「self-scan」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ELECTRONIC SHOPPING SYSTEM HAVING SELF-SCAN PRICE CHECK AND PURCHASE TERMINAL例文帳に追加

セルフ走査プライスチェック及び購入端末を有する電子買物システム - 特許庁

DRIVE METHOD OF SELF-SCAN LIGHT-EMITTING ELEMENT ARRAY, OPTICAL WRITING HEAD AND OPTICAL PRINTER例文帳に追加

自己走査型発光素子アレイの駆動方法、光書込みヘッドおよび光プリンタ - 特許庁

SELF LIGHT EMITTING TYPE OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE AND SCAN TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

自己発光型光プローブおよびその製造方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁

The self-synchronization logic circuit is provided with scan test registers 104-106 constituting a pipe line while retaining data, and scan test self-synchronization control circuits 101-103 for transferring a clock by performing 4-way hand-shake with each register, and progresses data processing among the scan test registers 104-106 according to a clock transferred from the scan test self-synchronization control circuit.例文帳に追加

自己同期型論理回路はデータを保持してパイプラインを構成するスキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６と、各レジスタに対応して４ウェイハンドシェイクを行なってクロックを転送する為のスキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３を備えて、スキャンテスト対応自己同期信号制御回路により転送されたクロックに従ってスキャンテスト対応レジスタ１０４〜１０６間のデータ処理を進めていく。 - 特許庁

A system for at-functional-clock-speed continuous scan array built-in self testing (ABIST) of multiport memory is disclosed.例文帳に追加

機能性クロック速度でのマルチポート・メモリの連続走査アレイ内蔵自己テスト（ＡＢＩＳＴ）のためのシステムが開示される。 - 特許庁

As for a vertical scan line for controlling a second sampling transistor 625, an existing vertical scan line which is the vertical scan line of a same kind or different kind of a different line, of a set which is other than a shared set to which a self line belongs, is allocated.例文帳に追加

第２のサンプリングトランジスタ６２５を制御するための垂直走査線としては、既存の垂直走査線であって、自行が属する共用化された組を除く他の組のそれぞれ異なる行の同種や異種の垂直走査線を割り当てる。 - 特許庁

MULTIPLE-CAPTURE DFT SYSTEM FOR DETECTING OR LOCATING CROSSING CLOCK-DOMAIN FAULT DURING SELF-TEST OR SCAN TEST例文帳に追加

自己試験中または走査試験中にクロックドメインにまたがる故障を検出するか突き止める複数キャプチャＤＦＴシステム - 特許庁

In the display device, a plurality of scan electrodes 5 and data electrodes 6, and a self-emission layer 4 disposed between the two electrodes are included, wherein a scan voltage is supplied sequentially to the scan electrodes, and data voltage that corresponds to the display signal data is supplied to the data electrodes.例文帳に追加

複数本の走査電極５及びデータ電極６と、両電極間に配置された容量性の自発光層４とを備え、各走査電極に走査電圧が順次供給され、各データ電極に表示信号データに応じたデータ電圧が供給される。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

In this test circuit device, self-fault diagnosis for the self fault diagnosis circuit comprising a random number generation circuit part 101, a scan chain part 102, a counter circuit part 103 and a decision circuit part 104 is executed, and the output of a state hold register 105 is changed, on the basis of the result of the self fault diagnosis.例文帳に追加

乱数発生回路部１０１、スキャンチェーン部１０２、カウンタ回路部１０３、判定回路部１０４から成る自己故障診断回路の自己故障診断を行い、自己故障診断の結果から状態保持レジスタ１０５の出力を変化する。 - 特許庁

To provide an electronic shopping system where a customer scans the commodities by himself/herself to confirm, the prices of the commodities and also a specific customer can complete even his/her purchase transaction via a self-scan price checking operation.例文帳に追加

顧客が商品を自分で走査して価格を確認し、かつ、特定の顧客についてはそれによって購入取引をも完了することのできる電子買物システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method of suppressing flip-flops to be not observable irreducible minimum by masking only a part of scan paths concerning a masking method in a built-in self-checking circuit.例文帳に追加

組み込み自己検査回路におけるスキャンパスのマスク方法に関して、スキャンパスの一部のみをマスクすることにより、観測不能となるフリップフロップを必要最小限に抑える方法を提供する。 - 特許庁

To provide a self-scan type light emitting element array chip which is used in an optical writing head operable with a small number of external wiring, can light a plurality of emission points, and can interrupt writing of data in the halfway.例文帳に追加

