low temperature testとは 意味・読み方・使い方

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device for a temperature test having suitable controllability and operability for a temperature needed from a normal temperature to a high temperature region, which is small-sized and low-priced in the temperature test.例文帳に追加

温度試験において、必要な常温から高温領域の温度を制御性および操作性がよく、小型で安価な温度試験用半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

In a step S20, either an impact test or a test for left standing at a low temperature or both are carried out, with respect to the low quality product.例文帳に追加

ステップＳ２０では、低特性品に対して、衝撃試験や低温放置試験のいずれか、又はその両方を実施する。 - 特許庁

To provide an apparatus for raising/lowering a temperature which raises or lowers the temperature of numerous semiconductor devices at a time in a handler for performing high temperature test and low temperature test to realize high-speed processing as the whole apparatus, and also to provide the high and low temperature test handler.例文帳に追加

高温テスト及び低温テストを実施するハンドラにおいて、一度に大量の半導体装置の高温化又は低温化を可能とし、装置全体としての高速処理を実現した高低温化装置及び高低温テストハンドラを提供する。 - 特許庁

HIGH AND LOW TEMPERATURE IC WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD HOLDER EQUIPPED WITH HEAT SHIELDING PLATE例文帳に追加

ＩＣウェハの高低温検査方法および遮熱プレート付きプローブカードホルダ。 - 特許庁

The temperature within the test chamber 12 is instantaneously lowered to a low temperature by the action of the low-temperature medium, with the temperature of the sample 10 also falling abruptly.例文帳に追加

これにより、低温媒体の作用によって試験室１２内の温度が瞬時に低温まで低下するとともに、試料１０自体の温度も急激に低下する。 - 特許庁

To provide a connector insertion-pull out testing device enabled to perform an insertion-pull out test of a pair of connectors in the temperature ranging from low temperature to high temperature, having small size, at low cost.例文帳に追加

低温から高温の温度範囲で被試験コネクタ対の挿抜試験が実施可能な小型且つ安価なコネクタ挿抜試験装置を提供する。 - 特許庁