「defect from」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Then, the detection device determines a point defect and a line defect from the defect pixel candidates in each classification after movement.例文帳に追加

そして、検出装置は、移動後の前記種別ごとの欠陥画素候補から、点欠陥又は線欠陥を決定する。 - 特許庁

The device is also characterized by determining the defect generation cause by performing defect discrimination from frequency component information of the defect signals.例文帳に追加

この欠陥信号の周波数成分情報から、欠陥弁別をおこない欠陥の発生原因を判定する。 - 特許庁

A determination part 52 acquires a plurality of defect factor pairs comprising defect factors deriving from the same defect.例文帳に追加

判定部５２では、同一欠陥に由来する欠陥要素により構成される複数の欠陥要素ペアが取得される。 - 特許庁

By using the primary defect list or the secondary defect list, the defect management information is simultaneously reproduced from a plurality of the adjacent defect management areas (step 3).例文帳に追加

この一次欠陥リストまたは二次欠陥リストを用いて、近接する複数の欠陥管理領域から一度に欠陥管理情報を再生する（ステップ３）。 - 特許庁

To make an analysis of a defect easy and to prevent cause investigation of the defect from becoming difficult.例文帳に追加

欠陥の解析を容易にし、欠陥の原因究明が困難になるのを防止する。 - 特許庁

To prevent a pseudo defect due to an alignment defect from being induced in a sample inspection apparatus.例文帳に追加

試料検査装置において、位置合わせ不良による擬似欠陥の誘発を防止する。 - 特許庁

A defect list for reproducing the defect management information from the defect management area is provided and the defect list is registered to a primary defect list to which the address of a defect found at the time of initialization is registered (step 21).例文帳に追加

欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生するための欠陥リストを備えて、この欠陥リストを、初期化時に発見された欠陥のアドレスを登録した一次欠陥リストに登録する（ステップ２１）。 - 特許庁

METHOD OF REMOVING DEFECT FROM MEMBER HAVING FINE STRUCTURE例文帳に追加

微細構造を有する部材の欠陥除去方法 - 特許庁

The defect list updating unit 122 determines whether an area specified by the defect address registered in the defect list is the defect area or not, and if the area specified by the defect address is determined not to be the defect area, the defect address registered in the defect list is deleted from the defect list.例文帳に追加

欠陥リスト更新部１２２は、欠陥リストに登録された欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域であるか否かを判定し、欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域でないと判定された場合には、欠陥リストに登録された欠陥アドレスを欠陥リストから削除する。 - 特許庁

The linear defect is different from dislocation.例文帳に追加

前記直線状欠陥は、転位とは異なる欠陥である。 - 特許庁

a defect in a product resulting from an error in the manufacturing process 例文帳に追加

製造工程のミスに起因する商品の欠陥 - EDR日英対訳辞書

From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加

レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 14 is strong, so that even a fine defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲１４の欠陥からの散乱光は強いから、微細な欠陥でも検出される。 - 特許庁

To prevent a transfer defect of a rugged pattern from a stamper to a resist and a defect caused by dust.例文帳に追加

スタンパからレジストへの凹凸パターンの転写不良、及びダストによる欠陥を防止する。 - 特許庁

To discriminate a surface defect from an internal defect of the substrate efficiently in a one-time inspection process.例文帳に追加

基板の表面の欠陥と内部の欠陥とを、１回の検査工程で効率良く弁別する。 - 特許庁

Then, based on at least positional information of the defect included in the reference image, a defect candidate overlaying the defect included in the reference image is removed from the defect candidates by a defect detecting section 45.例文帳に追加

そして、欠陥検出部４５にて基準画像が有する欠陥の少なくとも位置情報に基づいて欠陥候補から基準画像が有する欠陥と重複するものが除外される。 - 特許庁

Also, a waveform part of large defect is detected from the full-wave rectification signal, and a defect compensation pulse for compensating and adding a defect time of the large defect is generated.例文帳に追加

また全波整流信号からラージ・ディフェクトの波形部分を検出し、そのラージ・ディフェクトのディフェクト時間を補償加算するためのディフェクト補償パルスを生成する。 - 特許庁

