electronics testingとは 意味・読み方・使い方

The semiconductor testing apparatus is configured such that measurement data of a large number of objects to be measured are taken in the control unit 12 through a large number of pin electronics cards 11 which are controlled by the control unit 12, wherein each pin electronics card 11 is configured to directly write corresponding measurement data in the control unit 12.例文帳に追加

制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 - 特許庁

A pin electronics 17 of this semiconductor testing device 1 includes a sub-driver control circuit 20, a main driver MDR1, a sub-driver SDR1, a comparator COMP1, a control transistor STR1, a switch SW1, a resistance R1 and a resistance R2.例文帳に追加

半導体試験装置１のピンエレクトロニクス１７には、サブドライバ制御回路２０、メインドライバＭＤＲ１、サブドライバＳＤＲ１、コンパレータＣＯＭＰ１、制御トランジスタＳＴＲ１、スイッチＳＷ１、抵抗Ｒ１、及び抵抗Ｒ２が設けられる。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To provide an elastic wave sensing device which can detect Arm Electronics (AE) generated from a testing object of outdoor ground by installing optical fibers in the testing object or, for the tesing object preserving liquid, directly immersing it in the liquid, while reducing any affect from extraneous noise to enhance accuracy in detection of AE and also safely achieving integrity test of a combustibles storage container.例文帳に追加

光ファイバを屋外地上の被検査対象物に設置したり、液体を貯蔵する被検査対象物には液体中に直接浸漬して、被検査対象物から発生するＡＥを検出すると共に、外来ノイズの影響を低減してＡＥの検出精度高め、且つ可燃物貯蔵容器の健全性検査を安全に行うことが可能な弾性波検出装置を提供する。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

In a semiconductor inspection apparatus having a loop counter counting a loop count of loop instructions for generating a pattern address to be given to pin electronics for DUT testing and the fail memory for storing information related to DUT pass/fail, the fail memory stores necessary information only when count output data of the loop counter change in an all trace mode which captures respective data in all inspection cycles.例文帳に追加

ＤＵＴのテストのためにピンエレクトロニクスに与えるパターンアドレスを発生するためのループ命令のループ回数をカウントするループ回数カウンタと、ＤＵＴのパス／フェイルに関する情報を格納するフェイルメモリを有する半導体検査装置において、前記フェイルメモリは、全ての検査サイクルで各データを取り込むオールトレースモード設定状態では、前記ループ回数カウンタのカウント出力データが変化した時にだけ必要な情報を格納することを特徴とするもの。 - 特許庁