analog measuring systemとは 意味・読み方・使い方

To provide a system for inspecting voltage of analog R, G, B outputs capable of measuring voltage levels of respective outputs of R, G, B with a simple system which does not use an oscilloscape.例文帳に追加

オシロスコープを用いない簡易な方式でＲ、Ｇ、Ｂの各出力の電圧レベルを測定することができるアナログＲＧＢ出力電圧検査方式を提供する。 - 特許庁

A reactor startup monitor is provided with an SRNM detector 1, an analog amplifier 2, an A/D converter 3, a pulse measuring system 4, a Cambell measurement system 5 and a reactor power monitoring means 6.例文帳に追加

原子炉起動監視装置は、ＳＲＮＭ検出器１、アナログ増幅器２、Ａ／Ｄ変換器３、パルス計測系４、キャンベル計測系５、及び原子炉出力監視手段６を備える。 - 特許庁

To provide a performance measurement system and method capable of measuring the time axis fluctuation in a converter between an analog signal and a digital signal, etc.例文帳に追加

アナログ信号及びデジタル信号間の変換器における時間軸変動性能などを測定できる性能測定システムや性能測定方法を提供する。 - 特許庁

To more accurately measure analog type devices by making not only the top surface of a test board but the back surface usable as regions for mounting wafer-measuring components about a wafer measuring board which constitues a wafer test system with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ５１，テスタ６１と共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの上面だけでなく、裏面をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁

To precisely conduct measurement of an analog device, by using not only a periphery of a test board but also a central part which is conventionally a hole part, as a mounting area for wafer measuring components, in a wafer measuring board for constituting a wafer testing system together with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ，テスタと共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの周辺だけでなく、従来穴部であった中央部をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁

To provide a mm wave radar testing apparatus that is incorporated into a mm wave radar apparatus for measuring the distance between mobile units and the relative speed especially by using an FM-CW system regarding the mm wave radar apparatus, and can perform an analog test singly by the apparatus.例文帳に追加

ミリ波レーダ装置に関し、特にＦＭ−ＣＷ方式を用いて移動体間の車間距離及び相対速度を測定するミリ波レーダ装置に組み込まれ、装置単体でアナログ試験が可能なミリ波レーダ試験装置を提供する。 - 特許庁

To solve trouble such that noise is superposed on a signal to be evaluated since a system to be evaluated is hardware and an interface for an objective evaluation measuring instrument is an analog interface and then universality of evaluation can not be secured, i.e. influence of the noise is exerted.例文帳に追加

評価対象系がハードウェアであり、かつ客観評価測定装置とのインタフェースがアナログインタフェースであるため、評価対象信号に雑音が重畳され、結果として雑音により影響を受ける等といった評価の普遍性が確保できなくなる不都合を解消する。 - 特許庁