In inspecting defects of a wafer W, the defect observation apparatus 3 inputs defect position data obtained from a defect detector 2.例文帳に追加

ウェハＷの欠陥検査を行う場合、まず欠陥観察装置３は、欠陥検出装置２からの欠陥位置データを入力する。 - 特許庁

To prevent tearing by biting and defect of gripping at a tenter clip from occurring.例文帳に追加

テンタークリップでの噛みちぎりと把持不良とを防止する。 - 特許庁

To precisely remove the effect of a defect resulting from defective pixels.例文帳に追加

傷画素から傷による影響を精度よく除去できる。 - 特許庁

To reproduce defect management information from a defect management area in time shorter than the time required by a conventional defect information reproducing method by eliminating the track jump of the program searching of the defect management area generated at the time of reproducing the defect management information from a plurality of adjacent defect management areas.例文帳に追加

近接する複数の欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する際に、発生していた欠陥管理領域の頭出しのトラックジャンプを削除し、従来の欠陥情報再生方法よりも短い時間で、欠陥管理領域から欠陥管理情報を再生する。 - 特許庁

Subsequently, the defect correcting apparatus selects the defect correction method, according to the specified requirements by reading the defect correction methods from the database, on the basis of a location of the detected defect on the wiring board to perform defect correction, in accordance with selected defect correction method.例文帳に追加

そして、検出された欠陥の配線基板内における位置に基づいてデータベースから欠陥修正手法を読み出して所定の条件に従い選定し、選定された欠陥修正手法に基づき欠陥の修正を実行する。 - 特許庁

To remove a defect derived from a correction pattern in a defect inspection of a photomask having the correction pattern.例文帳に追加

補正パターンを有するフォトマスクの欠陥検査において、補正パターンに由来する欠陥を除外すること。 - 特許庁

To prevent a defect having no influence or small influence as a defect from being detected.例文帳に追加

本発明は、欠陥として影響のない或いは影響の少ない欠陥を検出することがない。 - 特許庁

The scattered light from the defect in the inspection range 22 is weaker than the scattered light from the defect in the inspection range 23, so that only a further large defect can be detected.例文帳に追加

検査範囲２２の欠陥からの散乱光は検査範囲２３の欠陥からの散乱光よりも更に弱いから、より大きな欠陥のみが検出される。 - 特許庁

To classify discriminably a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like.例文帳に追加

短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。 - 特許庁

To restrain detection sensitivity of a stripe-like defect and detection precision from getting worse.例文帳に追加

スジ状の欠陥の検出感度や精度の低下を抑える。 - 特許庁

Thus, the image defect is prevented from occurring.例文帳に追加

これにより、画像欠陥を生じることが防止されるようになる。 - 特許庁

Since the pixel defect information is corrected starting from one having the highest defect level or a latest detection time, defect pixels can be corrected efficiently even when a defect pixel is generated anew.例文帳に追加

従って、新たに画素欠陥が発生しても欠陥レベルの大きいものから、或いは検出時期の新しいものから補正されるため、効率的に欠陥画素を補正することができる。 - 特許庁

The inspection apparatus of the display panel is provided with a streak defect emphasizing means 300, a defect distinguishing means 400 distinguishing a streak defect from the rubbing streak defect on the basis of the image emphasized by the streak defect emphasizing means 300 and a rubbing streak defect evaluating means 500 evaluating the defect distinguished as the rubbing streak defect by the defect distinguishing means 400.例文帳に追加

表示パネルの検査装置は、スジ欠陥強調手段３００と、前記スジ欠陥強調手段３００において強調された画像に基づいて、スジ欠陥とラビジングスジ欠陥とを分別する欠陥分別手段４００と、前記欠陥分別手段４００においてラビングスジ欠陥と分別された欠陥を評価するラビングスジ欠陥評価手段５００とを備える。 - 特許庁

To prevent visibility defect resulting from misregistration and also prevent visibility defect resulting from an exchange process performed to prevent visibility decrease resulting from misregistration.例文帳に追加

版ずれによる視認性の不具合を防ぐとともに、版ずれによる視認性の低下を防ぐための交換処理によって生じ得る視認性の不具合を防ぐ。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of enlarging a taking range of light scattered from a fine defect, and heightening signal intensity.例文帳に追加

