「semiconductor specimen」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A semiconductor chip 34 serving as a specimen is installed on a cathode electrode 35 in a plasma processing chamber 32.例文帳に追加

試料となる半導体チップ３４を、プラズマ処理室３２のカソード電極３５の上に設置する。 - 特許庁

To provide a semiconductor sensor capable of accurately identifying a specimen, and an identification method using it.例文帳に追加

正確に被検体を同定することができる半導体センサ及びそれを用いた同定方法を提供する。 - 特許庁

The detection face of the semiconductor detector array 30 is located near the specimen P to improve position resolution.例文帳に追加

半導体検出器アレイ３０の検出面を被検体Ｐに近接させて位置分解能を改善させる。 - 特許庁

To provide a specimen making method and device for sampling (picking) only a specimen piece including a desired specified region out of semiconductor wafers or device chips and mounting it to the specimen stage of an analyzing/measuring device without the need for a specimen-making manual process requiring experiences, skills and a time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a preparation method of a specimen for observing a defective part of a semiconductor device substrate, which enables the fine defective part of the semiconductor device substrate to be easily specified in a short time, so that a thin specimen suitable for transmission electron microscope observation can be made.例文帳に追加

短時間で容易に、半導体デバイス基板の微小な欠陥部を特定でき、透過形電子顕微鏡観察に適した薄片試料とすることが可能な半導体デバイス基板の欠陥部観察用試料の作製方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system and a method for determining the height of a surface of a specimen such as a height of a semiconductor device wafer.例文帳に追加

半導体デバイス・ウエハの表面のような、試料の表面の高さを決定するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

The energy beam irradiator is provided with an energy beam emitting device 12, a mask stage 22 for holding the stencil mask 6, a specimen stage 2 for holding the semiconductor wafer 4 and a vibration generating mechanism 23 which causes the mask stage 22 and the specimen stage 2 to relatively vibrate.例文帳に追加

エネルギービームの射出装置１２と、ステンシルマスク６を保持するマスクステージ２２と、半導体ウェーハ４を保持する試料ステージ２と、マスクステージ２２と試料ステージ２を相対的に振動させる振動発生機構２３を備えている。 - 特許庁

To provide a specimen preparation device, used for taking out, conveying, and immobilizing, only specimen pieces including desired specific regions from a semiconductor wafer or a device chip, and suited to automation since probe end positioning is facilitated especially in micro-manipulation.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみを摘出、搬送、固定が可能で、特にマイクロマニピュレーションにおけるプローブ先端位置決めを容易にすることで自動化に適した試料作製装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detection sensor of the characteristics of a liquid specimen to be detected simple in structure, capable of being miniaturized, having an advantage capable of achieving cost reduction by a semiconductor manufacturing method and capable of detecting the concentration of a substance in the liquid specimen using an extremely small amount of the liquid to be detected.例文帳に追加

構造が簡単で小型化可能、半導体製造法により低コスト化を図ることができる利点を有し、被検体液中の物質濃度等を極微量の被検体液を用い極短時間で検知可能な被検体液特性検知センサを提供する。 - 特許庁

The clear specimen current image can be obtained without including a difference in amplification rate between inputs, and thus measurement efficiency in analyzing defects of semiconductor specimens is improved.例文帳に追加

本発明により、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像を取得でき、半導体試料の不良解析の測定効率を向上できる。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for acquiring circuit pattern images or the like of a semiconductor wafer, wherein the apparatus is, in particular, capable of inspecting whole to a part of the specimen at high speed and with high sensitivity.例文帳に追加

本発明は、半導体ウェーハの回路パターン像等を取得する検査装置に関し、特に試料全体から一部分までを高速かつ高感度に検査することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspecting device capable of obtaining an image where information on the noise component caused by discharge generated on a specimen or in a device or the like is removed from a signal component.例文帳に追加

本発明の目的は、試料上や装置内で発生した放電等による雑音成分の情報が信号成分から除去された画像を取得することができる半導体検査装置を提供することである。 - 特許庁

An α-ray measurement device comprises: an elevator capable of adjusting the distance between the measurement specimen and the charged particle incident surface of the semiconductor detector; a position sensor; the control unit 13; and an α-ray discharge amount operation device 40A.例文帳に追加

