atomic ionとは 意味・読み方・使い方

By implanting operation of an ion beam, an amount of wear of the ion beam current detecting plate is integrated in an integrating circuit 11 from ion beam current amount converted into a parameter signal in an arithmetic circuit 9, time when the ion beam current detecting plate receives the ion beam, an accelerating voltage value of the ion beam and an atomic mass number of ion.例文帳に追加

イオンビーム１の注入動作により、演算回路にてパラメータ信号に変換したイオンビーム電流量、イオンビーム電流検出板２がイオンビーム１を受けた時間、イオンビーム１の加速電圧値およびイオンの質量数から、積算回路１１にてイオンビーム電流検出板２の削れ量を積算する。 - 特許庁

The method includes a step of irradiating the sample with a neutral atomic beam or ion beam, and a step of irradiating the sample with radiation after the irradiation of the sample with the neutral atomic beam or ion beam and analyzing the electrons from the sample.例文帳に追加

試料に中性原子線又はイオン線を照射する過程と、中性原子線又はイオン線の照射後に、試料に対して放射線を照射し、試料からの電子を分析する過程とを含む。 - 特許庁

Conversely, the inertia of various ions in the flow conveys it into the separator and light ion and heavy ion are separated according to the atomic weight.例文帳に追加

これに対して、流れの中にある種々のイオンの慣性は、これを分離機内へ運び、ここで原子量に従って軽イオンと重イオンとに分離する。 - 特許庁

To provide a simple and versatile method for making an ion beam carry a high current, as to an ion beam generating device used for a device for analyzing an atomic arrangement on a surface and an interface by using a helium ion beam.例文帳に追加

ヘリウムイオンビームを用いて、表面・界面の原子配列を解析する装置に用いるイオンビーム発生装置に関し、簡便で汎用性のあるイオンビームの大電流化方法を提供する。 - 特許庁

The aerial wiring of the metal deposited film, which becomes unnecessary after correction, is removed by ion beam etching or AFM (atomic force microscope) scratch processing.例文帳に追加

修正後不要となった金属デポジション膜空中配線をイオンビームエッチングまたはAFMスクラッチ加工で除去する。 - 特許庁

The cooking method comprises using atomic carbon having a diameter of ≤1 nm without modification, or utilizing negative ion water generated by dissolving the atomic carbon in water.例文帳に追加

直径が１ｎｍ以下の原子状炭素を直接用いて、或いはこの原子状炭素を水中に溶解させて生成したマイナスイオン水を使って調理を行うことを特徴とする。 - 特許庁

For example, an interaction between the surface of the ion exchanger and a cantilever that is a probe of an atomic force microscope is measured, and the charge state of the ion exchanger is checked, thereby evaluating the capability of the ion exchanger.例文帳に追加

例えば、原子間力顕微鏡の探針であるカンチレバーとイオン交換体の表面との相互作用を測定し、イオン交換体の電荷の状態を調べることにより、イオン交換体の性能評価を行う。 - 特許庁

To provide a plasma generator which is capable of efficiently generating both molecular ions and atomic ions by using a single ion source.例文帳に追加

一つのイオン源を用いて、分子イオンも、原子イオンも効率よく発生させることのできるプラズマ発生装置を提供する。 - 特許庁