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dynamic test dataとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 動的試験データ

JST科学技術用語日英対訳辞書での「dynamic test data」の意味

dynamic test data


「dynamic test data」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 11



例文

To extract data effective in a dynamic test of a program from waveform data such as time series data to generate test data.例文帳に追加

時系列データなどの波形データの中からプログラムの動的テストに有効なデータを抽出してテストデータを生成すること。 - 特許庁

To shorten test time in a data holding time test of a dynamic ROM using no test circuit or a simple test circuit.例文帳に追加

ダイナミックROMのデータ保持時間検査の検査時間をテスト回路を用いずに、もしくは簡素なテスト回路を用いて短縮する。 - 特許庁

To provide test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

セラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得ることを可能にする。 - 特許庁

To provide a device for generating dynamic stream for network analysis which transmits data stream in order to test and analyze a communication network, a communication system and traffic analysis.例文帳に追加

通信ネットワーク、通信システム、およびトラフィック解析を試験及び解析するためにデータストリームを送信すること。 - 特許庁

Thereby, a dynamic coupling noise is given to the TTRAM, or acceleration test of erroneous operation at the data read and data write can be performed and so on.例文帳に追加

これによって、ダイナミックなカップリングノイズをTTRAMに与えたり、データ読出およびデータ書込時におけるの誤動作の加速試験を行なったりすることができる。 - 特許庁

Hitherto, a data bus line performing static operation is provided for a normal mod and a data bus line performing dynamic operation is provided separately for a test operation mode, but in this device, the same data bus line is used, static operation is performed in the normal operation mode, and dynamic operation is performed in the test operation mode.例文帳に追加

従来、通常モードのために、スタティック動作を行うデータバス線を設け、試験動作モードのために、ダイナミック動作を行うデータバス線を別に設けていたが、本発明では、同じデータバス線を用い、通常動作モードではスタティック動作をさせ、試験動作モードでは、ダイナミック動作をさせるようにする。 - 特許庁

例文

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型DRAMにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

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「dynamic test data」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 11



例文

A test piece 9 is arranged between an input rod 2 and an output rod 3 via a replaceable collision plate 8, the test piece 9 is compressed in a state of not exerting influence of bending force, and a dynamic compression breaking test is performed by replacing the collision plate 8 without replacing the input rod 2 and the output rod 3 to obtain test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

交換可能な衝突板8を介して入力ロッド2と出力ロッド3の間に試験片9を配置し、曲げ力の影響を与えない状態で試験片9を圧縮し、入力ロッド2と出力ロッド3を取り替えることなく衝突板8を交換することで、動的圧縮破壊試験を実施してセラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得る。 - 特許庁

To perform the operation check of a FIFO memory consisting of dynamic elements by making a controlling part access a test data memory consisting of static elements.例文帳に追加

制御部から直接にバスを介して2値化回路のダイナミック素子からなるFIFOメモリに対して動作(読み書き)チェックを実施することができる方法およびOCR装置の提供。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

例文

In the dynamic circuit of the input portion 11 of the flip-flop circuit having the constitution with the scan, the number of serial connection stages of a MOS transistor applied with an input of a data signal D is set less than the number of the serial connection stages of the MOS transistor applied with a test input signal SI.例文帳に追加

スキャン付き構成を有するフリップフロップ回路の入力部11のダイナミック回路において、データ信号Dの入力が加わるMOSトランジスタの直列接続段数を、テスト入力信号SIが加わるMOSトランジスタの直列接続段数よりも少なく設定する。 - 特許庁

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