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defect fromとは 意味・読み方・使い方
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「defect from」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2450件
A defect correction function section 184 corrects the defect by using defect information read from the defect address memory 38b.例文帳に追加
欠陥アドレスメモリ38b から読み出した欠陥情報を用いて欠陥補正機能部184 で欠陥補正を行う。 - 特許庁
A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21).例文帳に追加
欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する（ステップ２１）。 - 特許庁
From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加
レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁
A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加
欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁
Then, based on at least positional information of the defect included in the reference image, a defect candidate overlaying the defect included in the reference image is removed from the defect candidates by a defect detecting section 45.例文帳に追加
そして、欠陥検出部４５にて基準画像が有する欠陥の少なくとも位置情報に基づいて欠陥候補から基準画像が有する欠陥と重複するものが除外される。 - 特許庁
The scattered light from the defect in the inspection range 14 is strong, so that even a fine defect can be detected.例文帳に追加
検査範囲１４の欠陥からの散乱光は強いから、微細な欠陥でも検出される。 - 特許庁
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「defect from」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 2450件
To make an analysis of a defect easy and to prevent cause investigation of the defect from becoming difficult.例文帳に追加
欠陥の解析を容易にし、欠陥の原因究明が困難になるのを防止する。 - 特許庁
To prevent a transfer defect of a rugged pattern from a stamper to a resist and a defect caused by dust.例文帳に追加
スタンパからレジストへの凹凸パターンの転写不良、及びダストによる欠陥を防止する。 - 特許庁
To discriminate a surface defect from an internal defect of the substrate efficiently in a one-time inspection process.例文帳に追加
基板の表面の欠陥と内部の欠陥とを、１回の検査工程で効率良く弁別する。 - 特許庁
To prevent a pseudo defect due to an alignment defect from being induced in a sample inspection apparatus.例文帳に追加
試料検査装置において、位置合わせ不良による擬似欠陥の誘発を防止する。 - 特許庁
To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected.例文帳に追加
本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない。 - 特許庁
In inspecting defects of a wafer W, the defect observation apparatus 3 inputs defect position data obtained from a defect detector 2.例文帳に追加
ウェハＷの欠陥検査を行う場合、まず欠陥観察装置３は、欠陥検出装置２からの欠陥位置データを入力する。 - 特許庁
Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.例文帳に追加
そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁
To classify discriminably a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like.例文帳に追加
短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。 - 特許庁
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