contact scanとは 意味・読み方・使い方

In the area more on the center side of the ID token 10 than an ID code scan line 70 on an ID code formation surface, that is in the area more on the inner side than a scan line contact circle 85, an intrinsic identification mark 90 which can be visually identified is attached.例文帳に追加

ＩＤコード形成面におけるＩＤコードスキャンライン70よりもＩＤメダル10の中心側の領域に、すなわち、スキャンライン接円85よりも内側の領域に、視覚的に識別できる固有の識別マーク90を付する。 - 特許庁

A method in which spatially controlled contact is possible is to scan the immersion liquid on the region of the substrate comprising at least a first material.例文帳に追加

空間的に制御された接触の可能な方法は、少なくとも第１材料を含む基板の領域上で、浸漬液を走査することである。 - 特許庁

The wipers 63, 64 contact the ink ejection face 4 and reach the outside end of the ink ejection face 4 for wiping from its inside end concerning the main scan direction.例文帳に追加

ワイパー６３，６４は、インク吐出面４と接触し、主走査方向に関して、払拭するインク吐出面４の内側端部から外側端部に到達する。 - 特許庁

A light spot S is moved in a reading sub scan direction in an overlapping part M on a contact glass 5 of line image sensors 1, 2 of respective reading optical systems A, B.例文帳に追加

光スポットＳを、各読取光学系Ａ，Ｂのラインイメージセンサ１，２のコンタクトガラス５上における重合部分Ｍにて、読取副走査方向に移動させる。 - 特許庁

The smoothing control part 601 makes a smoothing moving unit 656a scan, and the smoothing is performed for the spine of the booklet by the exchanged pressure contact roller (S47).例文帳に追加

平滑化処理制御部６０１は、平滑化移動ユニット６５６ａを走査し、切り替えられた圧接ローラにより、冊子の折り頂部の平滑化処理を行う（Ｓ４７）。 - 特許庁

The read roller 4 is transparent, the contact part of the fingerprint 3 is irradiated with light from a light source 7 by an optical system 5 and an image is read in the main scan direction by a line sensor 8.例文帳に追加

読取りローラ４は透明であり、光学系５は指紋３の接触部分に光源７からの光を照射し、ラインセンサ８で主走査方向に画像を読取る。 - 特許庁

To provide an apparatus for cleaning a fingerprint authentication machine which is capable of quickly, surely, and safely cleaning a scan glass surface with which a finger to be authenticated comes into contact.例文帳に追加

認証すべき指が接触するスキャンガラス面を、高速で確実かつ安全にクリーニングを行うことが可能な、指紋認証機クリーニング装置を提供する。 - 特許庁

When any of the first line electrodes 22 is bent, and brought into contact with any corresponding second line electrode 16 by the pressurizing force applied to the pressurizing part 20, the conduction is detected by a scan circuit 30, and a voltage applied to the second electrode 16 is detected by a scan circuit 32.例文帳に追加

押圧部２０に付与された押圧力で、何れかの第１ライン電極２２が撓んで対応する第２ライン電極１６に接触すると、この導通がスキャン回路３０で検出され、更に、第２ライン電極１６に印加される電圧がスキャン回路３２で検出される。 - 特許庁