α線測定装置は、測定試料と半導体検出器の荷電粒子入射面との間の距離を調節可能な昇降機、位置センサ、制御ユニット１３、α線放出量演算装置４０Ａを備える。 - 特許庁

To sample quickly a slice specimen processed for analyzing by observation, instrumental analysis or the like by means of TEM or STEM, a foreign matter or a defect existing on the surface of a semiconductor wafer or the like or inside thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、半導体ウェハ等の表面や内部にある異物や欠陥などをＴＥＭもしくはＳＴＥＭで観察や分析など解析するために加工された薄片試料を迅速に採取することに関する。 - 特許庁

The radiation semiconductor detectors 38 and 39 are moved so that the view filed centers 63a and 64a in the effective view field (the effective view field ends are 63b, 63c, 64b and 64c) fit a specimen center PO, and according to the needs, the radiation semiconductor detectors 38 and 39 are moved for specific distances S1 and S2 (approximately 10 cm).例文帳に追加

放射線半導体検出器３８、３９をその有効視野（有効視野端は６３ｂ、６３ｃ、６４ｂ、６４ｃ）の視野中心６３ａ、６４ａが被検体中心ＰＯに合うように移動させ、必要に応じて、放射線半導体検出器３８、３９を所定距離Ｓ１、Ｓ２（１０ｃｍ程度）だけ移動させる。 - 特許庁

To provide a scanning charged particle beam system, wherein a primary charged particle beam is radiated to an insulating material or a semiconductor sample and a signal obtained from the specimen is detected, by which an electrification phenomenon of the sample is markedly reduced.例文帳に追加

絶縁物、あるいは、半導体試料に一次荷電粒子ビームを照射して試料から得られる信号を検出する走査荷電粒子ビーム装置において、試料の帯電現象を著しく少なくすることができる走査荷電粒子ビーム装置を実現する。 - 特許庁

The vibration generating mechanism 23 causes the mask stage 22 and the specimen stage 2 to relatively vibrate in a plane parallel to the surface of the semiconductor wafer 4 and in the direction in which the plurality of through holes 8 are repeatedly formed with an amplitude of vibration which is equal to an integral multiple of the repetition period of the through holes 8.例文帳に追加

振動発生機構２３は、半導体ウェーハ４の表面に平行な面内で、複数個の貫通孔８が繰返し形成されている方向に、貫通孔８の繰返し周期の整数倍の振幅で、マスクステージ２２と試料ステージ２を相対的に振動させる。 - 特許庁

To provide a radiation detection system and nuclear medicine diagnostic device improving position resolution and collection sensitivity, by arranging a radiation semiconductor detector with concave shape against a specimen close to the heart and collecting corresponding to 90 degree cardiac muscle SPECT.例文帳に追加

本発明は、被検体に対して凹状の放射線半導体検出器をその心臓に近接して配置し、９０゜心筋ＳＰＥＣＴに相当する収集を行うことで、位置分解能や収集感度を向上させる放射線検出システムおよび核医学診断装置を提供する。 - 特許庁

This device is equipped with a capacitor 13 for applying a voltage to the semiconductor radiation detector 14 for detecting a radiation from a specimen, the first constant current means 15 for allowing a charge current to the capacitor 13 to flow, the second constant current means 16 for allowing a discharge current from the capacitor 13 to flow.例文帳に追加

被検体からの放射線を検出する半導体放射線検出器１４に電圧を印加するコンデンサ１３と、コンデンサへ１３の充電電流を通流する第１の定電流手段１５と、コンデンサ１３からの放電電流を通流する第２の定電流手段１６とを備える。 - 特許庁

To provide a solution component sensor excellent in reliability and workability, simple in structure and capable of miniaturizing the whole of a system, capable of being produced using an existing semiconductor manufacturing technique, excellent in mass productivity, and capable of precisely measuring the concentration of a component contained in a specimen liquid in an amount of about 1 ppm, such as ion, sugar, lipid, antibody or antigen, in an extremely short time.例文帳に追加

構造が簡単でシステム全体を小型化することができ、しかも既存の半導体製造技術を利用して製造することができるとともに、量産性に優れ、検体液中に含まれる１ｐｐｍ程度のイオン、糖、脂質、抗体、抗原等の成分の濃度を極短時間で精度よく計測可能な信頼性、作業性に優れた溶液成分センサの提供を目的とする。 - 特許庁