bias testingとは 意味・読み方・使い方

BIAS POWER CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置用バイアス電源回路 - 特許庁

This testing device energizes the specimen at zero voltage, keeping the voltage between the terminals of the voltage accumulating circuit constant by the switching on/off of the switching element for bias stabilization.例文帳に追加

バイアス安定化スイッチング素子のオン，オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。 - 特許庁

In the apparatus, transfer bias applied to a transfer roll is turned on at (-) polarity when printing and cleaning is carried out and then testing voltage is applied at the same (-) polarity without turning it off.例文帳に追加

転写ローラに印加する転写バイアスは、プリント開始時に（−）極性でＯＮして、クリーニングを行い、その後ＯＦＦせず、同（−）極性で試験電圧を印加する。 - 特許庁

When testing is carried out for these driving circuits by connecting a test device with a common driving circuit 20 and a segment driving circuit 30, switches 51-55 of a bias circuit 40 are made on by applying a test signal TEST.例文帳に追加

コモン駆動回路２０及びセグメント駆動回路３０に試験装置を接続してこれらの駆動回路の試験をするとき、試験信号ＴＥＳＴを印加してバイアス回路４０のスイッチ５１〜５５をオンにする。 - 特許庁

While a constant voltage (signal level) A_0 is being inputted from a signal generation section 3 to a test target 2, a bias voltage B applied to the test target 2 is adjusted and an output voltage (signal level) D to be tested is controlled to a specific target range before testing the test target 2 by the testing apparatus 11.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧（信号レベル）Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

The organic encapsulant composition applied to formed-on-foil ceramic capacitors and embedded inside printed wiring boards allows the capacitor to resist printed wiring board chemicals, thereby passing an accelerated life testing conducted for 1,000 hours under high humidity, elevated temperature and applied DC bias.例文帳に追加

箔上焼成セラミックコンデンサに塗布され、プリント配線板に埋め込まれた有機封止材組成物により、コンデンサがプリント配線板用化学薬品に耐え、高湿度、高温および印加直流バイアス下で行われる１０００時間の加速寿命試験にパスすることが可能となる。 - 特許庁

When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.例文帳に追加

チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