意味 | 例文 (27件) |
「helium beam」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 27件
This helium leak detector including a microchannel plate for detecting helium ion also includes a sector electrode for deflecting a helium ion beam to enter the microchannel plate.例文帳に追加
ヘリウムイオンの検出用にマイクロチャンネルプレートを備えたヘリウムリークディテクタであって、ヘリウムイオンビームがマイクロチャンネルプレートに入射するように偏向するセクター電極を備える。 - 特許庁
There is a small hole on the cathode Al and helium ions are generated and enters a beam collector.例文帳に追加
陰極Alに小穴がありヘリウムイオンが発生し、ビ−ムコレクタ−に入る。 - 特許庁
Titanium oxide is evaporated onto the surface of a substrate by using a helium ion beam as an assist ion beam.例文帳に追加
ヘリウムイオンビームをアシストイオンビームとして用いて基板表面に酸化チタンを蒸着させる。 - 特許庁
The surface of the mask 12 is obliquely irradiated with, for example, an ion beam such as helium and argon.例文帳に追加
そのマスク12の上から、たとえばヘリウムまたはアルゴン等のイオンビームで斜方照射を行なう。 - 特許庁
In this ion beam generating method, laser light having a wavelength of 1083 nm is irradiated into the helium plasma generated by high frequency discharge to carry out optical pumping.例文帳に追加
イオンビーム発生方法は、高周波放電によるヘリウムプラズマ中に波長1083nmのレーザ光を照射して光ポンピングする。 - 特許庁
The head of a beam introduction pipe 2 and the head of an X-ray introduction sleeve 3a of an X-ray detector 3 are arranged close to each other, and helium gas is introduced into head parts of the beam introduction pipe 2 and the X-ray introduction sleeve 3a, and the helium gas is jetted out from the heads.例文帳に追加
ビーム導入管2の先端とX線検出器3のX線導入用スリーブ3aの先端を互いに接近させて配置し、ビーム導入管2とX線導入用スリーブ3aの先端部内にヘリウムガスを導入し、先端からヘリウムガスを噴射する。 - 特許庁
To provide a simple and versatile method for making an ion beam carry a high current, as to an ion beam generating device used for a device for analyzing an atomic arrangement on a surface and an interface by using a helium ion beam.例文帳に追加
ヘリウムイオンビームを用いて、表面・界面の原子配列を解析する装置に用いるイオンビーム発生装置に関し、簡便で汎用性のあるイオンビームの大電流化方法を提供する。 - 特許庁
「helium beam」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 27件
To solve problems of correcting photomask defects by use of a micromachining apparatus using an electron beam or a helium ion beam emitting from a gas field ion source.例文帳に追加
電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームを用いた微細加工装置によるフォトマスク欠陥修正の問題点を解決する。 - 特許庁
To solve problems resulting from charge-up upon correcting a defect in an isolated pattern with an electron beam or a helium ion beam generating from a gas field ion source.例文帳に追加
電子ビームまたはガスフィールドイオン源から発生するヘリウムイオンビームで孤立パターンの欠陥を修正するときのチャージアップに起因する問題点を解決する。 - 特許庁
A lifetime killer 13 is formed in a p-type base region 3 or an n^--type drift layer 2 by irradiation of an electron beam or a helium beam.例文帳に追加
電子線照射もしくはヘリウム線照射によってp型ベース領域3内やn^-型ドリフト層2内にライフタイムキラー13を形成する。 - 特許庁
In the case of gross leak, the helium ion beam is not deflected so as not to enter the microchannel plate, but is allowed to enter a sector electrode, and an ion beam current is detected by the sector electrode.例文帳に追加
グロスリークの場合は、ヘリウムイオンビームを偏向せず、マイクロチャンネルプレートに入射させないで、セクター電極に入射し、セクター電極でイオンビーム電流を検出する。 - 特許庁
A helium gas atmosphere is formed in a small space enclosed by three parts, namely, a sample S, the head of the beam introduction pipe 2 and the head of the X-ray introduction sleeve 3a, and ion beam irradiation and introduction of a characteristic X-ray are executed in the atmosphere.例文帳に追加
試料S、ビーム導入管2の先端、X線導入用スリーブ3aの先端の三者に囲まれた小空間にヘリウムガス雰囲気を形成し、この雰囲気内でイオンビーム照射、特性X線の導入を行う。 - 特許庁
This method of manufacturing thin polycrystalline silicon semiconductor film includes a step of irradiating single argon, helium, neon, and nitrogen gas cluster beams and their mixed gas cluster beam onto a thin polycrystalline silicon film.例文帳に追加
多結晶シリコン薄膜に、アルゴン、ヘリウム、ネオン、窒素の単体ガス、およびそれらを混合したガスクラスタービームを照射する工程を備える多結晶シリコン半導体薄膜の製造方法。 - 特許庁
The assistance gas for the laser beam is chosen from nitrogen, helium, argon, oxygen, CO_2 and mixtures thereof, and, optionally, it further contains one or more additional compounds chosen from H_2 and CH_4.例文帳に追加
レーザビームのための援助ガスは、窒素、ヘリウム、アルゴン、酸素、CO_2及びそれらの混合物から選ばれ、任意に、H_2及びCH_4から選ばれる1つ以上の追加の化合物をさらに含有する。 - 特許庁
Namely, the tungsten surface heated up to about 2,200°C surface temperature is made porous by irradiation with the high particle flux helium ion beam (6.7x10^20 He/m_2/s).例文帳に追加
即ち、高粒子束ヘリウムイオンビーム照射(6.7×10^20He/m^2/s)により、表面温度2200℃程度まで加熱されたタングステン表面を多孔質化する。 - 特許庁
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