batch testとは 意味・読み方・使い方

The instrument is equipped with a vacuum station receiving the carrier so as to load fluid samples to be tested in a batch to the test devices.例文帳に追加

器具は、試験装置に試験される流体試料を一括して装填するように担体を受け取る真空ステーションを備えている。 - 特許庁

To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.例文帳に追加

検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁

When an operator inputs via a keyboard 6 the application to be tested and a batch file, the CPU 7a of an IC card test apparatus 3 reads from an HDD 8 a profile and a batch file that correspond to the designated application A, and creates a batch file that is characteristic of the application A.例文帳に追加

オペレータによってキーボード６を介してテストを実施するアプリケーションとバッチファイルが入力されると、ＩＣカード試験装置３のＣＰＵ７ａはＨＤＤ８から指定されたアプリケーションＡに対応するプロファイル、バッチファイルを読み出し、アプリケーションＡ固有のバッチファイルを作成する。 - 特許庁

When receiving a forenotice of online batch for the test from the online systems and the input telegraphic messages match between the online systems, the information processing device interrupts the input of the telegraphic messages and notifies each online system of an execution command of the online batch.例文帳に追加

オンラインシステムからテスト用のオンラインバッチの予告通知を受信した際、投入済みの電文がオンラインシステム間で一致している場合、電文投入を中断し、オンラインバッチの実行指示を各オンラインシステムに通知する。 - 特許庁

A memory 128 is provided, and the measurement data of the IDDQ test in the plurality of times are accumulated in the memory 128, and transferred in batch to an LSI tester.例文帳に追加

また、メモリ１２８が設けられおり、このメモリ１２８に、複数回のＩＤＤＱテストの測定データを蓄積し、一括してＬＳＩテスタに転送する。 - 特許庁

Further, the user can automatically take a batch of measurements only by describing the file names of command files and test ID in the condition definition file.例文帳に追加

また、ユーザーは、条件定義ファイルに、コマンドファイルのファイル名とＴｅｓｔＩＤを記述するだけで、一括した測定を自動的に実施することができる - 特許庁

In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.例文帳に追加

デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁

The failure block detection circuit 10 is activated in the initial stage of test control sequence when batch write test is performed in units of batch erase or write for unit erase of the memory cell array 1 and a control circuit 7 controls interruption of drive voltage supply to a failure memory cell based on the output from the failure block detection circuit 10 in the test sequence thereof.例文帳に追加

不良ブロック検出回路１０は、メモリセルアレイ１の消去単位での一括消去又は書き込み単位での一括書き込みのテストを行う際にそのテスト制御シーケンスの初期に活性化され、制御回路７はそのテストシーケンスにおいて、不良ブロック検出回路１０の検出出力に基づいて不良メモリセルへの駆動電圧供給の停止を制御する。 - 特許庁