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fixed stress testとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 定応力試験
「fixed stress test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
The fixed displacement is imparted forcibly to an opening part of the test piece, prescribed repeated compression loads are loaded to the test piece under a fixed displacement condition to be returned thereafter to the fixed displacement, and a stress corrosion cracking test is carried out.例文帳に追加
試験片の開口部に強制的に一定変位を付与し、一定変位状態の試験片に所定の繰り返し圧縮荷重を与え、その後に一定変位に戻し、応力腐食割れ試験を行う。 - 特許庁
To evaluate the propagating speed of a crack in a test piece under a fixed stress intensity factor while a desired arbitrary load is applied to the test piece.例文帳に追加
任意所望な荷重が試験片に負荷されつつ、一定応力拡大係数下で亀裂進展速度を高精度に評価すること。 - 特許庁
With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.例文帳に追加
そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁
To provide a delayed destructive test method and a delayed destructive tester for eliminating a necessity for applying a fixed tensile stress, and eliminating a necessity for processing a test piece into a predetermined shape to apply the tensile stress.例文帳に追加
一定の引張り応力を付与する必要のない、従って引張り応力を付与するために試験片を所定の形状に加工する必要のない遅れ破壊試験方法および遅れ破壊試験装置を提供する。 - 特許庁
The device also has a constitution wherein a load cell for measuring the stress applied to the test piece is arranged on the fixed support member side, and displacement of the test piece is measured directly by a displacement gage each endpoint of which is fixed to the fixed support member and the movable support member.例文帳に追加
また、試験片に印加した応力を測定するロードセルを固定支持部材側に配置するとともに、固定支持部材および可動支持部材に各端点を固定した変位計によって試験片の変位量を直接計測するよう構成する。 - 特許庁
This internal stress measuring device comprises a clamp formed of a known material for holding a resin test strip and restricting displacement, and a load cell that is fixed to the clamp and measures the load.例文帳に追加
樹脂試験片を保持および変位を拘束する既知の材料で構成されるクランプと、クランプに固定されて荷重を計測するロードセルが設けられている。 - 特許庁
This prediction method determines the correlation between analysis stress in the stress-concentrating section determined by analysis, when a predetermined fixed load is charged on the resin molded article having a geometrical stress-concentrating section and a correction coefficient for making the analysis stress in a predetermined breaking period approach the analysis stress, in a resin test piece that does not have geometrical stress-concentrating section during a similar breaking period.例文帳に追加
形状的な応力集中部を備える樹脂成形品に対して所定の一定荷重を加えた場合に解析により得られる応力集中部での解析応力と、所定の破壊時間での上記解析応力を同様の破壊時間での形状的な応力集中部を備えない樹脂試験片での解析応力に近づけるための補正係数との間の相関関係を求める。 - 特許庁
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「fixed stress test」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 12件
In this fatigue characteristic determination method of a material, a fatigue test of a brittle material is performed by increasing the amplitude of a stress to be applied to the brittle material at a fixed rate together with a cycle as shown in Fig.1(b), and the optimum value of a parameter of a fatigue behavior is acquired by analysis by using the result of the fatigue test.例文帳に追加
図1(b)に示すように、脆性材料に与える応力の振幅をサイクルとともに一定割合で増加させて脆性材料の疲労試験を行い、この疲労試験の結果を用い、解析により疲労挙動のパラメータの最適値を得る。 - 特許庁
In this test method, after a surface mounting type chip part 2 is connected and fixed onto a board 6 by lead-free solder 17, bending stress is applied to the soldered part 17 of the chip part 2 to the board 6 by combination of a fixing clamper 9 and a movable clamper 10 of the fixture 8 to be offered for the acceleration test in this state.例文帳に追加
基板6上に表面実装型のチップ部品2を鉛フリーはんだ17で接続固定した後、基板6に対するチップ部品2のはんだ付け部17に治具8の固定用クランパ9と可動式クランパ10との組み合せにより曲げストレスを加え、この状態で加速試験に供するようにした試験方法。 - 特許庁
Since the substrate potential of the semiconductor element 101 is fixed at 0 V by a substrate plate 102, voltage stress is applied between the gate electrode within the semiconductor wafer and the substrate, a burn-in test for the semiconductor element 101 can be conducted.例文帳に追加
半導体素子101の基板電位はサブストレートプレート102により0Vに固定されているため、半導体ウエハー内のゲート電極と基板との間には電圧ストレスがかかるため、半導体素子101にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁
Because the substrate potential of the semiconductor element 101 is fixed at 0 V by a substrate plate 102, voltage stress is applied to between the gate electrode and the substrate of the semiconductor wafer, thereby performing a burn-in test on the semiconductor element 101.例文帳に追加
半導体素子101の基板電位はサブストレートプレート102により0Vに固定されているため、半導体ウエハ内のゲート電極と基板との間には電圧ストレスがかかるため、半導体素子101にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁
This perpendicular tension type adhesion strength test machine for perpendicularly fixing the stud to the surface of the sample and performing a perpendicular tensile test has a cylindrical collet that receives the stud 1 that is arranged perpendicularly to a sample fixing position of a sample fixing plate 11 and perpendicularly fixed to the surface of the sample 10, clamps it with a constant load, and applies stress perpendicular to the sample 10 to the stud 1.例文帳に追加
試料の表面に垂直にスタッドを固定して垂直引張試験を行う垂直引張型密着強度試験機に於いて、試料固定板11の試料固定位置に垂直に配置されて試料10の表面に垂直に固定したスタッド1を受容すると共に一定加重でクランプし且つスタッド1に対し試料10と垂直な方向の応力を加える筒状のコレットを備える。 - 特許庁
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定応力試験
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