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multi chip ICとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 マルチチップ集積回路; マルチチップIC
「multi chip IC」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 25件
To provide a multi-chip package for increasing the degree of freedom of arrangement and layout of each IC chip for composing the multi-chip package.例文帳に追加
マルチチップパッケージを構成する各ICチップのパッドの配列、配置の自由度を高くする構成のマルチチップパッケージを提供する。 - 特許庁
IC CHIP, SEMICONDUCTOR COMPONENT, TEST PROBE, HANDY MULTI-TESTER, AND COMMUNICATION DEVICE例文帳に追加
ICチップ、半導体部品、検査用プローブ、ハンディマルチテスター、及び通信装置 - 特許庁
A plurality of IC chips CHIP 1 to CHIP 4 as a multi-chip module are flip-chip mounted by an ACF(anisotropically conductive film) near to each other on a mounting base material 101.例文帳に追加
マルチチップモジュールとしての複数のICチップCHIP1〜4は、実装用基材101に互いに近接してACF(異方性導電膜)102によるフリップチップ実装がなされている。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a multi-layered wiring substrate, as well as the multi-layered wiring substrate, that can be used for mounting an IC chip excellent in heat-resistance and adhesive reliability after moisture absorption, or as an interposer of an IC package.例文帳に追加
耐熱性や吸湿後の接着信頼性に優れたICチップ搭載用や、ICパッケージのインターポーザーに用いることが出来る多層配線基板の製造方法および多層配線基板を提供する。 - 特許庁
To provide multi-layer anisotropic conductive adhesives excellent in connection reliability without short-circuiting even at a pitch between the electrodes of an IC chip of 10-100 μm in connecting the IC chip to a circuit base.例文帳に追加
ICチップと回路基板との接続において、ICチップの電極間の10〜100μmピッチでもショートしない接続信頼性に優れた多層異方導電性接着剤を提供する。 - 特許庁
Thereby, it is possible to electrically connect the IC chip 20 with the multi-layer printed circuit board 10 without using a lead component or a sealing resin.例文帳に追加
このため、リード部品や封止樹脂を用いず、ICチップ20と多層プリント配線板10との電気的接続を取ることができる。 - 特許庁
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「multi chip IC」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 25件
A transition layer 38 is placed on a die pad of IC chip 20 to be incorporated in a multi-layer printed wiring board 10.例文帳に追加
ICチップ20のダイパッド22にトランジション層38を配設させ、多層プリント配線板10に内蔵させてある。 - 特許庁
In a multi-chip package 10, two upper and lower IC chips are laminated in a stack.例文帳に追加
本マルチチップパッケージ10は、上下2個のICチップをスタック構造に積層してなるマルチチップパッケージである。 - 特許庁
Thereby, an electrical connection between the IC chip 20 and the multi-layer printed wiring board 10 may be obtained without using any lead component and sealing resin.例文帳に追加
このため、リード部品や封止樹脂を用いず、ICチップ20と多層プリント配線板10との電気的接続を取ることができる。 - 特許庁
This multi-chip sensor is equipped with the element chip 30 equipped with a sensor detection element, the signal processing IC chip 40 equipped with a signal processing IC for processing an output signal of the detection element, and the package 50 for housing at least the element chip 30 and the IC chip 40 while having the ECU substrate mounting surface.例文帳に追加
このマルチチップセンサは、センサの検出エレメントを備えたエレメントチップ30と、検出エレメントの出力信号を処理する信号処理ICを備えた信号処理ICチップ40と、少なくともエレメントチップ30と信号処理ICチップ40とを収容するとともにECU基板取付面を有するパッケージ50とを備える。 - 特許庁
To provide a wiring substrate and a semiconductor device which are capable of formation of a highly reliable solder connection part at a low cost and well correspond to a large sized IC chip, IC multi-pin design and package miniaturization; and to provide a manufacturing method thereof.例文帳に追加
高信頼性のはんだ接続部を低コストで形成でき、ICチップの大サイズ化、IC多ピン化、パッケージ小型化にも十分に対応することができる配線基板、半導体装置およびこれらの製造方法を提供する。 - 特許庁
To make it unnecessary to manufacture a new IC chip to try to manufacture an electronic medium again each time an application is updated by using a non-contact IC having a multi-application function in a portable electronic medium.例文帳に追加
マルチアプリケーション機能を持った非接触ICを携帯可能電子媒体に使用することにより、アプリケーションの更改毎に新しいICチップを製造して電子媒体の製造をし直す必要をなくする。 - 特許庁
To reduce the height (H) of a multi-chip sensor from an ECU substrate mounting surface, as to a multi-chip sensor in which at least an element chip and a signal processing IC chip are housed in a package having the mounting surface used for directly mounting it on an ECU substrate and a flat surface of the element chip is vertical to the mounting surface.例文帳に追加
ECU基板に直接取り付けられるECU基板取付面を有するパッケージの中に、エレメントチップと信号処理ICチップとが少なくとも収容され、エレメントチップの平面がECU基板取付面に対して垂直になるマルチチップセンサにおいて、マルチチップセンサのECU基板取付面からの高さ(H)を小さくすること。 - 特許庁
To prevent the electric interference of a chip under test with a chip not under test among chips probed simultaneously in the wafer test of an IC by a multi-probing method.例文帳に追加
マルチプロービング方法によるICのウェハテストにおいて、同時にプロービングされたチップのうちテスト中のチップに非テスト中のチップからの電気的干渉の発生を防ぐ。 - 特許庁
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