deep defectとは 意味・読み方・使い方

To enable quantitative evaluation independent of intuition of a worker, great cost reduction required for inspection, and the inspection of a deep defect.例文帳に追加

作業者の勘に頼らない定量的な評価、検査に要するコストの大幅な削減、深い欠陥の検査を可能にする。 - 特許庁

To provide a transparent body inspection device for determining how deep a defect exists in, when the defect exists within a transparent body which is an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象となる透明体の内部に欠陥が存在する場合に、その欠陥がどのくらい深い位置に存在しているかを特定できる透明体検査装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate certainly crystal defect of a deep trench side wall which is formed in a distorted Si substrate without being accompanied by deformation of the trench or the like.例文帳に追加

歪Ｓｉ基板に形成された深い溝側壁の結晶欠陥を、溝の変形等を伴うことなく確実に除去する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing sanitary ware capable of manufacturing the sanitary ware having a deep feel color tone without causing appearance defect.例文帳に追加

奥行のある質感の色調を有する衛生陶器を外観不良を伴うことなく作製可能な衛生陶器の製造方法を提供すること。 - 特許庁

Thereby, since CMP processing can be executed while viewing the substrate defect 3 in executing the CMP processing, it can be avoided that the board defect can not be removed even if the CMP processing is executed because the board defect is located at a deep position, and the CMP processing is executed up to a part without needing to be removed by taking a lot of time.例文帳に追加

これにより、ＣＭＰ加工の際に、基板欠陥３を目視しながら行えるため、基板欠陥が深い位置にあるためにＣＭＰ加工してもそれが取り除けていなかったり、除去する必要がない部分まで時間をかけてＣＭＰ加工を行ったりすることを防止できる。 - 特許庁

To provide a method for removing surely even a crystal defect formed on a position deep from the surface of an SiC layer deposited by an epitaxial growth method.例文帳に追加

エピタキシャル成長法により堆積させたＳｉＣ層の表面から深い位置に形成された結晶欠陥でも、確実に除去することができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser light source which can be operated at room temperature and is capable of efficiently generate deep ultraviolet rays and to provide a mask inspection device and an exposure device which have a high defect detection sensitivity due to this deep ultraviolet laser light source and are small-sized and stable.例文帳に追加

室温で動作することが可能な深紫外光を効率良く発生できるレーザ光源を提供することであり、また、この深紫外光レーザ光源により、高い欠陥検出感度を有する小型で安定したマスク検査装置及び露光装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent a surface defect of a product made of a billet to contrive the enhancement in a yield by eliminating a scale lump remaining in a deep groove part in carrying out scarfing of the billet.例文帳に追加

鋼片をスカーフィングする際の深掘れ部に残留するスケール塊を除去することにより、その鋼片からなる製品の表面欠陥を防止して歩留まり向上を図ることを課題とする。 - 特許庁