orbit analysisとは 意味・読み方・使い方

To provide an analysis system which calculates the speed of a discharge spherical body and a hit ball, etc., or the orbit, etc., of a bat swing, etc., in the case of hitting, and also visually displays the calculation result.例文帳に追加

本発明は、放出される球体、打球等の速度、又は打撃時のバットスイング等の軌道等を算出することができるとともに、算出結果を視覚的に表示できる分析システムを提供する。 - 特許庁

When no voltage is applied to the gate electrode 3, the ion outgoing from an ion source 1 is detected by a primary ion detector 5 via the straight line orbit B, resulting in the short-term and high time resolution analysis being achieved.例文帳に追加

ゲート電極３に電圧が印加されないときにはイオン源１から出射されたイオンは直線軌道Ｂを経て第１イオン検出器５で検出されるから、分析時間が短く高い時間分解能を達成できる。 - 特許庁

The satellite-capturing method, for capturing a satellite using a satellite predictor, involves a behavior analysis process 1 for analyzing the characteristic behavior of the satellite orbit, a searching range calculation process 1 for determining the range of searching on the basis of the analysis, and searching processes 2 and 6 for searching the range of searching along the predictor.例文帳に追加

この発明に係る衛星捕捉方法は、衛星の予報値を用いて衛星を捕捉する方法であって、衛星軌道の特有の振る舞いを分析する振る舞い分析工程１と、分析に基づいて探索範囲を求める探索範囲算出工程１と、予報値に沿って探索範囲を探索する探索工程２，６とを有する。 - 特許庁

When analyzing the rolling bearing by the spark emission spectrophotometric method and evaluating its rolling lifetime, an analysis position by the spark emission spectrophotometric method is set in the range of ±10% in terms of a parent metal diameter in the radius direction of a parent metal round rod from an orbit surface of the bearing.例文帳に追加

転がり軸受をスパーク発光分光分析法により分析して、その転がり寿命を評価するに際して、スパーク発光分光分析法による分析の位置を軸受の軌道面から母材丸棒の径方向に母材直径換算で±１０％の範囲内とする。 - 特許庁

Two detectors 3a, 3b are fitted at given positions so that irradiation flight distances from an exit of a circular orbit A in a flight space 2 to the detectors may practically be different, and a mass spectrometric analysis for detecting ions is carried out once with each detector 3a, 3b on the same sample.例文帳に追加

飛行空間２内の円軌道Ａ出口から検出器までの出射飛行距離が実効的に異なるように２つの検出器３ａ、３ｂを所定位置に設け、同一試料に対して、各検出器３ａ、３ｂでイオンを検出する質量分析をそれぞれ１回ずつ行う。 - 特許庁