semiconductor specimenとは 意味・読み方・使い方

The detection face of the semiconductor detector array 30 is located near the specimen P to improve position resolution.例文帳に追加

半導体検出器アレイ３０の検出面を被検体Ｐに近接させて位置分解能を改善させる。 - 特許庁

To provide a specimen making method and device for sampling (picking) only a specimen piece including a desired specified region out of semiconductor wafers or device chips and mounting it to the specimen stage of an analyzing/measuring device without the need for a specimen-making manual process requiring experiences, skills and a time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a preparation method of a specimen for observing a defective part of a semiconductor device substrate, which enables the fine defective part of the semiconductor device substrate to be easily specified in a short time, so that a thin specimen suitable for transmission electron microscope observation can be made.例文帳に追加

短時間で容易に、半導体デバイス基板の微小な欠陥部を特定でき、透過形電子顕微鏡観察に適した薄片試料とすることが可能な半導体デバイス基板の欠陥部観察用試料の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system and a method for determining the height of a surface of a specimen such as a height of a semiconductor device wafer.例文帳に追加

半導体デバイス・ウエハの表面のような、試料の表面の高さを決定するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

The energy beam irradiator is provided with an energy beam emitting device 12, a mask stage 22 for holding the stencil mask 6, a specimen stage 2 for holding the semiconductor wafer 4 and a vibration generating mechanism 23 which causes the mask stage 22 and the specimen stage 2 to relatively vibrate.例文帳に追加

エネルギービームの射出装置１２と、ステンシルマスク６を保持するマスクステージ２２と、半導体ウェーハ４を保持する試料ステージ２と、マスクステージ２２と試料ステージ２を相対的に振動させる振動発生機構２３を備えている。 - 特許庁

To provide a specimen preparation device, used for taking out, conveying, and immobilizing, only specimen pieces including desired specific regions from a semiconductor wafer or a device chip, and suited to automation since probe end positioning is facilitated especially in micro-manipulation.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみを摘出、搬送、固定が可能で、特にマイクロマニピュレーションにおけるプローブ先端位置決めを容易にすることで自動化に適した試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detection sensor of the characteristics of a liquid specimen to be detected simple in structure, capable of being miniaturized, having an advantage capable of achieving cost reduction by a semiconductor manufacturing method and capable of detecting the concentration of a substance in the liquid specimen using an extremely small amount of the liquid to be detected.例文帳に追加

構造が簡単で小型化可能、半導体製造法により低コスト化を図ることができる利点を有し、被検体液中の物質濃度等を極微量の被検体液を用い極短時間で検知可能な被検体液特性検知センサを提供する。 - 特許庁

The clear specimen current image can be obtained without including a difference in amplification rate between inputs, and thus measurement efficiency in analyzing defects of semiconductor specimens is improved.例文帳に追加

本発明により、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像を取得でき、半導体試料の不良解析の測定効率を向上できる。 - 特許庁