self-scanとは 意味・読み方・使い方

SELF LIGHT EMITTING TYPE OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE AND SCAN TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

自己発光型光プローブおよびその製造方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁

The self-synchronization logic circuit is provided with scan test registers 104-106 constituting a pipe line while retaining data, and scan test self-synchronization control circuits 101-103 for transferring a clock by performing 4-way hand-shake with each register, and progresses data processing among the scan test registers 104-106 according to a clock transferred from the scan test self-synchronization control circuit.例文帳に追加

自己同期型論理回路はデータを保持してパイプラインを構成するスキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６と、各レジスタに対応して４ウェイハンドシェイクを行なってクロックを転送する為のスキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３を備えて、スキャンテスト対応自己同期信号制御回路により転送されたクロックに従ってスキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６間のデータ処理を進めていく。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁

As for a vertical scan line for controlling a second sampling transistor 625, an existing vertical scan line which is the vertical scan line of a same kind or different kind of a different line, of a set which is other than a shared set to which a self line belongs, is allocated.例文帳に追加

第２のサンプリングトランジスタ６２５を制御するための垂直走査線としては、既存の垂直走査線であって、自行が属する共用化された組を除く他の組のそれぞれ異なる行の同種や異種の垂直走査線を割り当てる。 - 特許庁

MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULT DURING SELF-TEST OR SCAN TEST例文帳に追加

自己試験中または走査試験中にクロックドメインにまたがる故障を検出するか突き止める複数キャプチャＤＦＴシステム - 特許庁

In the display device, a plurality of scan electrodes 5 and data electrodes 6, and a self-emission layer 4 disposed between the two electrodes are included, wherein a scan voltage is supplied sequentially to the scan electrodes, and data voltage that corresponds to the display signal data is supplied to the data electrodes.例文帳に追加

複数本の走査電極５及びデータ電極６と、両電極間に配置された容量性の自発光層４とを備え、各走査電極に走査電圧が順次供給され、各データ電極に表示信号データに応じたデータ電圧が供給される。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

In this test circuit device, self-fault diagnosis for the self fault diagnosis circuit comprising a random number generation circuit part 101, a scan chain part 102, a counter circuit part 103 and a decision circuit part 104 is executed, and the output of a state hold register 105 is changed, on the basis of the result of the self fault diagnosis.例文帳に追加

乱数発生回路部１０１、スキャンチェーン部１０２、カウンタ回路部１０３、判定回路部１０４から成る自己故障診断回路の自己故障診断を行い、自己故障診断の結果から状態保持レジスタ１０５の出力を変化する。 - 特許庁