少ない外部配線で動作可能な光書込みヘッドに用いられる、複数点灯可能で、途中でデータの書込みを中断できる構造の自己走査型発光素子アレイチップを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit by which a large-scale semiconductor device is self-tested at an actual operating speed only by additing a few circuits by using a boundary scan register, and which outputs only its test result to the outside.例文帳に追加

バウンダリスキャンレジスタを利用して、ごく僅かな回路の追加だけで、大規模な半導体装置を実動作速度で自己テストし、そのテスト結果だけを外部へ出力することができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

By this structure, the load of the IC 21 for driving the scan electrodes 21 whose ambient temperature is most apt to rise from the structural viewpoint of the plasma display device of the upper part of the panel 20 becomes light and the self-generation of heat of the IC 21 can be reduced.例文帳に追加

この構成により、プラズマディスプレイ装置の構造的に最も周囲温度が上昇しやすい上部のスキャン電極駆動用ＩＣは負荷が軽くなり、自己発熱を軽減することができる。 - 特許庁

A circuit element of a logic circuit which is designed so that a scan pass test can be performed and has shift register constitution in a shift operation mode is utilized for an address register 3, a data input register 4, and a compare-register 5 constituting a semiconductor integrated circuit provided with self-diagnosis.例文帳に追加

診断機能を備えた半導体集積回路を構成するアドレスレジスタ３、データ入力レジスタ４およびコンペアレジスタ５に、スキャンパステストが実行可能に設計されシフト動作モード時にシフトレジスタ構成となる論理回路の回路要素を利用する。 - 特許庁

The device can scan at least one of laser wavelengths over a relatively narrow region, and can provide sufficient signal data in order to specifically self-correct a scanning signal and measurement that are resulted by using an orthogonal detector.例文帳に追加

前記装置は、比較的狭い領域にわたって、レーザ波長の少なくとも１つを走査することができ、直交検出器を使用して、特定の自己補正を、結果として生じる走査信号および測定について行うことを可能とするのに十分な信号データを提供する。 - 特許庁

Supply of a clock signal to functional blocks other than a functional block being an object of current measurement out of a plurality of functional blocks (2A-2D) is stopped, and a built-in self test circuit and a scan circuit are operated in the functional block which is the object of current measurement.例文帳に追加

複数の機能ブロック（２Ａ〜２Ｄ）のうち電流測定対象とされる機能ブロックを除く他の機能ブロックについて上記クロック信号の供給を停止し、且つ、上記電流測定対象とされる機能ブロックにおける上記ビルトインセルフテスト回路と上記スキャン回路とを動作させる。 - 特許庁

To provide a current driven self-luminous display device of an organic EL display device or the like for preventing increase of the number of scan lines even when providing various correction circuits in a transistor driven by current a light emitting element by source follower circuit configuration.例文帳に追加

本発明は、ディスプレイ装置及びディスプレイ装置の駆動方法に関し、例えば有機ＥＬ表示装置等の電流駆動による自発光の表示装置に適用して、ソースフォロワ回路構成により発光素子を電流駆動するトランジスタに各種の補正回路を設けるようにしても、走査線の数の増大を防止することができるようにする。 - 特許庁

To lessen the number of scan lines when providing various correction circuits on a transistor driving by current a light emitting element by a source follower circuit configuration by being applied to a self-luminous display device due to current drive of an organic EL display device or the like, for instance, concerning the display device and a method for driving the display device.例文帳に追加

本発明は、ディスプレイ装置及びディスプレイ装置の駆動方法に関し、例えば有機ＥＬ表示装置等の電流駆動による自発光の表示装置に適用して、ソースフォロワ回路構成により発光素子を電流駆動するトランジスタに各種の補正回路を設ける場合に、走査線の数を少なくすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a polygon mirror assembly capable of effectively absorbing a rotational vibration of polygon mirror by compensating the unbalanced mass distribution of a polygon mirror according to self-compensation principle, and a printing device capable of correcting the linearity of a scanning line to scan a photoreceptive medium by adopting the polygon mirror assembly in the laser scanning unit for a printing machine.例文帳に追加

自己補償原理により多面鏡のアンバランスな質量分布を補償して多面鏡の回転振動を効果的に吸収できるように構造が改善された多面鏡アセンブリの提供、及び改善された多面鏡アセンブリを印刷機のレーザースキャニングユニットに採り入れ、感光媒体に走査される走査線の直線性を補正するように構造が改善された印刷装置を提供する。 - 特許庁