微細な欠陥から散乱した光の取込範囲を拡大し信号強度を高める欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Hereby, a true device defect caused by a short-circuit defect, a disconnection or the like can be classified discriminably from a pseudo defect caused by contamination, particles or the like.例文帳に追加

これによって、短絡欠陥や断線等による真のデバイス欠陥と、コンタミネーションやパーティクル等を起因とする擬似欠陥とを識別して分類する。 - 特許庁

Furthermore, the profile of the defect degree along the X-axis and the profiles of the defect degree along the Y-axis are calculated from the defect degree calculated.例文帳に追加

さらに、算出された欠陥度に基づいて、Ｘ軸に沿った欠陥度のプロファイルおよびＹ軸に沿った欠陥度のプロファイルが算出される。 - 特許庁

The defect detection and correction part executes at least either of operation for selecting a prescribed defect detection mode from among a plurality of the defect detection modes and operation for selecting a prescribed defect correction mode from among a plurality of the defect correction modes on the basis of mode switching conditions after acquiring the mode switching conditions for switching at least either of the defect detection modes and the defect correction modes.例文帳に追加

欠陥検出モード及び欠陥修正モードの少なくとも一方を切換えるためのモード切換条件を取得して、モード切換条件に基づいて、複数の欠陥検出モードから所定の欠陥検出モードを選択することと、複数の欠陥修正モード中から所定の欠陥修正モードを選択することの少なくとも一方を行う。 - 特許庁

To separate a low defect density film from a base substrate after growing the low defect density film on the base substrate.例文帳に追加

ベース基板に低欠陥密度膜を形成した後低欠陥密度膜をベース基板から分離させること。 - 特許庁

Then, a generation cause of the common defect is specified from a common defect distribution corresponding to the discrimination number.例文帳に追加

そして、識別番号に対応する共通欠陥分布から、当該共通欠陥の発生原因を特定する。 - 特許庁

The protruded defect and the recessed defect are judged and discriminated based on a difference between signals from the photodetectors 19a, 19b.例文帳に追加

この光検出器１９ａ、１９ｂの信号の差によって凸状欠陥か凸状欠陥かを判別する。 - 特許庁

To prevent an erroneous defect signal from being caused even though a bright defect is caused during reproducing.例文帳に追加

再生時に明欠陥が発生しても、誤ったディフェクト信号が生成されてしまうのを未然に防止すること。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CAST SLAB FOR STEEL SHEET FREE FROM INCLUSION-INDUCED DEFECT例文帳に追加

介在物性欠陥のない薄鋼板用鋳片の製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device which is free from contact defect of an electrode.例文帳に追加

電極の接触不良のない半導体装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT INDEPENDENT FROM CALIBRATION IN IMAGE SYSTEM例文帳に追加

画像システムにおける、較正から独立した欠陥の修正方法 - 特許庁

A defect detecting means 2 detects a defect on the surface of a sample at a predetermined inspection sensitivity, a false defect specifying means 4 specifies a false defect from defect information acquired by the defect detection, and a non-inspected region setting means 5 sets the detection part of the specified false defect in a non-inspected region.例文帳に追加

欠陥検出手段２は、所定の検査感度で試料表面の欠陥検出を行い、擬似欠陥特定手段４は、欠陥検出により得られた欠陥情報から擬似欠陥を特定し、非検査領域設定手段５は、特定した擬似欠陥の検出箇所を非検査領域に設定する。 - 特許庁

To detect a defect inside a substrate or on its back regardless of the depth from the substrate surface, and to detect a defect on the substrate surface and discriminate it from the defect inside the substrate or on its back.例文帳に追加

基板の内部又は裏面の欠陥を基板の表面からの深さに関わらず検出し、かつ基板の表面の欠陥を検出して基板の内部又は裏面の欠陥と区別する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting device of a cathode ray tube capable of easily specifying on which device a defect is developed from information about the defect when the defect is developed on a surface.例文帳に追加

表面に欠陥が生じた場合、その欠陥に関する情報からどの装置によって欠陥が生じたかを容易に特定することができる陰極線管の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