PROJECTOR INSPECTION DARK ROOM GROUP例文帳に追加

プロジェクタ検査用暗室群 - 特許庁

INSPECTION DEVICE, IMAGE PROJECTOR, AND SUBSTRATE CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加

検査装置、像投影装置、および基板特性測定方法 - 特許庁

PATTERN PROJECTOR AND PATTERN INSPECTION DEVICE例文帳に追加

パターン投影装置、及びパターン検査装置 - 特許庁

To perform appropriate inspection in an inspection device which inspects a display device like a liquid crystal projector, for example.例文帳に追加

例えば、液晶プロジェクタ等の表示装置を検査する検査装置において、適切な検査を行う。 - 特許庁

PROJECTOR UNIT AND ILLUMINATOR DEVICE FOR INSPECTION OF IMAGING DEVICE PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加

投影ユニット及びそれを備える撮像素子検査用照明装置 - 特許庁

A projector 15 irradiates the sample 11 with parallel light as inspection light at an incidence angle θ1.例文帳に追加

投光器１５は、平行光を検査光として入射角θ１で試料１１に照射する。 - 特許庁

To provide a projector that facilitate inspection of resolution of an image from a document camera.例文帳に追加

書画カメラからの映像の解像度検査を容易にしたプロジェクタの提供。 - 特許庁

This light projector 1 for visual inspection is provided with an illumination optical system for irradiating a glass substrate G of an inspection object with an illumination light.例文帳に追加

外観検査用投光装置１は、検査対象であるガラス基板Ｇへ照明光を照射する照明光学系を備えている。 - 特許庁

A inspection device of a tape reel is provided with a light projector 11, a first inspection device 10 constituted of a mirror 12 and a light receiver 13, a light projector 21, a second inspection device 20 constituted of a mirror 22 and a light receiver 23, and a rotating device 30 rotating a tape reel 40.例文帳に追加

テープリールの検査装置は、投光器１１、ミラー１２及び受光器１３から構成される第１の検査装置１０と、投光器２１、ミラー２２及び受光器２３から構成される第２の検査装置２０と、テープリール４０を回転させる回転装置３０とを備えて構成されている。 - 特許庁

A projector 15 irradiates the sample 11 or a reference reflecting plate 13 with parallel light as inspection light at an incidence angle θ1.例文帳に追加

投光器１５は、平行光を検査光として入射角θ１で試料１１または基準反射板１３に照射する。 - 特許庁

Diffraction light 19 is generated by inserting a shield member 20 into a part of an inspection light 17 projected from a projector.例文帳に追加

投光器から投光された検査光１７の一部に遮蔽部材２０を挿入することにより回折光１９を生成する。 - 特許庁

A width direction of a film 5 is scanned by laser inspection light 3 outputted from a projector 4 using a scanning device 6.例文帳に追加

投光器４から出力されたレーザ検査光３は、走査装置６によりフィルム５の幅方向に走査される。 - 特許庁

A product is placed on an inspection stand 11 and the image of the sample related to the product is projected as a sample image from a projector 13.例文帳に追加

検査台１１には製品が載置されるとともに、プロジェクタ１３からこの製品に係る見本の映像が見本映像として投射される。 - 特許庁

The edge part inspection device 10 comprises a light projector part 7, a light receiver part 8, a displacement sensor amplifier 4, and a data processor 5.例文帳に追加

本発明の端部検査装置１０は、投光部７と受光部８と変位センサアンプ４とデータ処理装置５とを備えている。 - 特許庁

To reduce the occurrence of interference fringes in a pattern projector and a pattern inspection device using laser light.例文帳に追加

レーザ光を用いたパターン投影装置又はパターン検査装置において、干渉縞の発生を低減すること。 - 特許庁

To reduce inspection time of contrast of a liquid crystal panel 10 used for a light valve of a projector.例文帳に追加

プロジェクターのライトバルブに用いられる液晶パネル１０のコントラストの検査時間を短縮する。 - 特許庁

The back light projector 20 comprises a scattering plate 21 arranged near the substrate holder 6 and in parallel with it, and a projector 22 supported on the back side of an inspection device body 2 separately from the scattering plate 21.例文帳に追加

バックライト投光装置２０は、基板ホルダ６の近傍に平行に配置される散乱板２１と、散乱板２１から離間して検査装置本体２の背面側に支持された投光機２２とから構成されている。 - 特許庁

