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意味・対訳 電子テスト
「electronics test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
PIN ELECTRONICS USED WITHIN AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路をテストするための自動テスト装置内で使用するピンエレクトロニクス - 特許庁
In a pin electronics 102a within the semiconductor device test apparatus 100, the reading of the data input/output signal DQ is performed by a comparator 171.例文帳に追加
半導体デバイス試験装置１００内のピンエレクトロニクス１０２ａにおいては、データ入出力信号ＤＱの読み取りをコンパレータ１７１で行う。 - 特許庁
Mechanical relays switching circuits in pin electronics 70 constituting the output part of the semiconductor test device are all composed of semiconductor relays 75.例文帳に追加
半導体試験装置の出力部を構成するピンエレクトロニクス７０内の回路の切換えを行うメカリレーを全て半導体リレー７５で構成する。 - 特許庁
This test head for the semiconductor tester wherein a pin electronics card stored inside the test head and a performance board provided on an upper part of the test head are connected together through a plurality of coaxial cables has a characteristic wherein the coaxial cables are fixed and supported inside the test head by an insulating member.例文帳に追加
テストヘッド内部に収納されているピンエレクトロニクスカードとテストヘッドの上部に設けられているパフォーマンスボードが複数本の同軸ケーブルを介して接続された半導体テスタ用テストヘッドにおいて、前記同軸ケーブルは、断熱部材によりテストヘッド内部に固定支持されていることを特徴とするもの。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device which can intuitively obtain position information of a pin of a pin electronics card allocated to each pin of a DUT with a simple operation procedure.例文帳に追加
簡単な操作手順で、ＤＵＴの各ピンに割り付けられたピンエレクトロニクスカードのピンの位置情報を直感的に把握できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁
This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加
本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁
When the circuit is simulated, a spike enable input structure 257 supplies a voltage level making a pull down transistor 248 in a state of default opening, and connects external electronics to a test-spike input structure 254.例文帳に追加
シミュレートする場合は、スパイクイネーブル入力構造２５７はプルダウントランジスタ２４８をデフォルトオープンの状態にする電圧レベルを供給し、外部のエレクトロニクスをテストスパイク入力構造２５４に取りつける。 - 特許庁
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「electronics test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
Parameters required for operating the IC tester are sequentially set up to a register in a test header using the normal built-in software using the built-in software built in a pin electronics 1 of the test head 12 according to a test program 30 created by a user, and a parameter management system 34 saves the normal parameters as reference parameters 44.例文帳に追加
ユーザの作成したテストプログラム３０に従って、テストヘッド１２のピンエレクトロニクス１８に組み込まれている組み込みソフトウェアを用いて、テストヘッド内のレジスタに、ＩＣテスタの駆動に必要なパラメータを、正常な組み込みソフトウェアを用いて順次設定し、パラメータ管理システム３４は、この正常なパラメータを、リファレンスパラメータ４４として保存する。 - 特許庁
A high-speed signal transmission path to which the transmitter having a pre-emphasis function is connected is characterized that a serial circuit of ferrite beads and a capacitor is connected between the transmission path and a return path, and is effective also as a pin electronics part path of the semiconductor test device which performs a highly reliable high-speed test.例文帳に追加
プリエンファシス機能を有する送信機が接続される高速信号伝送路において、前記伝送路とリターン路との間にフェライトビーズとコンデンサの直列回路が接続されたことを特徴とするもので、信頼性の高い高速テストを行う半導体試験装置のピンエレクトロニクス部経路としても有効である。 - 特許庁
The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加
半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁
In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加
半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁
To provide an elastic wave sensing device which can detect Arm Electronics (AE) generated from a testing object of outdoor ground by installing optical fibers in the testing object or, for the tesing object preserving liquid, directly immersing it in the liquid, while reducing any affect from extraneous noise to enhance accuracy in detection of AE and also safely achieving integrity test of a combustibles storage container.例文帳に追加
光ファイバを屋外地上の被検査対象物に設置したり、液体を貯蔵する被検査対象物には液体中に直接浸漬して、被検査対象物から発生するＡＥを検出すると共に、外来ノイズの影響を低減してＡＥの検出精度高め、且つ可燃物貯蔵容器の健全性検査を安全に行うことが可能な弾性波検出装置を提供する。 - 特許庁
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