searching surfaceとは 意味・読み方・使い方

To provide a surface inspection device capable of searching for a flat inspection range allowing high precision nondestructive measurement of surface roughness of a wafer with pattern without relying on visual observation.例文帳に追加

パターン付きウェハの表面粗さを高精度で非破壊に測定できる平坦な検査範囲を、目視によらず探索できる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To accomplish, in ultrasonically searching for any flaw present on or immediately underneath the surface of a pressure roll (a surface flaw), sufficient detection irrespective of the directionality of the surface flaw.例文帳に追加

圧延ロールの表面や表面直下に存在する欠陥（表面欠陥）を超音波探傷する際に、表面欠陥の方向性にかかわらず十分な検出を行うこと。 - 特許庁

To simply correspond coordinate systems of a sound source and a reproduced surface in a method for searching the sound source for searching a position of the source by reproducing sound pressure data measured at respective measuring points by a plurality of microphones disposed on a measuring surface for the source or the microphone for scanning the measuring surface with the sound source surface as the reproducing surface.例文帳に追加

音源に対する計測面に配置された複数のマイク又は該計測面を走査するマイクにより各計測点で計測した音圧データを、音源面を再生面として再生することにより音源の位置を探索する音源探索方法において、音源面と再生面との座標系を簡単に対応付けできるようにする。 - 特許庁

A buried substance which exists stretching in a searching substance continuously is searched on the basis of data on reflected waves, by transmitting a transmission wave from the surface of the searching substance, and receiving the reflected waves of the transmitted wave.例文帳に追加

探査物体中において連続して延在する埋設物を、送信波を探査物体の表面から放射し、送信波の反射波を受信し、反射波のデータに基づいて探査する。 - 特許庁

The wafer surface inspection device has a method and a means for searching an area capable of measuring the surface roughness existing on the wafer with the pattern, and for measuring the measurable area.例文帳に追加

パターン付きウェハ上に存在する表面粗さを測定可能な領域を検索し、前記測定可能な領域を測定する方法及び手段を有する装置である。 - 特許庁

Whereby the searching adapted to the actual manufacturing line such that only the defect of the front surface 1a is regarded as no-good, only the defect of the rear surface is regarded as no-good, and each of the defects of the front surface 1a and the rear surface 1b is totalized, can be performed.例文帳に追加

これにより、表面１ａの欠陥のみを不良とする、裏面１ｂの欠陥のみを不良とする、表面１ａの欠陥、裏面１ｂの欠陥それぞれの集計をするといった、実際の製造ラインに即した検査が可能となる。 - 特許庁

The searching part 6 has a contact surface 6a to be brought into contact with the backside 1a of the wall 1 to be searched from the front side P2 of the wall 1.例文帳に追加

被探知部６は、壁１の表側Ｐ２から探知されるべく、壁１の裏面１ａに当接可能な当接面６ａを有している。 - 特許庁

A magnetic head is supported by a carriage arm to be movable in order to record and to reproduce information on and from the disk by searching the surface of the disk with the magnetic head.例文帳に追加

磁気ヘッドでディスク面を検索して情報を記録し、情報を再生する為にキャリッジアームによって磁気ヘッドが回動可能に支持されている。 - 特許庁