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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 機械工学英和和英辞典 > memory test computerの意味・解説 

memory test computerとは 意味・読み方・使い方

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機械工学英和和英辞典での「memory test computer」の意味

memory test computer (MTC)


「memory test computer」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 15



例文

CONTROLLER WITH MEMORY TEST FUNCTION AND COMPUTER例文帳に追加

メモリ試験機能付きコントローラ及びコンピュータ - 特許庁

METHOD FOR EXECUTING MEMORY TEST, COMPUTER PROGRAM, AND SYSTEM例文帳に追加

メモリのテストを実行する方法、コンピュータ・プログラム、およびシステム - 特許庁

To provide a memory test circuit that executes a memory test during operation of a computer system and without providing an area exclusive for a memory test.例文帳に追加

メモリテスト専用領域を設けずに、かつ、コンピュータシステム稼働中にメモリテストを実行することが可能なメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD, AND TEST DEVICE FOR MEMORY CHIP, TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD, TEST DEVICE FOR MEMORY MODULE, AND MANUFACTURING METHOD FOR COMPUTER例文帳に追加

メモリチップのテスト方法、製造方法およびテスト装置、メモリモジュールのテスト方法、製造方法およびテスト装置、ならびにコンピュータの製造方法 - 特許庁

PROCESSING SYSTEM FOR TEST AND COPY AGAINST REMOTE MEMORY IN DISTRIBUTED MEMORY-TYPE PARALLEL COMPUTER例文帳に追加

分散メモリ型並列計算機におけるリモートメモリに対するテストアンドコピーの処理方式 - 特許庁

A computer 100 performs test execution of a program, adds link information to memory dump obtained as a result of the test and shows it on a monitor 115.例文帳に追加

計算機100でプログラムをテスト実行し、テストの結果として得られるメモリダンプに、リンク情報を付加して、モニタ115に表示する。 - 特許庁

例文

The transfer of the verification/test pattern of the DUT (external computerFPGA for controlpattern storage memory), the transfer of the verification/test control data of the DUT (external computerFPGA for control), and the transfer of the verification/test result (result storage memoryFPGA for controlexternal computer) are instructed by software for control through a microcomputer.例文帳に追加

DUTの検証/テストパターンの転送(外部コンピュータ→制御用FPGA→パターン格納メモリ)と、DUTの検証/テスト制御データの転送(外部コンピュータ→制御用FPGA)と、検証/テスト結果の転送(結果格納メモリ→制御用FPGA→外部コンピュータ)は、共にマイコンを介して制御用ソフトウェアによって指示される。 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「memory test computer」の意味

memory test computer


「memory test computer」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 15



例文

The integrated circuit test system comprises a control computer 10, an integrated circuit tester 20 and an external memory 30.例文帳に追加

集積回路試験システムは、制御コンピュータ10,集積回路試験装置20及び外部記憶装置30を有して構成されている。 - 特許庁

To provide a controller with a memory test function and a computer mounted with the controller for normally maintaining picture display on the display monitor of the computer, and for easily and precisely performing memory tests in all the regions of a main memory mounted on the computer.例文帳に追加

本発明は、メモリ試験機能付きコントローラおよび該コントローラが搭載されたコンピュータに関し、コンピュータの表示モニタへの画面表示を正常に維持して、コンピュータに実装された状態のメインメモリの全領域を容易且つ詳細にメモリ試験することを目的とする。 - 特許庁

To provide a memory test method of a computer system, which properly determines abnormal operation in dual channels due to the designing or manufacturing error of the computer system.例文帳に追加

コンピュ−タシステムの設計又は製造不良により正常に複数チャネルで動作していないケースを正確に判定できるコンピュータシステムのメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ACCELERATED OXIDATION TEST OF FUEL OR MINERAL OIL PRODUCT, COMPUTER PROGRAM FOR CONTROLLING THE DEVICE, AND MEMORY MEDIA READABLE BY COMPUTER例文帳に追加

燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディア - 特許庁

To provide a memory test system which can test a product to be measured with conditions being more similar to an actual use state using a personal computer and the like and which can select a product to be measured inexpensively and highly accurately.例文帳に追加

パーソナルコンピュータなどを利用して、より実使用状態に近い条件にて測定対象製品を試験することができ、また測定対象製品を安価に高精度で選別することができるメモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

The method for processing the computer graphics data to reduce the external memory access time in the perfragment unit includes a step for executing a depth test with respect to a present fragment of the computer graphics data using the perfragment unit, and a step for pre-fetching a color value of the present fragment from the external memory unit to a cache memory while the depth test of the present fragment is executed.例文帳に追加

パーフラグメントユニット(PerFragment unit)の外部メモリアクセス時間を短縮するためのコンピュータグラフィックスデータの処理方法であって、前記コンピュータグラフィックスデータの現在のフラグメントに対する深さ(depth)テストを前記パーフラグメントユニットを用いて実行する段階と、前記現在のフラグメントに対する前記深さテストが実行される間、前記現在のフラグメントのカラー値を外部メモリ装置からキャッシュメモリにプリフェッチする段階とを有する。 - 特許庁

The overwriting means 23 overwrites the test condition parameter in an area for storing the test condition parameter in correspondence to a register of a semiconductor testing device out of a memory in a computer, based on the input intermediate file 4, flow information and an output condition 2.例文帳に追加

上書き手段23は、入力された中間ファイル4とフロー情報と出力条件2とに基づき、計算機内のメモリのうち半導体試験装置のレジスタに対応してテスト条件パラメータを記憶する領域において、テスト条件パラメータの上書きを行うものである。 - 特許庁

例文

To provide a method and device for an accelerated oxidation test of a fuel or a mineral oil product usable especially for simulation of a change with elapse of time of the fuel or the mineral oil product, a computer program for controlling the device, and a memory media readable by a computer.例文帳に追加

特に燃料または鉱物油製品の経時変化のシミュレーションに使用されることができる、燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置、ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディアを提供すること。 - 特許庁

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