for a finished product IC and an IC socket without depending on insertion and removing of a pin.例文帳に追加

テストシステムのテスタ、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行うための、ソケット基板を不要とすると共に、完成品ＩＣ、ＩＣソケットの脱着をピンの挿脱によることなく、任意に行うこと。 - 特許庁

In the wafer test process, a test time criterion value is calculated from test time achievements in the past for each product and each measurement conditions, and actual test time is compared with the criterion value for every notice of wafer end from a device such as a tester thus performing GO/NO-GO test.例文帳に追加

ウエハのテスト工程にて、各製品毎、測定条件毎の過去のテスト時間実績からテスト時間判定基準値を算出し、テスタ等の装置からのウエハ終了通知毎に、実際のテスト時間と、判定基準値とを比較し良否判定を行う。 - 特許庁