「dynamic test data」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Hitherto, a data bus line performing static operation is provided for a normal mod and a data bus line performing dynamic operation is provided separately for a test operation mode, but in this device, the same data bus line is used, static operation is performed in the normal operation mode, and dynamic operation is performed in the test operation mode.例文帳に追加

従来、通常モードのために、スタティック動作を行うデータバス線を設け、試験動作モードのために、ダイナミック動作を行うデータバス線を別に設けていたが、本発明では、同じデータバス線を用い、通常動作モードではスタティック動作をさせ、試験動作モードでは、ダイナミック動作をさせるようにする。 - 特許庁

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

A test piece 9 is arranged between an input rod 2 and an output rod 3 via a replaceable collision plate 8, the test piece 9 is compressed in a state of not exerting influence of bending force, and a dynamic compression breaking test is performed by replacing the collision plate 8 without replacing the input rod 2 and the output rod 3 to obtain test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

交換可能な衝突板８を介して入力ロッド２と出力ロッド３の間に試験片９を配置し、曲げ力の影響を与えない状態で試験片９を圧縮し、入力ロッド２と出力ロッド３を取り替えることなく衝突板８を交換することで、動的圧縮破壊試験を実施してセラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得る。 - 特許庁

To perform the operation check of a FIFO memory consisting of dynamic elements by making a controlling part access a test data memory consisting of static elements.例文帳に追加

制御部から直接にバスを介して２値化回路のダイナミック素子からなるＦＩＦＯメモリに対して動作（読み書き）チェックを実施することができる方法およびＯＣＲ装置の提供。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

In the dynamic circuit of the input portion 11 of the flip-flop circuit having the constitution with the scan, the number of serial connection stages of a MOS transistor applied with an input of a data signal D is set less than the number of the serial connection stages of the MOS transistor applied with a test input signal SI.例文帳に追加

スキャン付き構成を有するフリップフロップ回路の入力部１１のダイナミック回路において、データ信号Ｄの入力が加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数を、テスト入力信号ＳＩが加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数よりも少なく設定する。 - 特許庁