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exposing testとは 意味・読み方・使い方
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「exposing test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
A latent image is formed on a toner carrier by exposing based on a test pattern (S61).例文帳に追加
トナー担持体にテストパターンにもとづいて露光して静電潜像を形成する(S61)。 - 特許庁
Thereafter, in a period T1, light exposing operation for one page for printing the test pattern is performed.例文帳に追加
その後、期間T1においてテストパターンを印刷する1ページ分の露光動作が行われる。 - 特許庁
Irradiation is detected in a method of exposing the sample to irradiation by a test module monitoring a weathering test process from an improved position.例文帳に追加
改良された位置から耐候試験過程をモニターする試験モジュールで、試料が照射に曝される方法で照射を検知する。 - 特許庁
The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids.例文帳に追加
分析用の試験テープ12と、未使用の試験テープ12の洗浄用の貯蔵コイル14ならびに使用した試験テープ12の巻付用の巻付コイル18と、体液の塗布用の測定部位22での試験テープ部分20の曝露用のテープガイド部16とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁
When a defect is suspected in the mask, a substrate coated with a resist, namely, a test substrate is patterned by exposing through the mask.例文帳に追加
マスクに欠陥があると思われる場合には、レジストで被覆した基板、すなわちテスト基板を、マスクを露光することによってパターン形成する。 - 特許庁
Subsequently, this gives such an advanced state in the degradation as the degradation in an open-air exposing test is made to accelerate, enabling the execution of the functionality evaluation in a short period.例文帳に追加
これにより、屋外暴露試験における劣化が加速された劣化進行状態が得られ、機能性評価を短期間で実施できるようになる。 - 特許庁
To provide the technology for preparing a test print for calculating coefficient of correction of an exposure unit for forming image on a photosensitive material by exposing to light efficiently.例文帳に追加
感光材料上に画像を露光形成する露光ユニット補正係数を算出するためのテストプリントを効率的に作成する技術を提供する。 - 特許庁
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「exposing test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 26件
An engine controlling CPU performs an operation for measuring the amount of light in a period T2 with a range of the light exposing period T1 for one page for printing the test pattern.例文帳に追加
エンジン制御CPUは、テストパターンを印刷する1ページ分の露光期間T1の範囲内の期間T2にて、光量計測動作を行う。 - 特許庁
The delay amount of the exposure timing in the counter 16 is set based on the deviation in the subscanning direction of each pixel in the case of exposing a test image.例文帳に追加
このカウンタ16における露光タイミングの遅延量は、テスト画像を露光した際の各画素の副走査方向のずれ量に基づいて設定される。 - 特許庁
In non-image formation, test electrostatic images 1s in a main scanning directional line of the four-pixel width in which VL exposing quantity and less-than-VL exposing quantity are combined is written to the photosensitive drum 1, and the potential distribution thereof is measured by the potential sensor 30.例文帳に追加
非画像形成時にVL露光量とVL未満露光量とを組み合わせた4画素幅の主走査方向ラインの試験静電像1sを感光ドラム1に書き込んで電位センサ30により電位分布を測定する。 - 特許庁
A photograph processing apparatus 10 is provided with an exposing unit 28 which exposes and forms a picture on photographic paper S, and a picture 101 for detecting shift quantity is exposed and formed on the photographic paper S with the exposing unit 28 to produce the test print 100.例文帳に追加
写真処理装置10は、印画紙Sに画像を露光形成する露光ユニット28を備え、露光ユニット28によってずれ量検出用画像101を印画紙Sに露光形成し、テストプリント100を作製する。 - 特許庁
A latent image is formed on a toner carrier by exposing based on a 1st test pattern, and the latent image is developed by an AC voltage having various kinds of amplitude, then, density is detected.例文帳に追加
トナー担持体に第1のテストパターンにもとづいて露光して静電潜像を形成し、種々の振幅の交番電圧によって、静電潜像を現像し、濃度を検出する。 - 特許庁
The deterioration rate in the content of FeO in the magnetite particles subjected to the treatment becomes preferably 5-20% in the heat resistance test comprising exposing the particles to the atmosphere at 140°C for 30 min.例文帳に追加
処理後のマグネタイト粒子の大気中、140℃、30分間曝露による耐熱性試験でのFeO含有率の劣化率は好ましくは5〜20%となる。 - 特許庁
To provided a cell chip for exposing microdroplets to a portion of cells, wherein the microdroplets are dispensed by an inkjet printer, in a screening test of the effect of a substance on cells.例文帳に追加
物質の細胞に対する効果のスクリーニング試験においてインクジェットプリンターで分注された微小溶液を細胞の一部分にだけに暴露させるための細胞チップを提供する。 - 特許庁
The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.例文帳に追加
半導体試料の主面上に電極10を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極10に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ14で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁
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