SIMS onとは 意味・読み方・使い方

For more information, please see the ppp(8) manual page or the Handbook entry on user PPP.発音を聞く 例文帳に追加

設定に関するさらに詳しい情報は、 Steve Sims 氏による Pedantic PPPPrimer にあります。 - FreeBSD

This makes it possible to correct a sensitivity change in the vicinity of the gate oxide film owing to a matrix effect in SIMS measurement on the laminated structure with the polysilicon/gate oxide film formed therein.例文帳に追加

これにより、ポリシリコン/ゲート酸化膜が形成された積層構造に対するSIMS測定において、マトリックス効果に起因するゲート酸化膜付近の感度変化を補正することができる。 - 特許庁

The metal contamination by TOF-SIMS on a silicon substrate can be determined accurately by this invention.例文帳に追加

本発明によれば、シリコン基板上のＴＯＦ−ＳＩＭＳによる金属汚染の定量を正確に行うことができる。 - 特許庁

Furthermore, impurity profiles can be retrieved from a SIMS data table 13 based on a retrieval result, for instance, an impurity introduction process.例文帳に追加

その検索結果、例えば不純物導入工程に基づいて、更にＳＩＭＳデータテーブル１３を検索し、不純物のプロファイルを複数読み出すことができる。 - 特許庁

This method of detecting the volatile organic compound existing on the base material surface has (1) a process for bringing the compound into reaction with a volatility modifying reagent to make the compound nonvolatile, and (2) a process for measuring the base material surface by a time-of-flight secondary ion mass spectrometer (TOF-SIMS) to detect the compound.例文帳に追加

基材表面に存在する揮発性有機化合物の検出方法であって、（１）該化合物と揮発性の修飾試薬とを反応させ、該化合物を不揮発化する工程、及び（２）飛行時間型二次イオン質量分析計（TOF-SIMS）により基材表面を測定し、該化合物を検出する工程、を有する、検出方法。 - 特許庁

Concerning a method for specifying the composition ratio of each organic compound in the mixed organic compound formed by mixing at least two or more kinds of organic compounds, this specification method of the composition ratio of the mixed organic compound has a characteristic wherein a spectrum acquired by measuring the mixed organic compound by using TOF-SIMS is specified from a calibration graph formed based on data acquired by performing main component analysis.例文帳に追加

少なくとも２種類以上の有機化合物を混合してなる混合有機化合物中の各有機化合物の組成割合を特定する方法であって、該方法が、混合有機化合物をTOF-SIMSで測定して得られたスペクトルを、主成分分析して得られたデータに基づき作成した検量グラフから特定することを特徴とする混合有機化合物の組成割合の特定方法。 - 特許庁

The masses of ion kinds on the surface of the wafer W, such as CH3Si+, C3H9Si+, C3H9Si-, etc., are analyzed by using an analytical section such as TOF-SIMS, etc., thereby of the analytical equipment A2 measuring the quantity of HMDS(hexamethyl disilazane) on the surface of the wafer W.例文帳に追加

分析装置Ａ２では例えばＴＯＦ−ＳＩＭＳなどの分析部においてウエハＷ表面の例えばＣＨ3Ｓｉ+，Ｃ3Ｈ9Ｓｉ+，Ｃ3Ｈ9ＯＳｉ-等のイオン種の量を質量分析し、これによりウエハＷ表面のＨＭＤＳ量（ヘキサメチルジシラザン）の測定を行う。 - 特許庁