electron beam damageとは 意味・読み方・使い方

By this composition, damage to the members in the device caused by the electron beam (b) can be prevented.例文帳に追加

このような構成とすることにより、電子ビームｂにより装置内の部材が損傷されるのを防止することができる。 - 特許庁

To provide an electron beam generator capable of maintaining a vacuum condition for a long period, and capable of reducing a damage of a window material.例文帳に追加

真空状態をより長く維持でき、且つ窓材の破損を低減できる電子線発生装置を提供する。 - 特許庁

To suppress the charging trouble of a film base material upon electron beam vapor deposition as much as possible, and to perform stable film deposition free from damage.例文帳に追加

電子ビーム蒸着を行うときにフィルム基材の帯電障害を極力抑え、損傷のない安定した成膜を行う。 - 特許庁

To provide an electron beam irradiation device that prevents contamination of a vacuum chamber or electron gun by reducing an adverse effect due to an evaporation component incidental to the damage of an insulation coating, which could be led when irradiating with an electron beam at high energy, without giving rise to deterioration of a magnetic domain subdividing effect caused by the electron beam irradiation.例文帳に追加

高エネルギーで電子ビームを照射した際に懸念される、絶縁コーティングの損傷に伴い発生する蒸発成分に起因した悪影響を極力低減して、真空槽や電子銃の汚染を防止すると共に、電子ビーム照射による磁区細分化効果の劣化を招来することのない電子ビーム照射装置を提供する。 - 特許庁

To provide a photoelectric element in which damage on a photoelectric face is reduced and acceleration of electron beams is facilitated, and an electron beam generator.例文帳に追加

光電面におけるダメージを低減するとともに、電子ビームの加速を容易にする光電変換素子、及びこれを用いた電子線発生装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electron accelerator capable of preventing damage on a beam emitter caused by electrons accelerated backward with an acceleration tube in spite of a simple structure, and to provide an X-ray generating apparatus having the electron accelerator.例文帳に追加

簡素な構成でありながら、加速管で後ろ向きに加速された電子によるビーム出射手段の損傷等を防止できる電子加速器及びこれを備えたＸ線発生装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To enable to obtain an S/N ratio of a secondary electron detecting signal of a desired size, even when a radiation amount of a primary electron beam is reduced in order not to damage electric characteristics of a substrate.例文帳に追加

基盤の電気特性を損なわないために一次電子線の照射量を少なくしても、所望の大きさの二次電子検出信号のＳ／Ｎ比が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a sample inspection method for detecting the damage of a film caused by the irradiation of the film with a primary beam when a sample is inspected by irradiating the sample with the primary beam such as an electron beam or the like through the film to prevent the destruction of the film caused by a pressure difference, and a sample inspection device.例文帳に追加

膜を介して試料に電子線等の一次線を照射して試料検査を行う際に、該一次線の膜への照射による膜の損傷を検知し、これにより圧力差による膜の破壊を防止することのできる試料検査方法及び試料検査装置を提供する。 - 特許庁