defect modelとは 意味・読み方・使い方

The print head model based upon the scan is compared with the activated print head model to discriminate and store a print head defect in order to correct a future bar code scan.例文帳に追加

スキャンに基づく印刷ヘッド・モデル及び活性化印刷ヘッド・モデルが比較されて、印刷ヘッド欠陥を識別して、将来のバーコード・スキャンを修正すべく保存される。 - 特許庁

Thus, an actual CAD model which is more faithful to the shape of the prototype can be created by positioning the actually measured CAD model with the reference CAD model 32 by using a positioning processing part 22 and compensating a defect part of the actually measured CAD model by the shape information of a corresponding part of the reference CAD model 32 by using a model correction processing part 24.例文帳に追加

そこで、位置合わせ処理部２２で実測ＣＡＤモデルと基準ＣＡＤモデル３２とを位置合わせし、モデル修正処理部２４にて実測ＣＡＤモデルの欠落部分を基準ＣＡＤモデル３２の対応部分の形状情報で補完することにより、試作品の形状により忠実な実物ＣＡＤモデルを作成することができる。 - 特許庁

In the feature quantities for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", a learning model B is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of the values of the feature quantity with the defect types "C1" and "C2".例文帳に追加

そして、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない特徴量について、当該特徴量の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＢを形成する。 - 特許庁

To provide a specification defect verification system for operating a state transition model describing product specifications with all parameters, and for easily verifying a defect to be prevented for security.例文帳に追加

製品仕様を記述した状態遷移モデルを、全パラメータにより動作させ、セキュリティ上の起こるべきではない欠陥を、簡易に検証する仕様欠陥検証システムを提供する。 - 特許庁

To form an image having a pattern similar to an image of a model, and having a size larger than that of the image of the model, using the image serving as the model, and to restrain a defect of a pattern from being generated in the formed image.例文帳に追加

モデルとする画像を利用して、同様の模様を有し、かつサイズが大きい画像を作成することが可能であると共に、作成した画像に柄癖が発生することを抑えた画像作成方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.例文帳に追加

撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁

A digital virtual test system including a semiconductor simulation model and an LSI tester simulation model includes a determination means for comparing and determining whether an address signal for accessing a memory function model in the semiconductor simulation model accesses a predetermined address in an address range of the memory function model or not to detect a defect of a test pattern using the LSI tester or the LSI tester simulation model.例文帳に追加

半導体シミュレーションモデルとＬＳＩテスタシミュレーションモデルを含むデジタルヴァーチャルテストシステムにおいて、半導体シミュレーションモデルのメモリ機能モデルをアクセスするアドレス信号が、メモリ機能モデルのアドレス範囲のうち所定のアドレスをアクセスしたかどうかを比較判定する判定手段を設けてＬＳＩテスタまたはＬＳＩテスタシミュレーションモデルを使用したテストパターンの不備を検出する。 - 特許庁

The obtained defect parts 3 become pinholes, having uniform particle sizes in the thin film 2 and parts from which the fine particles are not released become protruded model defects.例文帳に追加

得られた欠損部３は薄膜２に形成される径の揃ったピンホールとなり、微粒子が脱離しなかった部分は突起状のモデル欠陥となる。 - 特許庁