The image/electric inspection device 20 comprises a projector 11 and an inspection board 12 fitted slidably in parallel with a light projection face, and when the inspection plate 12 is divided into a plurality of kinds of inspection patterns along the slide direction, the image of the kind of pattern can be inspected.例文帳に追加

画像・電気検査装置２０を、投光器１１と、その投光面に平行にスライド可能に取り付けた検査板１２で構成し、検査板１２を前記スライド方向に沿って複数種の検査パターンの画面に区分けすると、そのパターンの種類の画像検査が行える。 - 特許庁

By widening the range illuminated by the light projector 13, liquid-crystal panels of different sizes can be inspected easily, and since even large liquid-crystal panels for inspection can also be illuminated with sufficient brightness, visual inspection is ensured.例文帳に追加

投光機１３による照明領域を広くしておくことにおり、異なる寸法の液晶パネルの検査を簡単に行うことができ、また、大きな液晶パネルの検査においても十分な輝度で液晶パネルを照明できるので、視認検査を確実に行うことができる。 - 特許庁

This liquid-crystal panel inspection apparatus 1 has a light projector 13 as a backlight source for illuminating a liquid-crystal panel 12 to be inspected from its back.例文帳に追加

液晶パネル検査装置１は、検査対象の液晶パネル１２を背面から照明するためのバックライト光源として投光機１３を備えている。 - 特許庁

To provide an illuminance stabilizing mechanism capable of fully securing the distance of an inspection object to a projector, and suppressing unevenness in the quantity of light, while acquiring a strong light source.例文帳に追加

強力な光源を得つつも、投光器に対する検査対象の距離を十分確保し且つ光量のムラを抑制し得る照度安定機構を提供する。 - 特許庁

To provide a projector unit and an illuminator device projecting an inspection pattern on the light reception surface of an imaging device without using a projection lens.例文帳に追加

投影レンズを用いず検査用パターンを撮像素子の受光面に投影することができる投影ユニット及び撮像素子検査用照明装置を提供する。 - 特許庁

Light L emitted from the light projector 13 is reflected by a reflector 14 and illuminates from the back the liquid-crystal panel 12 installed on the panel stage 11 of an inspection station.例文帳に追加

投光機１３からの出射光Ｌは、反射鏡１４で反射されて検査ステーションのパネルステージ１１に設置されている液晶パネル１２を背面から照射する。 - 特許庁

The inspection light 40 is projected from the projector 41 in the direction orthogonal to the carrying direction of the substrate 4 carried by the carrying belt 26 so that the light path of the inspection light 40 includes both end parts in the width direction of the carrying belt 26, and the receiver 42 receives the inspection light 40 passed through upper and lower regions of the carrying belt 26 in the width direction.例文帳に追加

検査光４０は搬送ベルト２６により搬送される基板４の搬送方向と直交する方向に、かつ、その光路中に搬送ベルト２６の幅方向の両端部を含むように投光器４１から投光され、受光器４２は搬送ベルト２６の上下の領域をその幅方向に通過した検査光を受光する。 - 特許庁

The surface distortion inspection device 10 forms a linear image inclined at a specified angle to the tape width direction of the magnetic tape MT by irradiating the surface of the tape MT with a light ray R1 by using a light projector 12 and and picks up the image by a CCD camera 14 functioning as an image pickup device.例文帳に追加

表面歪み検査装置１０は、投光装置１２によって磁気テープＭＴの表面に光線Ｒ１を照射して磁気テープＭＴのテープ幅方向に対して所定の角度で傾斜した直線状の像を形成し、その像を撮像装置であるＣＣＤカメラ１４によって撮像する。 - 特許庁

The NI (critical point) point of the liquid crystal in the liquid crystal panel for inspection is the temperature in proximity to the temperature of a liquid crystal panel at the locations where liquid crystal light bulbs 36, 37, and 38 are inserted into and fixed to a support part 39, which is the part of a liquid projector 20 to which the liquid crystal panel is assembled.例文帳に追加

検査用液晶パネル内の液晶のＮＩ点としては、液晶プロジェクタ１０の液晶パネル組込部である液晶ライトバルブ３６，３７，３８の支持部３９に対する挿入固定位置における液晶パネルの温度の近傍の温度である。 - 特許庁