matching-to-sample methodとは 意味・読み方・使い方

To provide a pattern matching method which enables the selection of an appropriate object pattern to be measured even on a sample including a periodic structure, and to provide a computer program for bringing a computer to execute the above pattern matching.例文帳に追加

本発明の目的の１つは、周期的構造を含む試料上でも適正な測定対象パターンを選択することが可能なパターンマッチング方法、及びそのパターンマッチングをコンピューターに実行させるためのコンピュータープログラムの提供にある。 - 特許庁

By a method for matching a phase lock loop (PLL) used for detecting frequencies with a distance control system, using changes in vibration frequencies to changes in the distance between the probe and the surface of the sample as a voltage control oscillator, and matching them with a reference frequency, the distance between the probe and the surface of the sample is controlled.例文帳に追加

周波数検出に用いる位相同期ループ（ＰＬＬ）を距離制御系と一致させ、プローブ・試料表面の距離変化に対する振動周波数の変化を電圧制御発振器として用い、基準周波数に合わせる方法によりプローブ・試料表面の距離制御を行なう。 - 特許庁

To develop a method for automating a jacquard woven fabric design, by which the woven fabric-producing data can be formed by matching the color of the sample of the jacquard woven fabric to the color of a woven fabric determined by a woven fabric designer.例文帳に追加

ジャカード織物の製織データ作成において、バーチャル織物の見本の色彩と織物設計者が決定した織物の色彩をマッチングして製織データが作成できる手段を開発する。 - 特許庁

To provide a sample image length measurement method by which the measurement area can be set by easily, quickly and surely performing matching of a plurality of standard images and the sample image even when the obtained sample images are various on the basis of a pattern forming condition of a pattern forming device such as a stepper.例文帳に追加

例えばステッパーのようなパターン形成装置のパターン形成条件により、得られる試料像にばらつきがある場合であっても、簡便、迅速、かつ、確実に、複数の基準画像と試料像のパターンとのマッチングを行うことにより測定領域を設定することのできる試料像測長方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus, an image forming method, and a sample sheet that enable even a user who is not familiar with operations to form a desired image by imaging a finish and easily setting printing conditions exactly matching the image.例文帳に追加

操作に不慣れなユーザでも、出来上がりをイメージできてそのイメージどおりの印刷条件を簡単に設定して所望の画像を形成できる画像形成装置、画像形成方法及びサンプルシートを提供する。 - 特許庁

To provide a production line capable of executing verification, sample delivery and a mass-production cycle of a new product at a speed matching to the request of the market while assuring equivalence of quality, and of minimizing management risk; and to provide its construction method.例文帳に追加

品質の同等性を保証しながら、新製品の検証、サンプル出荷、量産サイクルを市場の要求に合ったスピードで行い、かつ、経営リスクを最小限にする生産ライン及びその構築方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspecting method using a scanning charged particle beam system, capable of precisely inspecting a defect over a short period of time, which exists on a surface of a sample to be inspected such as a semiconductor LSI or the like, by using a pattern matching technique.例文帳に追加

半導体ＬＳＩなどの被検査試料の表面に生じた欠陥の検査を、パターンマッチング技術を用いて高い精度で短時間に行なうことができる走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁

To accurately measure the position of patterns and the patterns by highly precisely matching the patterns over the entire surface of a flat sample without being influenced by the change of a parameter in an electro-optical system due to re-focusing when there is a distortion exceeding the focus depth in the electro-optical system on the flat sample, as to a method and a device for collating the patterns.例文帳に追加

本発明は、パターン照合方法およびパターン照合装置に関し、平坦試料上で電子光学系の焦点深度を超えた歪みがある場合などに再フォーカス合わせによる電子光学系のパラメータの変化による影響を受けることなく平坦試料の全面に渡って高精度にパターンマッチングしてパターンの位置およびパターン測長を正確に行うことを目的とする。 - 特許庁