comparison of testとは 意味・読み方・使い方

Preferably, the width of the protrusion is smaller in comparison with the width of the lateral groove in the test method.例文帳に追加

好ましくは、この試験方法では、上記凸条の幅は、上記横溝の幅に比して小さい。 - 特許庁

Since a driven relative speed of the test pieces is doubled in comparison with immovably fixing the test piece S2, the test time is reduced by half.例文帳に追加

試験体Ｓ２を動かないよう固定する場合と比較して試験体の駆動される相対速度が２倍となるので試験時間が半減される。 - 特許庁

The switching circuit couples the test currents with the reference currents, and thereby realizes a differential swing comparison mode and a common mode comparison mode necessary for the test of a differential signal.例文帳に追加

スイッチング回路は、試験電流と基準電流を結合し、それにより差動信号の試験に必要な差動揺れ比較モードおよびコモンモード比較モードを実現している。 - 特許庁

The obtained magnetic data are analyzed in comparison with the result of the material test, thus the detailed internal changes of the test piece TP when the external force for the material test is applied can be grasped.例文帳に追加

得られた磁気データを材料試験の結果とも対比して分析することにより、材料試験のための外力印加に伴う試験片ＴＰの細部の内的変化が把握できる。 - 特許庁

To provide A/D converter test system and method for substantially shortening test time by reducing the number of times of comparison required for analog/digital conversion.例文帳に追加

アナログ・デジタル変換に必要な比較の回数を減らすことによりテスト時間を大幅に短縮するＡ／Ｄコンバータテスト方式および方法を提供する。 - 特許庁

The respective pitons are respectively individually driven to the respective test pieces by lever manipulation, by which the experiencing of the strength comparison of the respective test pieces is made possible.例文帳に追加

そして、レバー操作により各ハーケンを各試験片に対し個々に打ち付けて各試験片の強度比較を体験するようになされたものとする。 - 特許庁

Test circuits of semiconductor integrated circuits exchange test data via a path including the data bus 12, and the test circuit of the semiconductor integrated circuit that has received the test data determines a data transfer failure according to the comparison of the received test data with reference data.例文帳に追加

データバス１２を含む経路を介して半導体集積回路のテスト回路間でテストデータを送受信し、テストデータを受信した半導体集積回路のテスト回路が、受信したテストデータと参照データとの比較結果に基づいてデータ転送障害を判定する。 - 特許庁

To automatically determine comparison verification conditions used for parallel running test of an old calculator and a new calculator.例文帳に追加

旧計算機と新計算機とのパララン試験で使用する比較検証条件を自動で決定する。 - 特許庁